微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质。该方法包括：获取微型LED阵列在正常工作下的最低平均温度和最高平均温度；根据最低平均温度下的发光光谱确定在最低平均温度和预设最高温度之间多个测试温度对应的光谱参数；根据光谱参数确定对应的每个测试温度下与最低平均温度下微型LED阵列显示的色差，并建立色差与温度之间的对应关系；根据对应关系以及最高平均温度对微型LED阵列的热稳定性进行判定。本发明专利技术实施例所提供的技术方案，实现了简单并准确的对微型LED阵列的热稳定性进行分析，节约了研究时间并降低了研究成本。

【技术实现步骤摘要】
微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质
本专利技术实施例涉及LED显示
，尤其涉及一种微型LED阵列热稳定性判定方法、装置、计算机设备及介质。
技术介绍
Micro-LED，即将发光二极管(LightEmittingDiode，LED)芯片的尺寸缩小到微米级别，每颗像素仅由红绿蓝三颗芯片组成，实现像素独立寻址控制具备更好的色彩精度、更高的色彩饱和度、更长的使用寿命以及更低的功耗等等，具有很大的发展前景。温度是评估LED显示器性能的重要参数之一，在芯片数量众多的Micro-LED显示器中更为重要。对于LED而言，通常有85％～90％的功率作为热量损失掉，如果器件散热不充分则会导致LED结温升高，进而影响LED器件可靠性。特别针对Micro-LED来说，一方面，随着LED芯片尺寸越来越小，侧壁引起的表面复合和非辐射复合逐渐成为主要热量来源，另一方面，随着LED芯片数量的增加会产生更多的热量，众多热量源聚集也会引起许多问题。因此，对LED的热稳定性分析是技术发展期间必不可少的关键研究之一。通过红外热成像来分析LED表面的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微型LED阵列热稳定性判定方法，其特征在于，包括：/n获取微型LED阵列在正常工作下的最低平均温度和最高平均温度；/n根据所述最低平均温度下的发光光谱确定在所述最低平均温度和预设最高温度之间多个测试温度对应的光谱参数；/n根据所述光谱参数确定对应的每个所述测试温度下与所述最低平均温度下所述微型LED阵列显示的色差，并建立色差与温度之间的对应关系；/n根据所述对应关系以及所述最高平均温度对所述微型LED阵列的热稳定性进行判定。/n

【技术特征摘要】
1.一种微型LED阵列热稳定性判定方法，其特征在于，包括：
获取微型LED阵列在正常工作下的最低平均温度和最高平均温度；
根据所述最低平均温度下的发光光谱确定在所述最低平均温度和预设最高温度之间多个测试温度对应的光谱参数；
根据所述光谱参数确定对应的每个所述测试温度下与所述最低平均温度下所述微型LED阵列显示的色差，并建立色差与温度之间的对应关系；
根据所述对应关系以及所述最高平均温度对所述微型LED阵列的热稳定性进行判定。


2.根据权利要求1所述的微型LED阵列热稳定性判定方法，其特征在于，所述根据所述光谱参数确定对应的每个所述测试温度下与所述最低平均温度下所述微型LED阵列显示的色差，包括：
根据所述光谱参数确定对应的每个所述测试温度下的第一色坐标；
根据所述发光光谱确定所述最低平均温度下的第二色坐标；
根据所述第一色坐标与所述第二色坐标确定对应的每个所述测试温度下与所述最低平均温度下所述微型LED阵列显示的色差。


3.根据权利要求2所述的微型LED阵列热稳定性判定方法，其特征在于，所述根据所述光谱参数确定对应的每个所述测试温度下的第一色坐标，包括：
根据所述光谱参数确定对应的每个所述测试温度下的CIE1931色坐标；
将所述CIE1931色坐标转换为CIE1976色坐标，并将所述CIE1976色坐标确定为所述第一色坐标。


4.根据权利要求1所述的微型LED阵列热稳定性判定方法，其特征在于，所述根据所述对应关系以及所述最高平均温度对所述微型LED阵列的热稳定性进行判定，包括：
根据所述对应关系以及预设色差阈值确定温度阈值；
根据所述温度阈值以及所述最高平均温度对所述微型LED阵列的热稳定性进行判定。
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘召军，冯玚，卢博，
申请(专利权)人：南方科技大学，
类型：发明
国别省市：广东;44