一种微波电场强度的测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种微波电场强度的测量方法及装置，该测量方法将包括：将处于里德堡态的原子设于可感应本地微波电场和待测的信号微波电场的位置，然后利用探测器接收探测光照射所述原子后的设定频段或频率的检测信号，进而可以根据所述检测信号确定所述信号微波电场的强度，本发明专利技术的测量方法是基于量子超外差原理，原理清晰，易于实现与应用，利用里德堡原子作为微波敏感介质，实现对微波电场强度的高灵敏度测量，该方法不仅能显著提高对微波电场强度的测量灵敏度，而且实现了突破了现有的指标，将微波电场测量精度提高一个数量级的目的，从而为微波电场强度的精密测量研究提供新技术基础。

【技术实现步骤摘要】
一种微波电场强度的测量方法及装置
本专利技术涉及微波电场强度测量领域，更具体的，涉及一种微波电场强度的测量方法及装置。
技术介绍
微波电场强度的高灵敏度测量在天文、通信、雷达等领域扮演着重要的角色。目前微波电场强度通常使用天线、电场探头等传统传感器设备进行测量，其探测灵敏度约为1V/m。近几年来，随着量子技术的发展，国际上开始尝试使用量子技术实现微波电场强度高灵敏度测量方法研究。其中基于量子EIT-AT效应的微波电场强度测量方案受限于探测光透明窗口的宽度，探测光窗口的宽度则受到激光线宽、光子散粒噪声以及里德堡原子退相干等因素的影响，很难对极微弱的微波电场实现精密测量。因此，目前亟需一种测量方法，以解决上述问题。
技术实现思路
为了解决上述问题中的至少一个，本专利技术一方面提供了一种微波电场强度的测量方法，将处于里德堡态的原子设于可感应本地微波电场和待测的信号微波电场的位置；利用探测器接收探测光照射所述原子后的设定频段或频率的检测信号，以根据所述检测信号确定所述信号微波电场的强度。进一步的，所述微波电场本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微波电场强度的测量方法，其特征在于，包括：/n将处于里德堡态的原子设于可感应本地微波电场和待测的信号微波电场的位置；/n利用探测器接收探测光照射所述原子后的设定频段或频率的检测信号，以根据所述检测信号确定所述信号微波电场的强度。/n

【技术特征摘要】
1.一种微波电场强度的测量方法，其特征在于，包括：
将处于里德堡态的原子设于可感应本地微波电场和待测的信号微波电场的位置；
利用探测器接收探测光照射所述原子后的设定频段或频率的检测信号，以根据所述检测信号确定所述信号微波电场的强度。


2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述微波电场强度计算公式如下：
|E|＝E本地+E信号cos(Δωt+Δφ)
其中，E本地为本地微波电场幅度，E信号为信号微波电场幅度，Δω为本地微波与信号微波频差，Δφ为本地微波与信号微波相位差，本地微波电场与信号微波电场相位差恒定。


3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，还包括：
根据本地微波电场和待测的信号微波电场的频率生成所述设定频段或频率；或者，还包括：获取所述设定频段或频率。


4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，还包括：
利用耦合光和所述探测光激发设定原子，得到所述原子。


5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述原子为碱原子。


6.一种微波电场强度的测量装置，其特征在于，包括：
原子气室，其中容置有激发至里德堡态的原子，并且所述原子气室处于可感应本地微波电场和待测的信号微波电场的位置；
探测器，接收探测光照射所述原子后的设定频段或频率的检测信号，以根据所述检测信号确定所述信号微波电场的强...

【专利技术属性】
技术研发人员：成永杰，靳刚，黄承祖，刘星汛，齐万泉，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11