化工装置控制回路性能定量评估方法、机器可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种化工装置控制回路性能定量评估方法，该方法包括：采集各控制回路的历史数据参数；根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的：自控率、准确率、稳定率和/或响应率；根据计算得到的自控率、所述准确率、稳定率和/或所述响应率确定控制回路的性能评估结果；历史数据参数包括：控制回路的测量值、设定值和模式值数量。通过根据统计时间段内采集到的各控制回路的历史数据参数分别计算各控制回路的自控率、准确率、稳定率和/或响应率，根据计算得到的自控率、准确率、稳定率和/或响应率确定控制回路的性能评估结果，可以为各控制回路的运行状态提供具体的评估数据，同时为各控制回路的风险预测提供重要条件。

【技术实现步骤摘要】
化工装置控制回路性能定量评估方法、机器可读存储介质
本专利技术涉及控制回路性能评估，具体地涉及一种化工装置控制回路性能定量评估方法、机器可读存储介质。
技术介绍
控制回路作为化工生产过程的基本控制单元，其运行性能直接影响着生产效率、生产稳定、乃至生产安全等方面，当发生扰动时，常规控制回路能够自动进行调整并消除，如果控制回路自动调节失效，就必须由操作员进行人工干预、如果干预不成功，则易造成停车及事故的发生等。而最理想的状态，就是通过控制回路的自动调节能力自动消除各类扰动。由于控制阀门卡滞、传感单元失灵、外部频繁扰动、控制策略不合理、PID参数设置不合理、工艺差和过程控制设计差等因素造成控制回路性能低下，严重时只能手动控制，影响装置的自控投用率。控制回路性能低下带来以下不良后果：引起控制阀的频繁动作，增加动力驱动费用、减少使用寿命、增加维护费用；装置抗干扰能力不足，不能及时调整非正常工况，大幅波动产生大量无效报警，影响装置平稳性；影响装置的卡边操作与生成，不能达到最优生产环境，不利于精细化管理。因此，控制回路的性能就变得非常重要，直接关系到本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种化工装置控制回路性能定量评估方法，其特征在于，该方法包括：/n采集各控制回路的历史数据参数；/n根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的：自控率、准确率、稳定率和/或响应率；/n根据计算得到的所述自控率、所述准确率、所述稳定率和/或所述响应率确定控制回路的性能评估结果；/n其中，所述历史数据参数包括：控制回路的测量值、设定值和模式值数量。/n

【技术特征摘要】
1.一种化工装置控制回路性能定量评估方法，其特征在于，该方法包括：
采集各控制回路的历史数据参数；
根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的：自控率、准确率、稳定率和/或响应率；
根据计算得到的所述自控率、所述准确率、所述稳定率和/或所述响应率确定控制回路的性能评估结果；
其中，所述历史数据参数包括：控制回路的测量值、设定值和模式值数量。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路自控率包括根据以下公式计算所述自控率：






其中，Ao_pro表示某一控制回路的投自控率，A_pro表示所有控制回路的投自控率，m表示某个控制回路统计时间段内模式值为自动模式的个数，n表示某一控制回路统计时间段内采集数据的个数，z表示所有控制回路的个数。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的准确率包括根据以下公式计算所述准确率：






其中，So_Index表示某一控制回路的准确率，S_Index表示所有控制回路的准确率，PV(i)表示控制回路的某一时刻的测量值，SP(i)表示控制回路的某一时刻的设定值，n表示某一控制回路统计时间段内采集数据的个数。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据统计时间段内采集到的历史数据参数计算各控制回路的稳定率包括根据以下公式计算所述稳定率：






其中，Po_Index表示某一控制回路的稳定率，P_Index表示所有控制回路的稳定率，PV(i)表示控制回路的某一时...

【专利技术属性】
技术研发人员：高新江，王春利，李传坤，韩华伟，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11