【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学成像光谱仪器
，涉及一种可用于同时获取目标二维形影图像、一维光谱和偏振信息的遥感干涉成像光谱仪。
技术介绍
普通概念中的成像仪、光谱仪和偏振仪分属于三类不同的光学仪器。利用成像仪器可以获得目标的形影图像，即目标的二维空间信息；利用光谱仪器可以获得目标的光谱从而得出物质的结构及化学组成；利用偏振仪则可以获得目标的偏振信息进而获知物体的属性。在历史上，这三类仪器是独立发展起来的。20世纪80年代后期，国际上出现了干涉成像光谱仪，它是当今成像仪和光谱仪的有机结合。由于它具有成像仪和光谱仪的双重功能，可同时获得目标的二维空间信息和一维光谱信息，因而在空间遥感、信息获取、科学研究、国民经济建设以及国家安全等诸方面都具有极其重要的应用价值，显示出越来越广阔的应用前景。譬如在军事领域，它可用于星载(或机载)对地观测地表及隐蔽的军事目标、空间探测、高层大气测量等；而在民用领域可用于天文及地球物理研究、资源普查、环境监测、病虫害预报、防灾赈灾、土壤碱化和沙化防治、森林植被保护、农作物估产、大气微量元素及风场探测、教学仪器等方面。迄今为止，成像光谱仪的发展...
【技术保护点】
一种静态双折射偏振干涉成像光谱仪，其特征在于它由沿入射光向同轴依次设置的前置望远系统（１）、偏振干涉仪（２）、成像镜组（３）、面阵探测器（４）以及与面阵探测器（４）输出端联接的计算机信号处理系统（５）组成。其中：所说的偏振干涉仪（２）由沿系统光轴同轴依次设置的格兰泰勒偏光棱镜起偏器（２１）、萨瓦偏光镜（２２、２３）和格兰泰勒偏光棱镜检偏器（２４）组成。由目标发出的辐射光经前置望远系统（１）进行收集、准直后进入起偏器（２１），通过萨瓦偏光镜将由起偏器（２１）射出的一束线偏振光横向剪切为两束出射方向平行于入射光束、且振动方向相互垂直和有一定间距的二束线偏振光，二线偏振光经检偏器...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张淳民，赵葆常，李英才，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]
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