一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法技术

一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法，包括以下步骤：(1)采用X射线光电子能谱仪对材料进行特征X射线光电子能谱及价带谱的扫描，得到高分辨的谱图测试特征X射线光电子能谱及价带谱；(2)从所述的测试特征X射线光电子能谱及价带谱谱图上识别出材料中各元素特征峰的位置，并以切线相交方式从步骤(1)检测的价带谱得到材料的测试带隙数值；(3)查阅文献及书籍，得到材料的标准带隙数值；(4)将所述的标准带隙数值减去所述的测试带隙值得到的差值进行移动，得到材料真实的特征X射线光电子能谱。本发明专利技术采用价带谱进行X射线光电子能谱校正，发展了X射线光电子能谱校正的方法，得到了材料真实的特征X射线光电子能谱。

【技术实现步骤摘要】
一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法
本专利技术涉及X射线光电子能谱领域，特别是指一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法。
技术介绍
X射线光电子能谱在材料科学、化学及物理领域具有广泛应用，在评价材料的表面化学、键结构及化学成分等方面不可或缺。据统计，仅去年，已有超过9000篇利用X射线光电子能谱的论文发表。对于X射线光电子能谱的校正方法一般采用材料表面吸附碳的C1s峰位置，其值在284.0-285.6eV之间，一般采用284.6-285.0eV。这种校正方法被广泛应用。但是，表面吸附碳随时间会有成分及含量的变化，导致测试的C1s峰位置随之变化，对校正方法准确性具有严重影响。因此，亟需新的X射线光电子能谱校正方法。材料的带隙宽带决定于材料的内在结构，具有固定的数值，其可由X射线光电子能谱的价带谱测定。对X射线光电子能谱，利用价带谱测得的带隙值进行谱图校正，此方法还未见报道。
技术实现思路
本专利技术提出一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法，以提高X射线光电子能谱校正的准确性。本专利技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n(1)采用X射线光电子能谱仪对材料进行特征X射线光电子能谱及价带谱的扫描，得到高分辨的谱图；/n(2)从步骤(1)检测的谱图上识别出材料中各元素特征峰的位置，并以切线相交方式从步骤(1)检测的价带谱得到材料的测试带隙数值；/n(3)查阅文献及书籍，得到材料的标准带隙数值；/n(4)将所述的标准带隙数值减去所述的测试带隙值得到的差值进行移动，得到材料真实的特征X射线光电子能谱。/n

【技术特征摘要】
1.一种采用价带谱进行X射线光电子能谱校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)采用X射线光电子能谱仪对材料进行特征X射线光电子能谱及价带谱的扫描，得到高分辨的谱图；
(2)从步骤(1)检测的谱图上识别出材料中各元素特征峰的位置，并以切线相交方式从步骤(1)检测的价带谱得到材料的测试带隙数值；...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘建，郝俊英，刘维民，
申请(专利权)人：中国科学院兰州化学物理研究所，青岛市资源化学与新材料研究中心中国科学院兰州化学物理研究所青岛研究发展中心，
类型：发明
国别省市：甘肃;62