用于非破坏性检查粘合线和孔隙率的X射线散射方法和系统技术方案

公开了用于非破坏性检查粘合线的非破坏性检查方法、系统和装置，所述粘合线包括存在于复合基材中和复合基材中的粘合剂材料层中的粘合线，所述方法、系统和装置包括小角度X射线散射阵列。

【技术实现步骤摘要】
用于非破坏性检查粘合线和孔隙率的X射线散射方法和系统
本公开总体上涉及目标结构和基材的亚表面区域的非破坏性测试和非破坏性检查的领域。更具体地，本公开涉及使用小角度X射线后向散射技术来非破坏性检查夹层的特性的领域，所述特性包括例如复合材料层的结合强度。
技术介绍
当前，与某些行业中的粘合复合材料的检查有关的监管准则要求使用破坏测试材料的测试技术。由于包含复合零件的大型结构，例如飞机和其他车辆，必须停运、进行破坏性检查，然后重新加工，才能使飞机重新投入使用，因此这会产生大量费用。用于评估基材的非破坏性检查系统已在工业中发现了实用性，例如，在没有使用大量劳动力或没有部分或全部破坏组件或基材材料的情况下，可能难以进入需要常规维护和检查的各种组件和基材材料。对于要取代目前使用的强制破坏性方法的非破坏性测试方法或系统，非破坏性测试方法必须确保对被检查物体的表面或亚表面的一致可靠且可重复的分析至少等于或超过在破坏性测试中进行的物理确定。
技术实现思路
公开了当前方面、方法、装置和系统的各方面，这些方面涉及使用小角度X射线后向散射技本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于非破坏性检查复合基材的粘合剂材料层中的粘合线的方法(600)，所述方法包括：/n将小角度X射线散射系统(10)定位(602)在复合基材(12)附近，所述复合基材包括插在复合基材第一侧面(11)和复合基材第二侧面(13)之间的粘合剂材料层，所述粘合剂材料层还包括粘合线区域(14a)，其中所述小角度X射线散射系统包括位于所述复合基材第一侧面上的小角度X射线散射系统第一侧面组件，所述小角度X射线散射系统第一侧面组件包括：/nX射线源(18)；/n第一针孔(20)和第二针孔(22)，其与X射线源(18)相距预定距离；/n定位在所述针孔和所述复合基材第一侧面附近的第一真空室(24)；并且/n...

【技术特征摘要】
20190530 US 16/426,0701.一种用于非破坏性检查复合基材的粘合剂材料层中的粘合线的方法(600)，所述方法包括：
将小角度X射线散射系统(10)定位(602)在复合基材(12)附近，所述复合基材包括插在复合基材第一侧面(11)和复合基材第二侧面(13)之间的粘合剂材料层，所述粘合剂材料层还包括粘合线区域(14a)，其中所述小角度X射线散射系统包括位于所述复合基材第一侧面上的小角度X射线散射系统第一侧面组件，所述小角度X射线散射系统第一侧面组件包括：
X射线源(18)；
第一针孔(20)和第二针孔(22)，其与X射线源(18)相距预定距离；
定位在所述针孔和所述复合基材第一侧面附近的第一真空室(24)；并且
其中所述小角度X射线散射系统包括位于所述复合基材第二侧面上的小角度X射线散射系统第二侧面组件，所述复合基材小角度X射线散射系统第二侧面组件包括：
定位在所述复合材料第二侧面附近的第二真空室(26)，所述第二真空室与X射线闪烁器(28)联通；
与X射线闪烁器联通的电荷耦合器件(30)，所述X射线闪烁器包括闪烁层(28a)；
激活(604)所述小角度X射线散射系统以从所述X射线源发射X射线束；
检测(606)在所述闪烁层上的散射X射线；和
基于撞击所述闪烁层的散射X射线生成(608)成像信号。


2.根据权利要求1所述的方法(700)，还包括：
将在所述闪烁层上生成的散射X射线的成像信号发送(702)到成像软件；
生成(704)粘合线图像(46)；和
在显示器(44)上显示(706)所述粘合线图像。


3.根据权利要求2所述的方法，其中所述粘合线图像是二维图像。


4.根据权利要求2或3所述的方法(800)，还包括：
非破坏性检测(802)所述粘合线中存在的异常。


5.一种用于非破坏性检查复合基材的粘合剂材料层的粘合线的方法，其包括：
将小角度X射线散射装置定位在复合材料基材附近，所述复合基材包括粘合剂材料层，所述粘合剂材料层包括粘合线；
将X射线从所述小角度X射线散射装置引导至所述复合基材；
在X射线闪烁器上检测(606)散射的X射线；
生成(608)在所述X射线闪烁器上检测到的散射X射线的成像信号；和
从所述成像信号生成图像；以及
非破坏性检查所述粘合线。


6.一种用于非破坏性检查复合基材的系统(10)，所述复合基材包括复合基材第一侧面、复合基材第二侧面和至少一个粘合剂材料层，所述粘合剂材料层介于复合基材第一侧面和复合基材...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·萨法伊，
申请(专利权)人：波音公司，
类型：发明
国别省市：美国;US