雷达采样方法、计算机设备及介质技术

本发明专利技术提供了一种雷达采样方法、计算机设备及介质，属于雷达信号处理领域，具体包括接收雷达采样请求；根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；根据所述模型参数值生成第一采样指令；将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样的第一频谱采样数据；根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令；将所述第二采样指令发送给所述并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述第二采样指令对样本目标进行采样的第二频谱采样数据。通过本公开的处理方案，实时调整采样参数。

【技术实现步骤摘要】
雷达采样方法、计算机设备及介质
本专利技术涉及雷达信号处理领域，具体涉及一种雷达采样方法、计算机设备及介质。
技术介绍
数字信号处理是现代通信、雷达和电子对抗设备的重要组成部分。在实际应用中，利用数字信号处理技术对接收数据进行处理，不仅可以实现高精准的目标定位和目标跟踪，还能够将目标识别、目标成像、精确制导、电子对抗等功能进行拓展，实现多种业务一体化集成。但对于数字信号处理技术，一旦雷达采样场景或是采样对象发生变更，则需要根据采样得到的信号处理结果反复调整采样参数，效率低下，且费时费力。
技术实现思路
因此，为了克服上述现有技术的缺点，本专利技术提供一种可以基于异构处理模块且根据信号处理结果来实时调整采样参数的雷达采样方法、计算机设备及介质。为了实现上述目的，本专利技术提供一种雷达采样方法，包括：接收雷达采样请求；根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；根据所述模型参数值生成第一采样指令；将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样的第一频谱采样数据；根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令；将所述第二采样指令发送给所述并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述第二采样指令对样本目标进行采样的第二频谱采样数据。在一个实施例中，所述根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令，包括：对所述第一频谱采样数据进行目标检测分析，得到与所述样本目标对应的属性分析结果；根据所述属性分析结果对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令。在一个实施例中，所述对所述第一频谱采样数据进行目标检测分析，得到与所述样本目标对应的属性分析结果，包括：对所述第一频谱采样数据进行恒虚警检测，确定频谱点在频谱中对应的位置信息、目标个数、目标频谱；根据所述位置信息、所述目标个数、所述目标频谱确定与所述样本目标关联的属性分析结果。在一个实施例中，所述根据所述属性分析结果对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令，包括：判断所述属性分析结果是否超出预设阈值区域；根据判定为超出的比对结果对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令。本专利技术还提供了一种雷达采样方法，包括：接收串行处理器发送的第一采样指令，所述第一采样指令携带有雷达采样参数的模型参数值；根据所述模型参数值对样本目标的雷达采样参数进行采样，得到第一频谱采样数据；将第一频谱采样数据发送给所述串行处理器。本专利技术还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机介质，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实施上述方法的步骤。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：根据第一频谱采样数据对模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值对样本目标进行二次采样，根据样本目标和场景实时调整采样参数，不仅提高了采样准确率，还提高了采样效率，减少了人力以及调整所花费的时间。附图说明为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1是本专利技术的实施例中雷达采样方法的流程示意图；图2是本专利技术的实施例中雷达采样方法的流程示意图；图3是本专利技术的实施例中计算机设备的结构框图。具体实施方式下面结合附图对本公开实施例进行详细描述。以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本公开的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。本公开还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本公开的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本公开，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目个方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本公开的基本构想，图式中仅显示与本公开中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。另外，在以下描述中，提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而，所属领域的技术人员将理解，可在没有这些特定细节的情况下实践方面。如图1所示，本公开实施例提供一种雷达采样方法，可以应用在雷达中，雷达可以具有DSP处理器以及和DSP处理器通信的FPGA处理器。FPGA处理器用于完成多通道中频采样、抽样、滤波、FFT等信号预处理算法；DSP处理器用于完成信号处理、数据拆解包、系统控制等复杂算法的处理。DSP处理器具有向FPGA处理器发送采样指令的EMIF接口和接收FPGA处理器反馈的频谱采样数据的SRIO接口。DSP处理器为串行处理器，FPGA处理器为并行处理器。其中，抽样、滤波可以使用一组集成的IP滤波器来实现，FFT处理器采用可配置的集成IP核实现。该雷达采样方法可以存储DSP处理器中，包括以下步骤：步骤102，接收雷达采样请求。DSP处理器接收雷达采样请求。雷达采样请求可以由与雷达通信的服务器或计算机终端发送。步骤104，根据雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值。DSP处理器根据雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值。雷达采样模型可以是用于雷达采样的各类软件。雷达采样参数可以包含滤波器配置参数和傅里叶变换参数，具体可以包含工作状态、恒虚警门限值、信号包数量、信号采样率、信号带宽、信号周期、滤波器类型、FFT点数等参数。模型参数值可以是软件中的默认数值，也可以是上次采样的采样数值。滤波器配置参数可以包含滤波器类型、抽样点数、滤波系数等。傅里叶变换参数可以包含处理点数、旋转因子、数据窗的类型等。步骤106，根据模型参数值生成第一采样指令。DSP处理器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种雷达采样方法，其特征在于，包括：/n接收雷达采样请求；/n根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；/n根据所述模型参数值生成第一采样指令；/n将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样的第一频谱采样数据；/n根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令；/n将所述第二采样指令发送给所述并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述第二采样指令对样本目标进行采样的第二频谱采样数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种雷达采样方法，其特征在于，包括：
接收雷达采样请求；
根据所述雷达采样请求获取雷达采样参数的模型参数值；
根据所述模型参数值生成第一采样指令；
将所述第一采样指令发送给用于采样处理的并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述模型参数值对样本目标进行采样的第一频谱采样数据；
根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令；
将所述第二采样指令发送给所述并行处理器，并接收所述并行处理器反馈的根据所述第二采样指令对样本目标进行采样的第二频谱采样数据。


2.根据权利要求1所述的雷达采样方法，其特征在于，所述根据所述第一频谱采样数据对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令，包括：
对所述第一频谱采样数据进行目标检测分析，得到与所述样本目标对应的属性分析结果；
根据所述属性分析结果对所述模型参数值进行调整，并根据调整后的模型参数值生成第二采样指令。


3.根据权利要求2所述的雷达采样方法，其特征在于，所述对所述第一频谱采样数据进行目标检测分析，得到与所述样本目标对应的属性分析结果，包括：
对所述第一频谱采样数据进行恒...

【专利技术属性】
技术研发人员：张崇关，陈斌，刘城，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32