一种LED灯具老化冲击与数据采集方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：依据要求设置测试时间段及on与off间隔，在PLC屏幕时间继电器设置工作时间段进行通电on与断电off操作，在T1工作时间段结束后灯具处于通电常亮状态；开始T2工作段的工作数据采集和数据判定，其中，采集灯具的工作电压U、功率P、电流I、功率因素PF，采集中有电流表、电压表P=UI。本发明专利技术的有益效果：鉴于现有技术中存在的不足，本申请采用的一种电脑记录数据与判断的老化手段,通过PLC控制关灯与开灯冲击灯具，常亮状态实时采集存储数据（功率、电流、功率因素）传输电脑中并与规格要求对比判定是否合格，冲击的频率与时间、常亮的时间可以依据自己需求设定。

【技术实现步骤摘要】
一种LED灯具老化冲击与数据采集方法及系统
本专利技术涉及LED灯具老化冲击
，具体来说，涉及一种LED灯具老化冲击与数据采集方法及系统。
技术介绍
电子元器件在前期容易出现故障，LED灯具也存在这样风险，所以灯具都要进行老化测试，目前老化测试仅点亮灯具、无记录数据、需要人员观察判定、手动记录数据的易出错、工作量大等问题，本方案最新采用的一种电脑记录数据与判断的老化手段,通过PLC控制关灯与开灯冲击灯具，常亮状态实时采集存储数据（功率、电流、功率因素）传输电脑中并与规格要求对比判定是否合格,冲击的频率与时间、常亮的时间可以依据自己需求设定。
技术实现思路
针对相关技术中的上述技术问题，本专利技术提出一种LED灯具老化冲击与数据采集方法及系统，能够模拟灯具使用开机与关机时灯具冲击，通过灯具常亮状态下实时采集的灯具参数，并依据设定规格参数判断灯具是否合格。为实现上述技术目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一种LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：S1依据要求设置测试时间段及o本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：/nS1 依据要求设置测试时间段及on与off间隔，在PLC屏幕时间继电器设置工作时间段进行通电on与断电off操作；/nS2 开始T2工作段的数据采集和数据判定，其中，采集灯具的工作电压U、功率P、电流I、功率因素PF，采集中有电流表、电压表 P=UI。/n

【技术特征摘要】
1.一种LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
S1依据要求设置测试时间段及on与off间隔，在PLC屏幕时间继电器设置工作时间段进行通电on与断电off操作；
S2开始T2工作段的数据采集和数据判定，其中，采集灯具的工作电压U、功率P、电流I、功率因素PF，采集中有电流表、电压表P=UI。


2.根据权利要求1所述的LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，所述的S1中进一步包括：
S1.1根据测试要求设定好T1工作时间段，将PLC屏幕时间继电器设置时间为8:00至10:00，进行通电on与断电off测试，在T1工作时间段结束后灯具处于通电常亮状态。


3.根据权利要求1所述的LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，所述的S2中进一步包括：
S2.1基于T1工作时间段结束后灯具进入常亮，T2工作段一边采集数据一边对采集的数据进行判定；
S2.2判定标准设定工作电压为U，设置上限电压U1及下限电压U2；
S2.3判定标准设定功率为P，设置上限功率P1及下限功率P2；
S2.4判定标准设定工作电流I，设置上限电流I1及下限电流I2；
S2.5判定标准设定功率因数PF，设置上限值PF1下限值PF2；
S2.6将数据自动保存在电脑中，数据保存间隔10秒，每隔10秒保存一组数。


4.根据权利要求1所述的LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，所述的S2.1中进一步包括：
S2.1.1基于T2工作段，时间为10:00至12:00，一边采集数据一边对采集的数据进行判定，采集灯具的工作电压U、功率P、电流I、功率因素PF，采集中有电流表、电压表P=UI。


5.根据权利要求1所述的LED灯具老化冲击与数据采集方法，其特征在于，所述的S2.2中进一步包括：
S2.2.1根据设置的上限电压U1及下限电压U2，实测电压若在上限电压U1和下限电压U2之间对应灯具编号在电脑显示绿色圆圈表示合格，若实测电压大于上限电压U1或小于下限电压U2，则...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯夕刚，
申请(专利权)人：烟台辉图电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37