圆形切边物体的测量方法及测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术设计的一种圆形切边物体的测量装置，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定杆，固定杆上套有千分表，千分表沿固定杆上下滑动，千分表的测针对准挡块方向，千分表远离测针的一侧设有一平台，平台高度与测针一致，测量装置还包括高度规，高度规测量千分表平台与底板之间的高度差，高度差即为所需测量的A尺寸，本发明专利技术便于测量，进而便于调机和管控，节约了时间和人力成本。

【技术实现步骤摘要】
圆形切边物体的测量方法及测量装置
本专利技术涉及测量器材领域，具体涉及一种圆形切边物体的测量方法及测量装置。
技术介绍
目前，圆形切边物体的A尺寸(见图1)难以直接测量，只能通过投影设备找到物体圆心坐标再测量到直边的距离；或间接测量B尺寸(见图1)判定是否为良品，无法将A尺寸量化。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本专利技术提供了一种圆形切边物体的测量方法及测量装置。本专利技术所采用的技术方案是：一种圆形切边物体的测量方法，包括以下步骤：S1、固定待测物体，先将待测物体的待测面置于底板上，随后将待测物体靠在底板上表面的挡块上；S2、调节固定杆上千分表的位置，固定杆固定在底板的上表面，千分表在固定杆上上下滑动，千分表的测针对准待测物体；S3、千分表的后侧设有一高度与千分表的测针一致的平台，千分表在其读数最大时在固定杆上停止不动；S4、使用高度规测量千分表平台与底板间的高度差即为待测尺寸。一种圆形切边物体的测量装置，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种圆形切边物体的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、固定待测物体，先将待测物体的待测面置于底板上，随后将待测物体靠在底板上表面的挡块上；/nS2、调节固定杆上千分表的位置，固定杆固定在底板的上表面，千分表在固定杆上上下滑动，千分表的测针对准待测物体；/nS3、千分表的后侧设有一高度与千分表的测针一致的平台，千分表在其读数最大时在固定杆上停止不动；/nS4、使用高度规测量千分表平台与底板间的高度差即为待测尺寸。/n

【技术特征摘要】
1.一种圆形切边物体的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、固定待测物体，先将待测物体的待测面置于底板上，随后将待测物体靠在底板上表面的挡块上；
S2、调节固定杆上千分表的位置，固定杆固定在底板的上表面，千分表在固定杆上上下滑动，千分表的测针对准待测物体；
S3、千分表的后侧设有一高度与千分表的测针一致的平台，千分表在其读数最大时在固定杆上停止不动；
S4、使用高度规测量千分表平台与底板间的高度差即为待测尺寸。


2.一种圆形切边物体的测量装置，其特征在于，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定杆，固定杆上套有千分表，千分表沿固定杆上下滑动，千分表的测针对准挡块...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜绪木，白宇轩，仝海，王杰，谢飞，
申请(专利权)人：南京迈得特光学有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32