电路检测方法及装置、设备、存储介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了电路检测方法及装置、设备、存储介质，其中，所述方法应用于具有直充单元的电子设备，所述直充单元包括：充电接口、电池、用于建立所述充电接口和所述电池之间电性连接的开关电路；所述方法包括：确定所述充电接口的电源接入状态，所述电源接入状态为未接入或已接入；采集所述直充单元上，与所述电源接入状态对应的电参数值；依据所述电参数值和预设条件，对所述开关电路的性能进行检测，得到第一检测结果。

【技术实现步骤摘要】
电路检测方法及装置、设备、存储介质
本申请实施例涉及电子技术，涉及但不限于电路检测方法及装置、设备、存储介质。
技术介绍
随着电子设备(例如手机、平板电脑等)的使用，电子设备内的某些元件逐渐损耗，例如，直充单元中用于连接充电接口与电池的某个开关元件。当开关元件损耗到一定程度时，此时在对电子设备进行充电时，可能会导致电子设备发热严重的问题，甚至会导致电子设备退出充电的问题。目前，在排查上述问题时，常用的方法是将电子设备主板上的屏蔽支架拆开后，维修人员通过仪表逐一检测每个电路的性能。然而，这样不仅增加了维修成本，维修人员通过仪表测量，有时也无法找出到底是哪里出现了问题。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例提供电路检测方法及装置、设备、存储介质，本申请实施例的技术方案是这样实现的：第一方面，本申请实施例提供一种电路检测方法，所述方法应用于具有直充单元的电子设备，所述直充单元包括：充电接口、电池、用于建立所述充电接口和所述电池之间电性连接的开关电路；所述方法包括：确定所述充电接口的电源接入状态，所述电源接入状态为未本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路检测方法，其特征在于，所述方法应用于具有直充单元的电子设备，所述直充单元包括：充电接口、电池、用于建立所述充电接口和所述电池之间电性连接的开关电路；所述方法包括：/n确定所述充电接口的电源接入状态，所述电源接入状态为未接入或已接入；/n采集所述直充单元上，与所述电源接入状态对应的电参数值；/n依据所述电参数值和预设条件，对所述开关电路的性能进行检测，得到第一检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种电路检测方法，其特征在于，所述方法应用于具有直充单元的电子设备，所述直充单元包括：充电接口、电池、用于建立所述充电接口和所述电池之间电性连接的开关电路；所述方法包括：
确定所述充电接口的电源接入状态，所述电源接入状态为未接入或已接入；
采集所述直充单元上，与所述电源接入状态对应的电参数值；
依据所述电参数值和预设条件，对所述开关电路的性能进行检测，得到第一检测结果。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集所述直充单元上，与所述电源接入状态对应的电参数值，包括：
当所述充电接口的电源接入状态为未接入时，发送第一控制信号给所述开关电路，以触发所述开关电路进入截止状态；
采集所述直充单元上的以下至少之一电参数值：所述充电接口的接口电压、与所述电池相连的金属氧化物半导体MOS管的栅极电压、所述MOS管的栅极与源极之间的第一电流；其中，所述开关电路至少包括一个所述MOS管。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集所述直充单元上，与所述电源接入状态对应的电参数值，包括：
当所述充电接口的电源接入状态为已接入时，发送第二控制信号给所述直充单元，以触发所述开关电路进入导通状态；
采集所述直充单元上与所述电池相连的MOS管的栅极与源极之间的第二电流；其中，所述开关电路至少包括一个所述MOS管。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，采集所述直充单元上与所述电池相连的MOS管的栅极电压，包括：
采集与所述MOS管的栅极连接的模拟数字转换ADC引脚上的电压；
将所述ADC引脚上的电压确定为所述栅极电压。


5.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述依据所述电参数值和预设条件，对所述开关电路的性能进行检测，得到第一检测结果，包括：
依据所述电参数值和对应的第一阈值，对所述MOS...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘绍斌，卜昌军，田晨，张俊，李家达，史岩松，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44