视网膜电位测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种视网膜电位测量装置。视网膜电位测量装置通过光刺激来测量视网膜电位。视网膜电位测量装置包括视网膜电位检测部、光刺激照射部和控制部，其中，视网膜电位检测部检测受检眼的视网膜电位；光刺激照射部对受检眼照射光刺激；控制部控制从光刺激照射部照射的光刺激。控制部构成为能够连续地执行包含第1检查和第2检查的检查组，其中，第1检查以第1模式照射光刺激；第2检查以不同于第1模式的第2模式照射光刺激。在连续执行的检查组之间设置有第1规定间隔。据此，能够减少用于进行多种类型的检查所需要的时间。

【技术实现步骤摘要】
视网膜电位测量装置
本说明书中所公开的技术涉及一种视网膜电位测量装置。详细而言，涉及一种对眼睛照射来自光源的光，并测量由于该光刺激而引起的视网膜电位变动的视网膜电位测量装置。
技术介绍
在人的眼球、尤其是视网膜中，存在一定的电位(以下，也称为视网膜电位)。已知视网膜电位由于光刺激而变动，并且已经开发了测量由于该光刺激而引起的视网膜电位变动的视网膜电位测量装置。可以使用视网膜电位测量装置获取测量出视网膜电位变动的视网膜电位图(ERG)，并且使用该视网膜电位图来进行视网膜的电生理检查。例如，专利文献1公开了视网膜电位测量装置的一例。作为使用视网膜电位测量装置的视网膜的电生理检查，存在用于测量视网膜的锥体和杆体的功能的多种检查。例如，作为在暗适应下的测量，已知用于测量锥体和杆体的混合响应的闪光ERG(flashERG)和用于测量杆体响应的杆体ERG。作为在明适应下的测量，已知用于测量锥体响应的锥体ERG和用于测量锥体系统响应的闪烁光ERG(flickerERG)。在各测量中，施加给视网膜的光刺激的光量和施加光刺激的时机不同。[现有技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种视网膜电位测量装置，其通过光刺激来测量视网膜电位，其特征在于，/n包括视网膜电位检测部、光刺激照射部和控制部，其中，/n所述视网膜电位检测部检测受检眼的视网膜电位；/n所述光刺激照射部对所述受检眼照射光刺激；/n所述控制部控制从所述光刺激照射部照射的光刺激，/n所述控制部构成为能够连续地执行包含第1检查和第2检查的检查组，其中，所述第1检查以第1模式照射所述光刺激；所述第2检查以不同于所述第1模式的第2模式照射所述光刺激，/n在连续执行的所述检查组之间设置有第1规定间隔。/n

【技术特征摘要】
20190610 JP 2019-1079891.一种视网膜电位测量装置，其通过光刺激来测量视网膜电位，其特征在于，
包括视网膜电位检测部、光刺激照射部和控制部，其中，
所述视网膜电位检测部检测受检眼的视网膜电位；
所述光刺激照射部对所述受检眼照射光刺激；
所述控制部控制从所述光刺激照射部照射的光刺激，
所述控制部构成为能够连续地执行包含第1检查和第2检查的检查组，其中，所述第1检查以第1模式照射所述光刺激；所述第2检查以不同于所述第1模式的第2模式照射所述光刺激，
在连续执行的所述检查组之间设置有第1规定间隔。


2.根据权利要求1所述的视网膜电位测量装置，其特征在于，
在所述检查组中包含接着所述第1检查执行所述第2检查的期间，
在接着所述第1检查执行所述第2检查的期间内，在所述第1检查和所述第2检查之间设置有第2规定间隔。


3.根据权利要求1或2所述的视网膜电位测量装置，其特征在于，
所述第1模式的光刺激的光量比所述第2模式的光刺激的光量小，
所述控制部在执行所述检查组时，在执行所述第1检查之后执行所述第2检查。
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【专利技术属性】
技术研发人员：船田英明，
申请(专利权)人：株式会社多美，
类型：发明
国别省市：日本;JP