光波导路模块制造技术

提供了一种光波导路模块。在平面波导型光路（１）中，在横切光波导路（２↓［ｎ］）形成的斜沟（３）的内侧设置反射滤波器（４）。而且，通过用光检测器阵列（６０）的光检测器（６１↓［ｎ］）检测来自反射滤波器（４）的反射光，监视信号光的光强度。又，关于光检测器（６１↓［ｎ］），形成在光路（１）的上面侧设置副安装基片（７０），由对光路（１）的上面倾斜角度α（０°＜α＜９０°）的光检测器载置面（７１）保持光检测器阵列（６０），已预定角度φ使来自反射滤波器（４）的反射光入射到光检测器阵列（６０）的光检测器（６１↓［ｎ］）的光入射面（６３）的构成。因此，能够实现与信号光的偏振状态无关，可以正确地监视光强度的光波导路模块。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及具有设置在基片上的光波导路的光波导路模块。
技术介绍
在用光纤或平面光波导路等的光波导路的光路中，存在着希望使沿各光波导路传输的信号光的光强度保持恒定等，将信号光的光强度控制在适当值的情形。在这种情形中，在光路中监视信号光的光强度，或者进一步，根据监视的结果控制光强度。在上述信号光的光强度的监视器中，至今，都用在光波导路上设置光耦合器分离出一部分信号光的方法。在该方法中，通过在光波导路上的预定位置上设置光耦合器分离出约百分之几的信号光，通过用光检测器监视分离出来的光的光强度，对沿该光波导路传输的信号光的光强度进行监视。但是，在这样地使用光耦合器的情形中，除了构成光路的光学部件的数量增加外，还存在着因为需要熔接它们，所以使光路的构成和制造步骤复杂化那样的问题。对此，提出了不用光耦合器，通过反射取出一部分信号光，监视光强度的方法。在这种监视方法中，例如，在平面波导型光路中的光波导路上的预定位置上，沿光波导路传输的信号光的一部分被反射到对光轴只倾斜预定角度的方向上作为用于监视的反射光。而且，通过用设置在形成光波导路的基片上的光检测器检测该反射光，对信号光进行监视。但是，在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光波导路模块，其特征在于备有：包含基片、和设置在上述基片上的光波导路而构成，并具有为了横切上述光波导路的预定部位，对与上述光波导路的光轴正交的垂直轴倾斜预定的倾斜角θ（０°＜θ）地形成的沟的光路、在上述光路的上述沟的内侧 包含沿上述光波导路传输的信号光通过的部位地设置的、以预定反射率反射一部分上述信号光的反射滤波器、和检测由上述反射滤波器反射上述信号光而产生的反射光的光检测器；上述光检测器是使上述反射光以预定角度入射到其光入射面地设置的。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：小宫健雄，佐佐木隆，藤村康，胜山造，山林直之，
申请(专利权)人：住友电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]