一种基于近场微波的非接触高频微小振动信号测量方法技术

本发明专利技术涉及无损检测与微波测试领域，具体涉及一种基于近场微波的非接触高频微小振动信号测量方法，其特征是：至少包括：微波信号源、激励源、微小振动样品单元、计算处理单元和微波测量单元，由计算处理单元输出控制信号控制激励源产生激励信号，激励源产生的激励信号输出至微小振动样品单元的金属片上，激励金属片产生相应频率的振动信号并向外传播；微波信号源产生高频的微波信号给微波测量单元，由微波测量单元获取金属片携带的振动信号进行定量表征，给出高频微小振动信号。它能够完整的对相对速度较低的信号进行调制，能够保证整体的振动信号测量具有完整性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于近场微波的非接触高频微小振动信号测量方法
本专利技术涉及无损检测与微波测试领域，具体涉及一种基于近场微波的非接触高频微小振动信号测量方法。
技术介绍
基于超声波的无损检测技术在弹性测量、缺陷探测和材料均匀性表征中扮演重要角色，随着超声检测分辨率不断提高的实际要求，对超声振动的测量难度逐渐增加，其主要体现在频率和幅值两个层面。首先，当超声频率进入MHz域，被测样品与空气之间的声阻抗匹配急剧恶化，致使耦合入空气中的声能量极少，难以实现非接触式测量；其次，MHz频段上的弹性振动幅度很小，仅有亚微米至纳米量级，同样难以进行非接触式检测。目前非接触微小振动的测量，一般使用光学方法，将准直性较好的激光投射于物体，基于反射光的强度或干涉性变化实现对高频微弱超声振动的测量。这类光学方法主要存在三方面的限制：第一，激光投射表面必须为反射性良好的镜面，以保证足够的反射光质量；第二，光学干涉系统对光准直、投射、检测要求较高，依赖复杂光机系统；第三，难以同时满足较高的振动响应能力和水平空间分辨率。
技术实现思路
本专利技术针对现有的技术问题本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于近场微波的非接触高频微小振动信号测量方法，其特征是：至少包括：微波信号源(1)、激励源(8)、微小振动样品单元、计算处理单元和微波测量单元(11)，由计算处理单元(9)输出控制信号控制激励源(8)产生激励信号，激励源(8)产生的激励信号输出至微小振动样品单元的金属片(7)上，激励金属片(7)产生相应频率的振动信号并向外传播；微波信号源(1)产生高频的微波信号给微波测量单元(11)，由微波测量单元(11)获取金属片(7)携带的振动信号进行定量表征，给出高频微小振动信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于近场微波的非接触高频微小振动信号测量方法，其特征是：至少包括：微波信号源(1)、激励源(8)、微小振动样品单元、计算处理单元和微波测量单元(11)，由计算处理单元(9)输出控制信号控制激励源(8)产生激励信号，激励源(8)产生的激励信号输出至微小振动样品单元的金属片(7)上，激励金属片(7)产生相应频率的振动信号并向外传播；微波信号源(1)产生高频的微波信号给微波测量单元(11)，由微波测量单元(11)获取金属片(7)携带的振动信号进行定量表征，给出高频微小振动信号。


2.根据权利要求1所述的一种基于近场微波的非接触高频微小振动信号测量方法，其特征是：所述的微波测量单元（11）包括耦合器（2）、环形器（3）、混频器（4）、近场探针（5）、滤波器（6）构成整个，完成振动信号的调制和解调；滤波器（6）滤出解调后的解调后的振动信号；微小振动样品单元包括：金属片（7）、固定架（10），金属片（7）垂直固定于固定架（10）上，在金属片（7）的后端固定激励源（8），激励源（8）的输出端与金属片（7）的面垂直；由计算处理单元（9）输出控制信号控制激励源（8）产生激励信号，激励源（8）产生的激励信号输出至金属片（7）上，激励金属片（7）产生相应频率的振动信号并向外传播；同时，微波信号源（1）产生高频的微波信号（51），经由耦合器（2）分出两路微波信号，其中一路经由...

【专利技术属性】
技术研发人员：宦惠庭，彭翠玲，陈晓龙，刘丽娴，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61