【技术实现步骤摘要】
缺陷自动定位分析方法、设备及可读存储介质
本专利技术涉及软件测试
,尤其涉及一种缺陷自动定位分析方法、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
无论是软件开发人员还是软件测试人员,日常工作都与软件缺陷息息相关。测试人员需要在程序项目正式上线前尽可能的发现程序缺陷或功能问题,并由开发人员一一进行修复,从而保证程序项目按照用户的实际需求高质量、稳定的交付使用,这个过程往往需要花费大量的时间,因此,如何快速、准确的排查定位缺陷原因,针对性的进行有效修复,是开发、测试人员长期需要面对的难题。业内目前对于软件缺陷的排查和定位,主要通过查询日志、抓包分析等方法手工进行,排查定位的效率依赖测试、开发人员的个人经验,定位过程比较盲目和困难,往往导致缺陷发现后不能及时得到修复,从而阻塞开发测试进度,因而导致了现有的软件缺陷定位分析方式的效率低下的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种缺陷自动定位分析方法、设备及计算机可读存储介质,旨在解决现有的软件缺陷定位分析方式的效率低下的技术问题。 ...
【技术保护点】
1.一种缺陷自动定位分析方法,其特征在于,所述缺陷自动定位分析方法包括以下步骤:/n获取待分析缺陷数据,并提取所述待分析缺陷数据中的关键词,以基于预设文本相似度算法将所述关键词在预设的缺陷知识库中进行精确匹配,其中,所述缺陷知识库包含多类别缺陷样本数据,以及与所述多类别缺陷样本数据对应的缺陷原因与修复方案;/n在检测到当前精确匹配失败时,识别所述待分析缺陷数据所属的缺陷类别,并在所述缺陷知识库中查找与所述缺陷类别对应的目标缺陷原因以及目标修复方案,以完成对所述待分析缺陷数据的模糊匹配;/n将模糊匹配后的待分析缺陷数据作为待校验缺陷数据,并在获取到所述待校验缺陷数据的准确缺陷 ...
【技术特征摘要】
1.一种缺陷自动定位分析方法,其特征在于,所述缺陷自动定位分析方法包括以下步骤:
获取待分析缺陷数据,并提取所述待分析缺陷数据中的关键词,以基于预设文本相似度算法将所述关键词在预设的缺陷知识库中进行精确匹配,其中,所述缺陷知识库包含多类别缺陷样本数据,以及与所述多类别缺陷样本数据对应的缺陷原因与修复方案;
在检测到当前精确匹配失败时,识别所述待分析缺陷数据所属的缺陷类别,并在所述缺陷知识库中查找与所述缺陷类别对应的目标缺陷原因以及目标修复方案,以完成对所述待分析缺陷数据的模糊匹配;
将模糊匹配后的待分析缺陷数据作为待校验缺陷数据,并在获取到所述待校验缺陷数据的准确缺陷原因与准确修复方案时,将所述准确缺陷原因与准确修复方案更新至所述缺陷知识库中,以对所述待校准缺陷数据进行校准。
2.如权利要求1所述的缺陷自动定位分析方法,其特征在于,所述在检测到当前精确匹配失败时,识别所述待分析缺陷数据所属的缺陷类别,并在所述缺陷知识库中查找与所述缺陷类别对应的目标缺陷原因以及目标修复方案,以完成对所述待分析缺陷数据的模糊匹配的步骤包括:
在检测到当前精确匹配失败时,使用预设实体识别模型识别出所述待分析缺陷数据的实体信息,并基于所述实体信息得到所述问题模板;
对所述待分析缺陷数据进行多层次语义解析,得到所述待分析缺陷数据的多层次语义;
使用预设概率图模型,并结合所述问题模板与所述多层次语义,预测所述待分析缺陷数据对应到所述缺陷知识库中的缺陷类别;
根据所述缺陷类别与所述实体信息,将所述待分析缺陷数据转换为所述缺陷知识库的结构化查询,查询得到所述目标缺陷原因与目标修复方案,以完成对所述待分析缺陷数据的模糊匹配。
3.如权利要求1所述的缺陷自动定位分析方法,其特征在于,所述将模糊匹配后的待分析缺陷数据作为待校验缺陷数据,并在获取到所述待校验缺陷数据的准确缺陷原因与准确修复方案时,将所述准确缺陷原因与准确修复方案更新至所述缺陷知识库中,以对所述待校准缺陷数据进行校准的步骤之后,还包括:
将校准后的待校准缺陷数据进行特征标记,以作为特征缺陷数据;
在检测到当前进行模糊匹配时,优先选择所述特征缺陷数据进行匹配。
4.如权利要求1所述的缺陷自动定位分析方法,其特征在于,所述获取待分析缺陷数据,并提取所述待分析缺陷数据中的关键词的步骤之前,还包括:
获取缺陷样本数据,并对所述缺陷样本数据进行预筛选与格式转换,得到目标样本数据;
基于预设分类算法,对所述目标样本数据进行分类,得到对应于多个缺陷类别的多类别缺陷样本数据;
对所述多类别缺陷样本数据进行提取筛选操作,以获取各缺陷类别所对应的缺陷原因与修复方案,并建立缺陷类别、缺陷原因与修复方案信息三者间的映射关系;
在检测到所述多类别缺陷样本数据的数据量达到预设数据量阈值时,构建所述缺陷知识库,以基于所述缺陷知识库进行缺陷自动定位...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄蕾,
申请(专利权)人:平安信托有限责任公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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