用于测量装置的回转测头和测量装置制造方法及图纸

一种用于测量装置(200)的回转测头(10)，包括：底座(36)；旋转座(38)，该旋转座相对于该底座(36)是可移动的；以及传感器元件(28)，该传感器元件联接到该旋转座(38)；其中该旋转座(38)通过球形并联运动学系统(40)联接到该底座(36)。

【技术实现步骤摘要】
用于测量装置的回转测头和测量装置
本专利技术涉及一种用于测量装置的回转测头。另外，本专利技术涉及一种具有根据本专利技术的回转测头的测量装置，特别地涉及一种坐标测量机。
技术介绍
测量装置通常用于确定例如工件的几何变量或物理变量，并且可以被设计为例如粗糙度测量装置、硬度测量装置、表面测量装置或坐标测量机。本专利技术优选地涉及坐标测量机。坐标测量机例如作为品质保证的一部分用于检查工件，或者完全作为所谓的“逆向工程”的一部分用于确定工件的几何学。而且，还可想到多种多样的进一步应用可能性，例如过程控制应用，其中，测量技术被直接应用于在线监测和对制造和加工过程的在线调节。在坐标测量机中，不同类型的传感器可以用于捕获要测量的工件。除了基于触觉进行测量的传感器之外，还使用例如使得可以无接触地捕获测量物体或工件的坐标的光学传感器。也存在所谓的多传感器系统，其中多个触觉传感器和/或光学传感器一起使用。从现有技术中已知的坐标测量机通常具有例如通过测量台沿三个轴线的可移动性来实现的至少三个平移移动自由度。为了进一步增加坐标测量机的移动自由度或本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量装置(200)的回转测头(10)，包括：/n-底座(36)；/n-旋转座(38)，该旋转座相对于该底座(36)是可移动的；以及/n-传感器元件(28)，该传感器元件联接到该旋转座(38)；/n其中该旋转座(38)通过球形并联运动学系统(40)联接到该底座(36)。/n

【技术特征摘要】
20190607 DE 102019115630.01.一种用于测量装置(200)的回转测头(10)，包括：
-底座(36)；
-旋转座(38)，该旋转座相对于该底座(36)是可移动的；以及
-传感器元件(28)，该传感器元件联接到该旋转座(38)；
其中该旋转座(38)通过球形并联运动学系统(40)联接到该底座(36)。


2.如权利要求1所述的回转测头，其中该球形并联运动学系统(40)具有三个可单独控制的驱动单元(42，44，46)，其中这三个驱动单元(42)中的第一驱动单元具有第一输出轴(48)并且被配置为使该第一输出轴(48)围绕第一旋转轴线(50)旋转，其中这三个驱动单元(44)中的第二驱动单元具有第二输出轴(52)并且被配置为使该第二输出轴(52)围绕第二旋转轴线(54)旋转，其中这三个驱动单元(46)中的第三驱动单元具有第三输出轴(56)并且被配置为使该第三输出轴(56)围绕第三旋转轴线(58)旋转。


3.如权利要求2所述的回转测头，其中这三个驱动单元(42，44，46)关于该底座(36)的法向轴线(60)旋转对称地布置，并且被紧固到该底座。


4.如权利要求3所述的回转测头，其中该第一旋转轴线(50)、该第二旋转轴线(54)和该第三旋转轴线(58)具有位于该法向轴线(60)上的公共交点(62)。


5.如权利要求4所述的回转测头，其中该球形并联运动学系统(40)被配置为使得该旋转座(38)围绕该交点(62)进行具有三个旋转自由度的旋转移动。


6.如权利要求2所述的回转测头，其中该旋转座(38)具有第一联接位点(64)、第二联接位点(66)和第三联接位点(68)，其中该第一联接位点(64)通过第一联接件(70)连接到该第一输出轴(48)，其中该第二联接位点(66)通过第二联接件(72)连接到该第二输出轴(52)，并且其中该第三联接位点(68)通过第三联接件(74)连接到该第三输出轴(56)。


7.如权利要求6所述的回转测头，其中该第一联接件(70)具有第一连杆(80)和第二连杆(82)，其中该第一连杆(80)通过第一铰接接头(84)联接到该第二连杆(82)，该第一铰接接头被配置为使得该第一连杆(80)相对于该第二连杆(82)围绕该第一接头轴线(86)是可旋转的，
其中，该第二联接件(72)具有第三连杆(88)和第四连杆(90)，其中该第三连杆(88)通过第二铰接接头(92)联接到该第四连杆(90)，该第二铰接接头被配置为使得该第三连杆(88)相对于该第四连杆(90)围绕该第二接头轴线(94)是可旋转的，并且<...

【专利技术属性】
技术研发人员：D塞茨，
申请(专利权)人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE