具有高电流和低泄漏能力的互连系统技术方案

本发明专利技术涉及一种高电流和低泄露能力的互连系统。本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及诸如源测量单元（SMU）之类的测试和测量仪器与被测设备（DUT）之间的互连系统。所述测试和测量仪器开关矩阵，包括：第一线缆，包括连接到测试和测量仪器的第一输出的中心导体和防护层；第二线缆，包括连接到测试和测量仪器的第二输出的中心导体和防护层；第三线缆，包括连接到被测设备的中心导体和防护层；以及第四线缆，包括连接到被测设备的中心导体和连接到被测设备的防护层。

【技术实现步骤摘要】
具有高电流和低泄漏能力的互连系统优先权本公开要求2019年6月6日提交的题为“INTERCONNECTSYSTEMWITHHIGHCURRENTANDLOWLEAKAGECAPABILITY”的美国临时申请第62/858,291号的权益，该美国临时申请被通过引用以其整体并入本文。
本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法，并且特别地涉及诸如源测量单元（SMU）之类的测试和测量仪器与被测设备（DUT）之间的互连系统。
技术介绍
测试和测量系统被设计为接收和测试来自DUT的信号。在一些测试和测量系统、诸如那些包括SMU的测试和测量系统中，测试和测量系统还向DUT发送信号以测试DUT的响应。在一些系统中，采用开关器件在测试和测量系统以及DUT的不同输入与输出之间进行切换。典型地，在这样的系统中使用三轴电缆缆线。然而，三轴线缆经常受到相对高的中心导体电阻影响，尤其是在高电压应用中。在高电压应用中，结果是通过开关器件的最大电流非常有限。本公开的实施例解决了现有技术的这些和其它缺陷。附图说明从参考所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试和测量仪器开关矩阵，包括：/n第一线缆，包括连接到测试和测量仪器的第一输出的中心导体和防护层；/n第二线缆，包括连接到所述测试和测量仪器的第二输出的中心导体和防护层；/n第三线缆，包括连接到被测设备的中心导体和防护层；以及/n第四线缆，包括连接到所述被测设备的中心导体和连接到被测设备的防护层。/n

【技术特征摘要】
20190606 US 62/858291;20200528 US 16/8862291.一种测试和测量仪器开关矩阵，包括：
第一线缆，包括连接到测试和测量仪器的第一输出的中心导体和防护层；
第二线缆，包括连接到所述测试和测量仪器的第二输出的中心导体和防护层；
第三线缆，包括连接到被测设备的中心导体和防护层；以及
第四线缆，包括连接到所述被测设备的中心导体和连接到被测设备的防护层。


2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器开关矩阵，其中，第一线缆、第二线缆、第三线缆和第四线缆中的每一个的外屏蔽层彼此连接，并且连接到测试和测量仪器的第二输出。


3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器开关矩阵，进一步包括：
第五线缆，包括防护层以及连接到测试和测量仪器的第一输入的中心导体；
第六线缆，包括防护层以及连接到所述测试和测量仪器的第二输入的中心导体；
第七线缆，包括连接到被测设备的中心导体和防护层；以及
第八线缆，包括连接到被测设备的中心导体以及连接到被测设备和第四线缆的防护层的防护层。


4.根据权利要求3所述的测试和测量仪器开关矩阵，其中第五线缆的防护层连接到测试和测量仪器的第一输出。


5.根据权利要求4所述的测试和测量仪器开关矩阵，进一步包括：用以将第五线缆的防护层连接到测试和测量仪器的第一输出的第一开关。


6.根据权利要求5所述的测试和测量仪器开关矩阵，进一步包括：用以将第一线缆的防护层和第五线缆的防护层连接到第一防护信号的第二开关。


7.根据权利要求6所述的测试和测量仪器开关矩阵，进一步包括：用以将第二线缆的防护层和第六线缆的防护层连接到第二防护信号的第三开关。


8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器开关矩阵，进一步包括：
用以将第一线缆的防护层连接到第一输出的第一开关；
用以将第一线缆的防护层连接到第一防护信号的第二开关；
用以将第二线缆的防护层连接到第二输出的第三开关；以及
用以将第二线缆的防护层连接到第二防护信号的第四开关。


9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器开关矩阵，进一步包括：
用以将第一线缆的中心导体连接到测试和测量仪器的第一输出的第一开关；以及
用以将第二线缆的中心导体连接到测试和测量仪器的第二输出的第二开关。


10.根据权利要求9所述的测试和测量仪器开关矩阵，进一步包括：
用以将第一线缆的中心导体连接到测试和测量仪器的第一输入的第三开关...

【专利技术属性】
技术研发人员：G·索波列夫斯基，
申请(专利权)人：基思利仪器有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国;US