一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法技术

本发明专利技术公开了一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法，包括如下过程：(1)首先进行指标体系划分；(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环，且每个测试节点均设置各自的体系锁；(3)分别从各个不同测试节点开始，同时启动测试线程；(4)测试线程完成当前测试节点的指标体系测试后立即释放体系锁，其他测试线程可对释放的指标体系重新进行锁定测试；(5)各测试线程沿测试序列环的同一个方向依次完成各个指标体系的测试。本发明专利技术所公开的方法将测试资源循环、交错使用，可以实现射频芯片的高速并行测试，在降低软件设计难度的前提下具有极高的硬件资源利用率，并具有开发维护过程便捷、资源成本低等特点。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法
本专利技术涉及一种测试资源调度管理方法，特别涉及一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法。
技术介绍
射频芯片是工业设计、生产过程中较为常用的一类芯片，社会需求量大。为确保芯片指标，芯片在出厂前需要进行详细指标测试，以一款射频功率放大芯片为例，测试指标一般包括输入输出驻波、增益、压缩点、功率、效率等。测试过程中，一般需要多Site并行测试，测试效率要求较高。传统测试一般采用两种方式实现并行测试，第一种方式是多套硬件资源堆砌，单套软件调度，这种方式存在明显的资源浪费问题。第二种方式是单套硬件资源，单套软件实时动态调度，这种方式往往存在软件复杂程度高、维护成本高、测试指标依赖顺序不可控等问题。种种问题导致并行测试难度较大，成本较高。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法，可以实现射频芯片的高速并行测试，并具有开发维护过程便捷、资源成本低等特点。为达到上述目的，本专利技术的技术方案如下：一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法，其特征在于，包括如下过程：/n(1)首先按照射频芯片测试指标所需硬件资源进行指标体系划分，使各个指标体系的硬件之间无耦合；/n(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环，且每个测试节点均设置各自的体系锁；/n(3)分别从各个不同测试节点开始，同时启动测试线程，启动瞬间各个测试线程分别执有当前测试节点的体系锁；/n(4)各测试线程沿测试序列环的同一个方向依次进行各个测试节点的测试，各测试线程完成对当前测试节点的指标体系测试后，立即释放该测试节点的体系锁；下一测试线程获取该测试节点的体系锁后，锁定并完成该测试节点的指标体系测试；否则下一测试线...

【技术特征摘要】
1.一种适用于射频芯片并行测试的测试资源调度管理方法，其特征在于，包括如下过程：
(1)首先按照射频芯片测试指标所需硬件资源进行指标体系划分，使各个指标体系的硬件之间无耦合；
(2)以各个指标体系为测试节点组成测试序列环，且每个测试节点均设置各自的体系锁；
(3)分别从各个不同测试节点开始，同时启动测试线程，启动瞬间各个测试线程分别执有当前测试节点的体系锁；
(4)各测试线程沿测试序列环的同一个方向依次进行各个测试节点的测试，各测试线程完成对当前测试节点的指标体系测试后，立即释放该测试节点的体系锁；下一测试线程获取该测试节点的体系锁后...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐宝令，阎涛，张海庆，乔宏志，徐瑞杰，苗继超，
申请(专利权)人：中电科仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37