透镜位置检测装置、透镜镜筒及摄像装置制造方法及图纸

透镜位置检测装置（２００）包括位置检测用磁体（２０２）、磁力检测传感器（２０４）、位置信息生成单元（２０６）等。位置检测用磁体（２０２）安装在透镜保持框（１４６０）的后表面上。磁力检测传感器（２０４）生成大小与从位置检测用磁体（２０２）的磁极产生的磁力强度对应的检测信号，配置在与光轴平行且经过位置检测用磁体（２０２）的直线上。磁力检测传感器（２０４）输出电压与磁力的强度对应（成比例）的检测信号。位置信息生成单元（２０６）的放大电路（２０８）对来自磁力检测传感器（２０４）的检测信号（Ｓｓ）进行放大。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及透镜位置检测装置、透镜镜筒及摄像装置。
技术介绍
通常，在具有自动聚焦功能或电动变焦功能的摄像机、数码照相机等的透镜驱动装置中设置有对聚焦用移动透镜或变焦用移动透镜的位置进行检测的透镜位置检测装置。作为这种透镜位置检测装置，较多时候使用例如将磁体的磁力变化转换为电信号的MR传感器等磁阻元件。例如，作为现有技术1提出了一种下述透镜位置检测装置其具有位置检测用磁体和磁阻元件，对于所述位置检测用磁体，沿着其可动部的移动方向被磁化为互不相同的磁极，所述磁阻元件与所述位置检测用磁体进行移动的范围相对地固定在被固定部件上，其阻值根据磁力变化而变化(例如日本特开2002-169073号公报)。该透镜位置检测装置中需要设置大小与可动部的移动行程基本相当的磁体。并且，从磁阻元件得到的位置信号是振幅不变的重复波。另外，作为现有技术2提出了一种取代MR传感器而利用霍尔元件的透镜位置检测装置(例如日本特开平11-149030号公报)。在该透镜位置检测装置中，包括沿着驱动方向以规定间距交替地磁化S极和N极的磁尺、以及以规定的固定距离与其相对地进行安装的磁性传感器，该磁性传感器使用MR元件、霍本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透镜位置检测装置，用于对基座上的透镜在光轴方向上的位置进行检测，其特征在于包括：位置检测用磁体，设置在所述透镜及基座中的一个上；磁力检测传感器，设置在所述透镜及基座中的另一个上，生成大小与从所述位置检测用磁体的磁极产生的 磁力强度对应的检测信号；以及位置信息生成单元，根据所述检测信号的大小，生成所述基座上的所述透镜在所述光轴方向上的位置信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：武井智哉，高冈俊史，高木秀勇，伊藤好一，林正宪，安井智仁，山冈英树，田下坚太郎，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]