电子元件针测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子元件针测装置，包含机架、测试机、旋转测试平台以及探针模块。测试机可沿X方向及垂直X方向的Y方向位移地设置于机架。旋转测试平台可绕沿X方向延伸的转动轴转动地设置于机架，垂直X方向及Y方向为Z方向，旋转测试平台与测试机位于不同的Z方向位置上。探针模块设置于旋转测试平台上。

【技术实现步骤摘要】
电子元件针测装置
本专利技术涉及一种半导体检测的装置。
技术介绍
随着电子产品的普及，电子产品中多仰赖一印刷电路板集成各种电子零组件以提供电子产品的各种功能。而印刷电路板在生产过程中，可能因外在因素而造成短路、断路及漏电等电性上的瑕疵，因此印刷电路板的检测一直以来都是制程中极为重要的一环。而随着电子产品功能的进化及复杂程度的提高，传统单面板(SingleLayerPCB)已无法满足电路布线及电子零组件配置的需求，而布线面积双倍的双面板(DoubleLayerPCB)结构即能满足具有复杂电路布线的产品上。而如何对双面均有布线的双面板进行测试即为当前所必须面对的课题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电子元件针测装置，能够对待测物的双面同时进行针测，且符合特定频率测试的测试信号线的配置。电子元件针测装置包含机架、测试机、旋转测试平台以及探针模块。测试机可沿X方向及垂直X方向的Y方向位移地设置于机架。旋转测试平台可绕沿X方向延伸的转动轴转动地设置于机架，垂直X方向及Y方向为Z方向，旋转测试平台与测试机位于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件针测装置，其特征在于，包含：/n一机架；/n一测试机，能够沿一X方向及垂直所述X方向的一Y方向位移地设置于所述机架；/n一旋转测试平台，能够绕沿所述X方向延伸的一转动轴转动地设置于所述机架，垂直所述X方向及所述Y方向为一Z方向，所述旋转测试平台与所述测试机位于不同的所述Z方向位置上；以及/n一探针模块，设置于所述旋转测试平台上。/n

【技术特征摘要】
20190618 TW 1081211601.一种电子元件针测装置，其特征在于，包含：
一机架；
一测试机，能够沿一X方向及垂直所述X方向的一Y方向位移地设置于所述机架；
一旋转测试平台，能够绕沿所述X方向延伸的一转动轴转动地设置于所述机架，垂直所述X方向及所述Y方向为一Z方向，所述旋转测试平台与所述测试机位于不同的所述Z方向位置上；以及
一探针模块，设置于所述旋转测试平台上。


2.根据权利要求1所述的电子元件针测装置，其特征在于，所述旋转测试平台的相对两侧分别具有一转轴，所述转轴能够转动地设置于所述机架。


3.根据权利要求2所述的电子元件针测装置，其特征在于，更包含一蜗轮及一蜗杆，所述蜗轮连接所述转轴，所述蜗杆与所述蜗轮啮合。


4.根据权利要求2所述的电子元件针测装置，其特征在于，更包含一限止结构，设置于所述转轴，所述限止结构具有一第一平面及一第二平面，在所述转轴转动过程中，所述第一平面及所述第二平面抵靠所述机架，使所述转轴转动范围小于360度。


5.根据权利要求1所述的电子元件针测装置，其特征在于，所述旋转测试平台包含一框体及多个夹持机构，所述框体具有一内周面，所述多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅康晏，罗雅鸿，蔡守仁，顾伟正，
申请(专利权)人：旺矽科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71