不等光程法太赫兹光谱测量方法及其系统技术方案

本发明专利技术公开了一种提高太赫兹光谱测量精度的新方案。利用飞秒激光器和太赫兹时域光谱系统，对不同厚度的待测样品进行时域太赫兹信号扫描，得到样品材料在两种不同厚度下的透射信号。通过样品厚度为

【技术实现步骤摘要】
不等光程法太赫兹光谱测量方法及其系统
本专利技术基于不等光程法提高太赫兹光谱测量的精度，为太赫兹波段精确测量材料光学参数提供了新的方法，属于太赫兹

技术介绍
太赫兹时域光谱技术是继紫外光谱、红外光谱、圆二色谱、X射线等传统光谱技术之后又一种新的测量技术，该技术可以弥补传统测量技术低频部分的空白，成为研究材料在太赫兹波段吸收率、折射率等光学参数的新的方法。从太赫兹光谱的应用上来看，渗透到生物分子、化学反应、医学、通信和安全检查等领域，目前利用太赫兹时域光谱仪对样品的测量模式有3种，分别为透射式、反射式和衰减全反射式。传统的太赫兹时域光谱系统是由飞秒激光器、太赫兹脉冲发射器、信号接收器、时间延迟控制系统和信号处理系统组合。在THz-TDS中，利用光电导天线产生并探测太赫兹脉冲。一束激光脉冲被分束器分为两束激光，分别被用作产生太赫兹脉冲的泵浦光和用来探测太赫兹信号的探测光。太赫兹脉冲穿过空气和样品，分别记录下通过空气的参考信号和通过样品的太赫兹时域电场波形，对时域波形进行傅立叶变换得到参考和样品的频域波形，进一步处理提取出样品的折射率、吸收本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高太赫兹光谱测量精度的方法，其特征在于：能够更加精确计算材料折射率和吸收系数等材料参数，并可以揭示常规方法无法测得的材料特征吸收峰。/n

【技术特征摘要】
1.一种提高太赫兹光谱测量精度的方法，其特征在于：能够更加精确计算材料折射率和吸收系数等材料参数，并可以揭示常规方法无法测得的材料特征吸收峰。


2.根据权利要求1所述的提高太赫兹光谱测量精度的方法，其特征在于：对不同厚度的
待测样品进行时域太赫兹信号扫描，通过样品厚度为...

【专利技术属性】
技术研发人员：李德华，季琲琲，李照鑫，周薇，宋宾宾，曹秋红，
申请(专利权)人：山东科技大学，
类型：发明
国别省市：山东;37