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一种继电器封装检验工装制造技术

技术编号:26758597 阅读:21 留言:0更新日期:2020-12-18 22:24
本发明专利技术公开了一种继电器封装检验工装,包括支架、继电器固定机构、底座、一维数控平台、第一、第二传感器及三维调整机构等;其中,支架与底座垂直,底座下表面固定安装防滑脚垫,支架两侧固定安装继电器夹具,支架与继电器夹具之间形成闭合空间,一维数控平台由精密滚珠丝杠、滚珠直线导轨、直线光栅位移传感器、位置检测开关等组成,第一传感器的一侧及下方固定安装隔离挡板,第二传感器与第一传感器的探针方向成直角,分线盒配置有分线盒输出端、分线盒输入端,位移传感器的一端伸出多芯同轴线,平台支撑柱连接三维调节机构上方的位移传感器与下方的支撑平台。本发明专利技术提升了继电器封装检验效率,保证继电器的品质,降低了产品不良率。

【技术实现步骤摘要】
一种继电器封装检验工装
本专利技术属于继电器检测设备
,具体是涉及一种继电器封装检验工装。
技术介绍
继电器是一种电子控制器件,它具有控制系统和被控制系统之间的互动关系,是一种用小电流去控制大电流运作的“自动开关”,通常应用于自动化的控制电路中,在电路中起自动调节、安全保护、转换电路等作用。微光夜视、红外热像仪产品控制电路中几乎都用到继电器。目前通常采用的一种继电器校验方法,使用同型号的继电器基座配合继电保护测试仪进行校验。这需要多次改变接线和继电保护测试仪相关测试功能设置才能实现,整个过程中重复接线和设置工作耗费大量时间并带来安全风险。所以,在现有测试设备的基础上,设计一种减少传统继电器校验工作量和工作时间并实现继电器封装校验的辅助装置对改进传统继电器校验方法具有现实意义。继电器封装的功能在于提供继电器足够的保护,防止继电器在空气中长期暴露或机械损伤而失效,以提高继电器的稳定性;对于继电器封装,还需要良好的散热性,好的封装可以让继电器具备更好的工作效率和散热环境,进而提升继电器的使用寿命。在继电器封装的过程中可能导致继电器产品的损坏,如封装后出现裂纹、焊接失效、金属断裂等等。这一系列问题如果不及时发现、及时处理,生产出来的将是残次品。此外,由于继电器的结构尺寸、衔铁位移以及力等参数均较小,测试难度较大。目前国内外仍停滞在较简单的手工测试水平上,测试精度和效率均较低,且不能进行数据的自动分析和处理。设计一种满足继电器封装检验要求的专用装置是提高继电器封装检验水平的必然技术途径。专利技术内容本专利技术的主要目的在于提供一种继电器封装检验工装,可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的,本专利技术采取的技术方案为:本专利技术公开了一种继电器封装检验工装,包括支架、继电器固定机构、底座、一维数控平台、第一、第二传感器及三维调整机构等;其中,支架分上下两部分,上半部分为板状,下半部分为楔形,支架垂直于检验平台的表面;底座的上表面接于支架的下半部分,底座垂直于支架,底座的下表面固定安装防滑脚垫,防滑脚垫置于底座的下表面的边角处,防滑脚垫为吸盘状附着于检验平台的表面;继电器夹具从支架的上半部分的两侧边线处伸出,支架的上半部分的两侧固定安装继电器夹具,支架与继电器夹具之间形成闭合空间;一维数控平台由精密滚珠丝杠、滚珠直线导轨、直线光栅位移传感器、位置检测开关、联轴器和驱动平台组成,精密滚珠丝杠与滚珠直线导轨的表面正对于支架与继电器夹具之间形成的闭合空间;第一传感器的探针指向于支架与继电器夹具之间形成闭合空间,第一传感器的一侧及下方固定安装隔离挡板,第一传感器下方的隔离挡板与继电器夹具的外围相接;第二传感器的探针方向与第一传感器的探针方向成直角,且第二传感器的探针指向第一传感器的一侧隔离挡板的方向;分线盒位于一维数控平台及底座之间,分线盒上配置有分线盒输出端、分线盒输入端,分线盒输出端及分线盒输入端上设有多芯插头的接口;位移传感器与第一传感器下方的隔离挡板相接,位移传感器与继电器夹具位于第一传感器下方的隔离挡板的两侧,位移传感器的一端伸出多芯同轴线;三维调节机构位于位移传感器的下方,三维调节机构的中部为中空,三维调节机构的中部通过平台支撑柱,平台支撑柱连接三维调节机构上方的位移传感器与下方的支撑平台,三维调节机构的末端还设有三维调节机构旋钮。进一步地,一维数控平台的一侧连接X光无损检验设备,X光无损检验设备内置有X光管、图像增强器,X光无损检验设备配备滚珠丝杆。进一步地,第一传感器、第二传感器固定于一维数控平台上,第一传感器的量程规格为—10N至+10N,第二传感器的量程规格为—100N至+100N。进一步地,继电器夹具与支架通过卡槽与旋钮固定,支架与继电器夹具之间形成的闭合空间的上部安装挡板。进一步地,分线盒设置9芯插头和12芯插头的接口,分线盒的背侧设置9芯同轴线、4芯位移传感器、两个4芯力传感器,位移传感器、第一传感器共同接入12芯插头。进一步地,三维调节机构的下方设置三层的支撑平台,每层的支撑平台之间通过平台支撑柱连接,三维调节机构与相邻的支撑平台通过高度调节立柱连接。进一步地,防滑脚垫共有四个,最下层的支撑平台下方的两个防滑脚垫与支撑平台下方的平台支撑柱之间贯通连接。进一步地,底座上沿横向及纵向上均匀分布有圆形或多边形的通孔。与现有技术相比,本专利技术具有如下有益效果:一、节约资金、提高设备利用率通过对电磁继电器封装检验工装的开发研究,本专利技术提高了电磁继电器检验自动化程度,通过一维数控平台、三维调节机构及多层支撑平台等配置实现自动化,能够进行多角度及全方位的检测,从而保护了继电器外形及管脚,检验数据准确,避免人工检验掰开管脚、接触不可靠、检验效率低下等缺陷。增加了电磁继电器测试系统检验种类,减少适配器购置成本。二、节约检验时间,提高产品质量本专利技术采用高精度力传感器,具体为大、小两个力传感器,可以便于测量继电器的封装效果及其牢固程度,加之配备了X光无损检验设备,适用于封装后的继电器,通过X射线的透视成像进行检验和分析内部结构,可人工或自动判断良品还不良品,让缺陷无处遁形。该X光无损检验设备可自动记录检测运动路径,定位准确,方便小批量重复检测,载物台固定,X光管、图像增强器三轴运动速度可控,运动装置配备滚珠丝杆,与一维数控平台实现同步驱动,使运动更加平滑、稳定。解决了继电器封装后内部结构的分析难题,降低了产品不良率,提升了产品品质。附图说明本申请的示意性实施例、附图及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1为本专利技术的整体结构示意图;图2为本专利技术的前视图;图3为本专利技术的后视图;图4为本专利技术的上视图;图5为本专利技术的右视图;图6为本专利技术中位移传感器的局部放大示意图;图7为本专利技术中一维数控平台的局部放大示意图;其中,上述附图包括以下附图标记:1、支架;2、被测继电器;3、第一传感器;4、第二传感器;5、隔离挡板;6、位移传感器;7、三维调节机构;8、底座;9、分线盒;10、一维数控平台;11、继电器夹具;12、防滑脚垫;101、精密滚珠丝杠;102、滚珠直线导轨;103、位置检测开关;104、直线光栅位移传感器;105、联轴器;106、驱动平台;107、分线盒输出端;13、多芯同轴线;14、高度调节立柱;15、平台支撑柱;16、支撑平台;71、三维调节机构旋钮;91、分线盒输入端。具体实施方式为使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本专利技术,但不仅限于以下实施例中的实施方式。实施例一:如图1-7所示,本实施例提供了一种继电器封装检验工装,包括:支架1分上下两部分,上半部分为板状,下半部分为楔形,支架1垂直于检验平台的表面;底座8的上表面接于支架1的下半部分,底座8垂直于支架1,底座8的下表面固定安装防滑脚垫12,防滑脚垫12置本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种继电器封装检验工装,其特征在于,包括:/n支架(1),所述支架(1)分上下两部分,上半部分为板状,下半部分为楔形,所述支架(1)垂直于检验平台的表面;/n底座(8),所述底座(8)的上表面接于所述支架(1)的下半部分,所述底座(8)垂直于所述支架(1),所述底座(8)的下表面固定安装防滑脚垫(12),所述防滑脚垫(12)置于所述底座(8)的下表面的边角处,所述防滑脚垫(12)为吸盘状附着于所述检验平台的表面;/n继电器夹具(11),所述继电器夹具(11)从所述支架(1)的上半部分的两侧边线处伸出,所述支架(1)的上半部分的两侧固定安装继电器夹具(11),所述支架(1)与所述继电器夹具(11)之间形成闭合空间;/n一维数控平台(10),所述一维数控平台(10)由精密滚珠丝杠(101)、滚珠直线导轨(102)、直线光栅位移传感器(104)、位置检测开关(103)、联轴器(105)和驱动平台(106)组成,所述精密滚珠丝杠(101)与所述滚珠直线导轨(102)的表面正对于所述支架与所述继电器夹具(11)之间形成的闭合空间;/n第一传感器(3),所述第一传感器(3)的探针指向于所述支架(1)与所述继电器夹具(11)之间形成闭合空间,所述第一传感器(3)的一侧及下方固定安装隔离挡板(5),所述第一传感器(3)下方的隔离挡板(5)与所述继电器夹具(11)的外围相接;/n第二传感器(4),所述第二传感器(4)的探针方向与所述第一传感器的探针方向成直角,且所述第二传感器(4)的探针指向所述第一传感器(3)的一侧隔离挡板(5)的方向;/n分线盒(9),所述分线盒(9)位于所述一维数控平台(10)及所述底座(8)之间,所述分线盒(9)上配置有分线盒输出端(107)、分线盒输入端(91),所述分线盒输出端(107)及所述分线盒输入端(91)上设有多芯插头的接口;/n位移传感器(6),所述位移传感器(6)与所述第一传感器(3)下方的隔离挡板(5)相接,所述位移传感器(6)与所述继电器夹具(11)位于所述第一传感器(3)下方的隔离挡板(5)的两侧,所述位移传感器(6)的一端伸出多芯同轴线(13);/n三维调节机构(7),所述三维调节机构(7)位于所述位移传感器(6)的下方,所述三维调节机构(7)的中部为中空,所述三维调节机构(7)的中部通过平台支撑柱(15),所述平台支撑柱(15)连接所述三维调节机构(7)上方的所述位移传感器(6)与下方的支撑平台(16),所述三维调节机构(7)的末端还设有三维调节机构旋钮(71)。/n...

【技术特征摘要】
1.一种继电器封装检验工装,其特征在于,包括:
支架(1),所述支架(1)分上下两部分,上半部分为板状,下半部分为楔形,所述支架(1)垂直于检验平台的表面;
底座(8),所述底座(8)的上表面接于所述支架(1)的下半部分,所述底座(8)垂直于所述支架(1),所述底座(8)的下表面固定安装防滑脚垫(12),所述防滑脚垫(12)置于所述底座(8)的下表面的边角处,所述防滑脚垫(12)为吸盘状附着于所述检验平台的表面;
继电器夹具(11),所述继电器夹具(11)从所述支架(1)的上半部分的两侧边线处伸出,所述支架(1)的上半部分的两侧固定安装继电器夹具(11),所述支架(1)与所述继电器夹具(11)之间形成闭合空间;
一维数控平台(10),所述一维数控平台(10)由精密滚珠丝杠(101)、滚珠直线导轨(102)、直线光栅位移传感器(104)、位置检测开关(103)、联轴器(105)和驱动平台(106)组成,所述精密滚珠丝杠(101)与所述滚珠直线导轨(102)的表面正对于所述支架与所述继电器夹具(11)之间形成的闭合空间;
第一传感器(3),所述第一传感器(3)的探针指向于所述支架(1)与所述继电器夹具(11)之间形成闭合空间,所述第一传感器(3)的一侧及下方固定安装隔离挡板(5),所述第一传感器(3)下方的隔离挡板(5)与所述继电器夹具(11)的外围相接;
第二传感器(4),所述第二传感器(4)的探针方向与所述第一传感器的探针方向成直角,且所述第二传感器(4)的探针指向所述第一传感器(3)的一侧隔离挡板(5)的方向;
分线盒(9),所述分线盒(9)位于所述一维数控平台(10)及所述底座(8)之间,所述分线盒(9)上配置有分线盒输出端(107)、分线盒输入端(91),所述分线盒输出端(107)及所述分线盒输入端(91)上设有多芯插头的接口;
位移传感器(6),所述位移传感器(6)与所述第一传感器(3)下方的隔离挡板(5)相接,所述位移传感器(6)与所述继电器夹具(11)位于所述第一传感器(3)下方的隔离挡板(5)的两侧,所述位移传感器(6)的一端伸出多芯同轴线(13);
三维调节机构(7),所述三维调节机构(7)位...

【专利技术属性】
技术研发人员:马新国
申请(专利权)人:马新国
类型:发明
国别省市:河北;13

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