【技术实现步骤摘要】
扫描装置
本技术涉及一种扫描装置,特别地但是不排他地,该扫描装置可在瓷砖装饰的领域中使用。更详细地,扫描装置可用于获取将被复制在瓷砖上的基底(例如木板或大理石板)的图像,以获得具有扫描图像的外观的瓷砖。或者,扫描装置可用于获取校准目标的图像,该校准目标旨在随后进行处理以获得关于陶瓷工艺的信息。
技术介绍
已知扫描装置包括线性扫描头,其可沿着扫描方向移动,以获取位于扫描头下方的基底的条带的图像。扫描头还可沿着垂直于扫描方向的定位方向移动。在通过沿着扫描方向移动来获取基底的条带的图像之后,使扫描头沿着定位方向移动,以将扫描头带到与扫描头可通过在扫描方向上移动而获取的先前条带相邻的新的基底条带。此过程重复若干次,使得扫描头获取多个相邻条带,如果这些相邻条带彼此组合,则可提供待获取的基底的部分的完整图像。一些类型的基底具有表面纹理,其可在通过扫描这些基底获得的图像中产生不期望的效果。通过实例,如果获取木板的图像,则可能发生的是,通过选择某一方向作为扫描方向,所获取的图像具有良好的质量。如果相反地,选择与前一方向垂直的 ...
【技术保护点】
1.一种扫描装置,其特征在于,包括用于获取基底的图像的线性扫描头(6)、沿着第一轴线(Y)延伸以用于支撑所述扫描头(6)的第一支撑臂(10)以及相对于所述第一支撑臂(10)横向布置并沿着第二轴线(X)延伸的第二支撑臂(12),其中,所述扫描头(6)能沿着所述第一支撑臂(10)滑动,并且所述第一支撑臂(10)能沿着所述第二支撑臂(12)滑动,并且其中,所述扫描头(6)能相对于所述第一支撑臂(10)调节,使得所述扫描头(6)能相对于所述第一支撑臂(10)旋转,以便定位在第一取向(O1)上或者定位在第二取向(O2)上,在所述第一取向上,所述扫描头(6)具有平行于所述第一轴线(Y) ...
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
20180924 IT 2020180000034221.一种扫描装置,其特征在于,包括用于获取基底的图像的线性扫描头(6)、沿着第一轴线(Y)延伸以用于支撑所述扫描头(6)的第一支撑臂(10)以及相对于所述第一支撑臂(10)横向布置并沿着第二轴线(X)延伸的第二支撑臂(12),其中,所述扫描头(6)能沿着所述第一支撑臂(10)滑动,并且所述第一支撑臂(10)能沿着所述第二支撑臂(12)滑动,并且其中,所述扫描头(6)能相对于所述第一支撑臂(10)调节,使得所述扫描头(6)能相对于所述第一支撑臂(10)旋转,以便定位在第一取向(O1)上或者定位在第二取向(O2)上,在所述第一取向上,所述扫描头(6)具有平行于所述第一轴线(Y)的第一扫描方向(D1),在所述第二取向上,所述扫描头(6)具有平行于所述第二轴线(X)的第二扫描方向(D2)。
技术研发人员:安东尼奥·马卡里,
申请(专利权)人:安东尼奥·马卡里,
类型:新型
国别省市:意大利;IT
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