雷达采样方法、计算机设备及介质技术

本发明专利技术提供了一种雷达采样方法、计算机设备及介质，属于雷达信号处理领域，具体包括接收雷达采样请求；根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；根据所述模型参数值生成第一采样指令；将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样的第一频谱采样数据；根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令；将所述第二采样指令发送给所述并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述第二采样指令对样本目标进行采样的第二频谱采样数据。通过本公开的处理方案，实时调整采样参数。

【技术实现步骤摘要】
雷达采样方法、计算机设备及介质
本专利技术涉及雷达信号处理领域，具体涉及一种雷达采样方法、计算机设备及介质。
技术介绍
数字信号处理是现代通信、雷达和电子对抗设备的重要组成部分。在实际应用中，利用数字信号处理技术对接收数据进行处理，不仅可以实现高精准的目标定位和目标跟踪，还能够将目标识别、目标成像、精确制导、电子对抗等功能进行拓展，实现多种业务一体化集成。但对于数字信号处理技术，一旦雷达采样场景或是采样对象发生变更，则需要根据采样得到的信号处理结果反复调整采样参数，效率低下，且费时费力。
技术实现思路
因此，为了克服上述现有技术的缺点，本专利技术提供一种可以基于异构处理模块且根据信号处理结果来实时调整采样参数的雷达采样方法、计算机设备及介质。为了实现上述目的，本专利技术提供一种雷达采样方法，包括：接收雷达采样请求；根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；根据所述模型参数值生成第一采样指令；将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种雷达采样方法，其特征在于，包括：/n接收雷达采样请求；/n根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；/n根据所述模型参数值生成第一采样指令；/n将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样的第一频谱采样数据；/n根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令；/n将所述第二采样指令发送给所述并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述第二采样指令对样本目标进行采样的第二频谱采样数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种雷达采样方法，其特征在于，包括：
接收雷达采样请求；
根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；
根据所述模型参数值生成第一采样指令；
将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样的第一频谱采样数据；
根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令；
将所述第二采样指令发送给所述并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述第二采样指令对样本目标进行采样的第二频谱采样数据。


2.根据权利要求1所述的雷达采样方法，其特征在于，所述根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令，包括：
对所述第一频谱采样数据进行目标检测分析，得到与所述样本目标对应的属性分析结果；
根据所述属性分析结果对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令。


3.根据权利要求2所述的雷达采样方法，其特征在于，所述对所述第一频谱采样数据进行目标检测分析，得到与所述样本目标对应的属性分析结果，包括：
对所述第一频谱采样数据进行恒...

【专利技术属性】
技术研发人员：张崇关，陈斌，刘城，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32