【技术实现步骤摘要】
光学测试系统和光学测试方法
本专利技术涉及光学测试领域，更具体地涉及一光学测试系统和光学测试方法。
技术介绍
在光学产品的成品中，镜头被装配完成后，有些参数无法再被调节。如果镜头的这些参数没有被精确测定，会产生镜头无法与成品的其他元件良好匹配的现象，影响成品的正常使用。比如，部分镜头的后焦位置在镜头装配完成后无法再被调节，如果不能在镜头装配前准确测出其后焦，可能会使得镜头光学系统成像面和光电探测器焦平面无法匹配，使得光学系统不能准确在光电探测器焦平面成像，严重影响成像质量。此外，科学技术的不断发展与进步，对后焦测试的精确度的要求也越来越高，精度要求需要能达到0.5μm～1μm，而一般的后焦测试仪的精度仅能达到5μm～10μm左右，无法实现对后焦的精确测定。但是如果采用高精度的测试工具如光栅尺，可以提高测试精度，但是也增加了成本。而镜头的光学性能会随着温度变化而变化。因此不同温度下的镜头的后焦也需要被测试，才能在镜头装配过程中考虑如何通过温度补偿，以防止焦平面由于温度变化而偏移，带来的成像质量差的问题。而一般的...
【技术保护点】
1.一光学测试系统，用于测试一测试对象，其特征在于，包括：/n一光源模块，其中所述光源模块发出光束；/n一反射模块，其中该测试对象被设置于所述光源模块和所述反射模块的之间，所述光源模块发出的光束供该测试对象成像，并被所述反射模块反射；/n一探测模块，其中所述探测模块采集该测试对象的成像，其中所述探测模块的位置被调整，所述探测模块采集的成像的质量随着位置而变化；以及/n一计算模块，其中所述计算模块记录所述探测模块采集的成像变化时，所述探测模块的位置，其中所述计算模块根据所述探测模块的位置变化计算该测试对象的后焦参数。/n
【技术特征摘要】
1.一光学测试系统，用于测试一测试对象，其特征在于，包括：
一光源模块，其中所述光源模块发出光束；
一反射模块，其中该测试对象被设置于所述光源模块和所述反射模块的之间，所述光源模块发出的光束供该测试对象成像，并被所述反射模块反射；
一探测模块，其中所述探测模块采集该测试对象的成像，其中所述探测模块的位置被调整，所述探测模块采集的成像的质量随着位置而变化；以及
一计算模块，其中所述计算模块记录所述探测模块采集的成像变化时，所述探测模块的位置，其中所述计算模块根据所述探测模块的位置变化计算该测试对象的后焦参数。
2.根据权利要求1所述的光学测试系统，其中所述光学测试系统还包括一分光模块，所述分光模块被设置于所述光源模块的出射侧和所述反射模块的出射侧，所述光源模块发出的光束透过所述分光模块，所述反射模块反射的光束被所述分光模块反射向所述探测模块。
3.根据权利要求2所述的光学测试系统，其中所述光学测试系统还包括一准直模块，所述准直模块被设置于所述分光模块的出射侧，该测试对象被设置于所述准直模块的出射侧，其中所述光源模块发出的光束透过所述分光模块，自所述准直模块的一侧入射，经由所述准直模块准直后自所述准直模块的另一侧出射。
4.根据权利要求1所述的光学测试系统，其中所述光学测试系统还包括一移动机构，所述探测模块被安装于所述移动机构，所述探测模块沿着所述移动机构移动。
5.根据权利要求1所述的光学测试系统，其中所述计算模块记录所述探测模块采集的成像，其中所述计算模块记录成像质量最高时，所述探测模块的位置。
6.根据权利要求5所述的光学测试系统，其中所述探测模块采集一标准对象的成像，所述计算模块记录成像质量最高时所述探测模块的位置，其中所述计算模块根据该标准对象和该测试对象的成像质量最高时所述探测模块的变化量，计算该测试对象的后焦值。
7.根据权利要求1所述的光学测试系统，其中所述光学测试系统还包括一高低温装置，该测试对象被放置于所述高低温装置内被调节温度。
8.根据权利要求7所述的光学测试系统，其中探测模块采集室温下该测试对象的成像，所述计算模块记录成像质量最高时所述探测模块的位置。
9.根据权利要求8所述的光学测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：李远益，郎海涛，肖祥元，周陈建，杨佳，
申请(专利权)人：宁波舜宇车载光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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