【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学检验
中涉及的一种数字扫描光学传递函数测试仪谱面座标标定装置。二、技术背景评价一个光学系统成像质量的好坏,最全面、最准确的是利用光学传递函数测试仪测试光学系统的光学传递函数值。光学传递函数值是否准确,取决于光学传递函数测试仪谱面座标位置标定的是否准确。因此,在检测光学系统成像质量之前,首先要对光学传递函数测试仪的谱面座标进行精确标定。本专利技术之前,对光学传递函数测试仪谱面座标的标定通常用拼凑的松散型装置来进行标定,与本专利技术最为近接的已有技术是中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用的装置,如图1所示,包括测微器、秒表、被标定的光学传递函数测试仪的接口组件。测微器包括测微器1和测微器探头3、秒表2、被标定的光学传递函数测试仪的接口组件包括像分析器扫描狭缝组件4和像分析器5。该装置通过测微器测量像分析器扫描狭缝组件移动距离,用秒表测量扫描狭缝组件移动时间,得到扫描狭缝组件的移动速率,完成光学传递函数测试仪谱面座标位置的标定。该装置由于使用秒表计时是人为控制,存在视听误差,使得对谱面座标位置的标定不准确,因而用这样的光学传递函数测试 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张晓辉,马冬梅,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:
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