圆形切边物体的测量方法及测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术设计的一种圆形切边物体的测量装置，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定杆，固定杆上套有千分表，千分表沿固定杆上下滑动，千分表的测针对准挡块方向，千分表远离测针的一侧设有一平台，平台高度与测针一致，测量装置还包括高度规，高度规测量千分表平台与底板之间的高度差，高度差即为所需测量的A尺寸，本发明专利技术便于测量，进而便于调机和管控，节约了时间和人力成本。

【技术实现步骤摘要】
圆形切边物体的测量方法及测量装置
本专利技术涉及测量器材领域，具体涉及一种圆形切边物体的测量方法及测量装置。
技术介绍
目前，圆形切边物体的A尺寸(见图1)难以直接测量，只能通过投影设备找到物体圆心坐标再测量到直边的距离；或间接测量B尺寸(见图1)判定是否为良品，无法将A尺寸量化。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本专利技术提供了一种圆形切边物体的测量方法及测量装置。本专利技术所采用的技术方案是：一种圆形切边物体的测量方法，包括以下步骤：S1、固定待测物体，先将待测物体的待测面置于底板上，随后将待测物体靠在底板上表面的挡块上；S2、调节固定杆上千分表的位置，固定杆固定在底板的上表面，千分表在固定杆上上下滑动，千分表的测针对准待测物体；S3、千分表的后侧设有一高度与千分表的测针一致的平台，千分表在其读数最大时在固定杆上停止不动；S4、使用高度规测量千分表平台与底板间的高度差即为待测尺寸。一种圆形切边物体的测量装置，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定杆，固定杆上套有千分表，千分表沿固定杆上下滑动，千分表的测针对准挡块方向，千分表远离测针的一侧设有一平台，平台高度与测针一致，测量装置还包括高度规，高度规测量千分表平台与底板之间的高度差。作为优选，千分表与固定杆之间设有滑动锁止装置，千分表在固定杆上停止滑动后即可锁止不动。作为优选，将千分表替换为高精度光学测距仪，并用电控使测距仪沿固定杆上下移动，使用传感器代替高度规自动感应测距仪高度位置，该位置即为待测尺寸。本专利技术的有益效果是：本专利技术设计的一种圆形切边物体的测量装置，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定杆，固定杆上套有千分表，千分表沿固定杆上下滑动，千分表的测针对准挡块方向，千分表远离测针的一侧设有一平台，平台高度与测针一致，测量装置还包括高度规，高度规测量千分表平台与底板之间的高度差，高度差即为所需测量的A尺寸，本专利技术便于测量，进而便于调机和管控，节约了时间和人力成本。附图说明图1是
技术介绍
所需要测量尺寸的示意图；图2是本专利技术测量装置的示意图。图中：1、底板；2、挡块；3、待测物体；4、固定杆；5、千分表；6、高度规；7、平台。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，除非另有规定和限定，需要说明的是，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。如图1所示，一种圆形切边物体的测量方法及测量装置，包括以下步骤：S1、固定待测物体，先将待测物体的待测面置于底板上，随后将待测物体靠在底板上表面的挡块上；S2、调节固定杆上千分表的位置，固定杆固定在底板的上表面，千分表在固定杆上上下滑动，千分表的测针对准待测物体；S3、千分表的后侧设有一高度与千分表的测针一致的平台，千分表在其读数最大时在固定杆上停止不动；S4、使用高度规测量千分表平台与底板间的高度差即为待测尺寸A。一种圆形切边物体的测量装置，包括底板1，底板1上表面一侧设有挡块2，底板1的上表面还设有固定杆4，固定杆4上套有千分表5，千分表5沿固定杆4上下滑动，千分表5的测针对准挡块2方向，千分表5远离测针的一侧设有一平台7，平台7高度与测针一致，测量装置还包括高度规6，高度规6测量千分表平台7与底板1之间的高度差。作为优选，测量装置还设有电子读数装置，电子读数装置的屏幕显示测针读数和测针的高度，测针高度即千分表平台的高度。作为优选，千分表5与固定杆4之间设有滑动锁止装置，千分表5在固定杆4上停止滑动后即可锁止不动。作为优选，本专利技术可切换高精度模式，将千分表替换为高精度光学测距仪，并用电控使测距仪沿固定杆上下移动，使用传感器代替高度规自动感应测距仪高度位置，该位置即为待测尺寸。本专利技术的有益效果是：本专利技术设计的一种圆形切边物体的测量装置，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定杆，固定杆上套有千分表，千分表沿固定杆上下滑动，千分表的测针对准挡块方向，千分表远离测针的一侧设有一平台，平台高度与测针一致，测量装置还包括高度规，高度规测量千分表平台与底板之间的高度差，高度差即为所需测量的A尺寸，本专利技术便于测量，进而便于调机和管控，节约了时间和人力成本。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本专利技术的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种圆形切边物体的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、固定待测物体，先将待测物体的待测面置于底板上，随后将待测物体靠在底板上表面的挡块上；/nS2、调节固定杆上千分表的位置，固定杆固定在底板的上表面，千分表在固定杆上上下滑动，千分表的测针对准待测物体；/nS3、千分表的后侧设有一高度与千分表的测针一致的平台，千分表在其读数最大时在固定杆上停止不动；/nS4、使用高度规测量千分表平台与底板间的高度差即为待测尺寸。/n

【技术特征摘要】
1.一种圆形切边物体的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、固定待测物体，先将待测物体的待测面置于底板上，随后将待测物体靠在底板上表面的挡块上；
S2、调节固定杆上千分表的位置，固定杆固定在底板的上表面，千分表在固定杆上上下滑动，千分表的测针对准待测物体；
S3、千分表的后侧设有一高度与千分表的测针一致的平台，千分表在其读数最大时在固定杆上停止不动；
S4、使用高度规测量千分表平台与底板间的高度差即为待测尺寸。


2.一种圆形切边物体的测量装置，其特征在于，包括底板，底板上表面一侧设有挡块，底板的上表面还设有固定杆，固定杆上套有千分表，千分表沿固定杆上下滑动，千分表的测针对准挡块...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜绪木，白宇轩，仝海，王杰，谢飞，
申请(专利权)人：南京迈得特光学有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32