一种试条阻抗测量系统技术方案

技术编号:26636125 阅读:27 留言:0更新日期:2020-12-08 15:44
本实用新型专利技术公开了一种试条阻抗测量系统,实现了多个试条的阻抗测量和分析,解决了人工方式测量阻抗的效率低下的问题,避免了出错风险,解决了生产一批试条时,不能快速完成试条阻抗的特性分析导致试条浪费的问题。系统包括:采集子系统、控制子系统及分析子系统;采集子系统具有N个测量通道;控制子系统包括微处理器、M个双通道继电器及M/N个继电器控制器,M个双通道继电器组成N行和M/N列的继电器矩阵;微处理器通过控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通或关断;采集子系统通过N个测量通道对连接的试条进行阻抗测量得到测量数据;微处理器对测量数据进行处理得到试条的阻抗值;分析子系统对试条的阻抗值进行分析得到阻抗分析结果。

【技术实现步骤摘要】
一种试条阻抗测量系统
本技术涉及体外诊断产品领域,特别是涉及一种试条阻抗测量系统。
技术介绍
目前很多测试仪,需要配套对应的试条(又称作电化学传感器)进行测量。试条作为测试仪的传感器,对测量结果有直接的影响。所以,在试条生产过程中需要对试条的关键参数进行控制。阻抗作为试条的关键参数之一,如果阻抗异常,会导致试条提供一个异常的电流给到测试仪,从而导致一个异常的结果提供给检测者。所以试条的阻抗检测是试条生产一个必须而重要的指标。现有的技术方式是通过人工方式,使用万用表测量试条的阻抗,然后手写记录。但是,通过人工方式测量阻抗的效率极低;而且人工方式具有一定的出错风险;并且不能快速的对生产的一批试条分析试条阻抗的特性,导致阻抗特性问题使这批生产出来试条的浪费。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种试条阻抗测量系统,实现了多个试条的阻抗测量和分析,不但解决了人工方式测量阻抗的效率低下的问题,还避免了人工方式的出错风险,并且解决了生产一批试条时,不能快速完成试条阻抗的特性分析导致试条浪费的问题。本技术第一方面提供一种试条阻抗测量系统,包括:采集子系统、控制子系统及分析子系统;采集子系统具有N个测量通道,N为不小于1的正整数;控制子系统包括微处理器、M个双通道继电器及M/N个继电器控制器,M个双通道继电器组成N行和M/N列的继电器矩阵,M为大于1的正整数,且M/N为正整数;N个测量通道分别与继电器矩阵的N行的所有双通道继电器连接,M/N个继电器控制器分别与继电器矩阵的M/N列的所有双通道继电器连接,M/N个继电器控制器分别与微处理器连接;微处理器,用于通过控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通或关断,双通道继电器导通时与试条连接,双通道继电器关断时与试条断开;采集子系统,用于通过N个测量通道对连接的试条进行阻抗测量,得到测量数据;微处理器,还用于对测量数据进行处理,得到试条的阻抗值;分析子系统,用于对试条的阻抗值进行分析,得到阻抗分析结果。进一步的,通过从第1列至第M/N列扫描方式测量试条阻抗,微处理器控制第X个继电器控制器使得第X列的所有双通道继电器导通,使得第X列的试条接入,采集子系统通过N个测量通道对第X列的试条进行阻抗测量,得到第X列的试条的测量数据,X为不小于1且小于M/N的正整数;微处理器控制第X个继电器控制器使得第X列的所有双通道继电器关闭,并控制第X+1个继电器控制器使得第X+1列的所有双通道继电器导通,使得第X+1列的试条接入,采集子系统通过N个测量通道对第X+1列的试条进行阻抗测量,得到第X+1列的试条的测量数据。进一步的,通过测量目标试条的方式测量试条阻抗,目标试条对应第x行和第y列的双通道继电器,x为不小于1且不大于N的正整数,y为不小于1且不大于M/N的正整数,微处理器控制第y列的继电器控制器使得第y列中第x行的双通道继电器导通,使得目标试条接入,采集子系统通过第x行的测量通道对目标试条进行阻抗测量,得到目标试条的测量数据。进一步的,在微处理器控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通之前,微处理器,还用于通过是否接收到脉冲信号判断试条是否准备就绪,如果接收到脉冲信号,表示试条准备就绪;如果未接收到脉冲信号,表示试条未准备就绪,脉冲信号为试条插入时产生的。进一步的,采集子系统为万用表,万用表包括万用表通信模块及测量模块,万用表通信模块与微处理器建立通信连接,测量模块具有N个测量通道;测量模块,用于通过N个测量通道实现试条阻抗测量,并获取到测量数据;万用表通信模块,用于将测量数据发送至微处理器。进一步的,万用表为4线制阻抗测量模式,测量模块包括:4N个测量引脚及2个开关引脚,4N个测量引脚中每4个构成一个测量通道。进一步的,控制子系统还包括:万用表通信接口、分析子系统通信接口、测量接口及电池接口;万用表通信接口与万用表通信模块及微处理器连接;分析子系统通信接口与分析子系统及微处理器连接;测量接口通过4N+2彩排线与测量模块连接;电池接口与微处理器及每一个继电器控制器连接。进一步的,微处理器包括:万用表通信单元、分析子系统通信单元、数据处理单元及控制单元;万用表通信单元,用于通过万用表通信接口与万用表建立通信连接,接收万用表发送的试条的测量数据;数据处理单元,用于对测量数据进行处理,得到试条的阻抗值;分析子系统通信单元,用于通过分析子系统通信接口与分析子系统建立通信连接,将试条的阻抗值发送至分析子系统;控制单元,用于控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通或关断。进一步的,控制子系统还包括:牛角插座,牛角插座的引脚为U个,牛角插座的个数为V个,U为2的倍数的正整数,V为大于N且不小于2M/U的正整数;试条针床板,与牛角插座连接,试条针床板的引脚数量大于2M。进一步的,分析子系统包括:分析模块;分析模块,用于根据预置的阻抗上限值及阻抗下限值,对试条的阻抗值进行分析,得到阻抗分析结果;分析子系统还包括:显示模块;显示模块,用于将阻抗分析结果呈现给用户,当试条的阻抗值不处于阻抗上限值及阻抗下限值的区域内时,将试条的阻抗值进行特殊标记。由上可见,本技术的试条阻抗测量系统包括采集子系统、控制子系统及分析子系统,采集子系统具有N个测量通道,N为不小于1的正整数,控制子系统包括微处理器、M个双通道继电器及M/N个继电器控制器,M个双通道继电器组成N行和M/N列的继电器矩阵,M为大于1的正整数,且M/N为正整数,N个测量通道分别与继电器矩阵的N行的所有双通道继电器连接,M/N个继电器控制器分别与继电器矩阵的M/N列的所有双通道继电器连接,M/N个继电器控制器分别与微处理器连接,微处理器通过控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通或关断,双通道继电器导通时与试条连接,双通道继电器关断时与试条断开,采集子系统通过N个测量通道对连接的试条进行阻抗测量,得到测量数据,微处理器对测量数据进行处理,得到试条的阻抗值,分析子系统对试条的阻抗值进行分析,得到阻抗分析结果。与现有的人工方式测量试条的阻抗相比,本技术实施例可以实现了多个试条的阻抗测量和分析,不但解决了人工方式测量阻抗的效率低下的问题,还避免了人工方式的出错风险,并且解决了生产一批试条时,不能快速完成试条阻抗的特性分析导致试条浪费的问题。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术提供的试条阻抗测量系统的一个实施例的结构示意图;图2为本技术提供的试条阻抗测量系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种试条阻抗测量系统,其特征在于,包括:/n采集子系统、控制子系统及分析子系统;/n所述采集子系统具有N个测量通道,所述N为不小于1的正整数;/n所述控制子系统包括微处理器、M个双通道继电器及M/N个继电器控制器,所述M个双通道继电器组成N行和M/N列的继电器矩阵,所述M为大于1的正整数,且所述M/N为正整数;/n所述N个测量通道分别与所述继电器矩阵的N行的所有双通道继电器连接,所述M/N个继电器控制器分别与所述继电器矩阵的M/N列的所有双通道继电器连接,所述M/N个继电器控制器分别与所述微处理器连接;/n所述微处理器,用于通过控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通或关断,所述双通道继电器导通时与试条连接,所述双通道继电器关断时与所述试条断开;/n所述采集子系统,用于通过所述N个测量通道对连接的所述试条进行阻抗测量,得到测量数据;/n所述微处理器,还用于对所述测量数据进行处理,得到所述试条的阻抗值;/n所述分析子系统,用于对所述试条的阻抗值进行分析,得到阻抗分析结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种试条阻抗测量系统,其特征在于,包括:
采集子系统、控制子系统及分析子系统;
所述采集子系统具有N个测量通道,所述N为不小于1的正整数;
所述控制子系统包括微处理器、M个双通道继电器及M/N个继电器控制器,所述M个双通道继电器组成N行和M/N列的继电器矩阵,所述M为大于1的正整数,且所述M/N为正整数;
所述N个测量通道分别与所述继电器矩阵的N行的所有双通道继电器连接,所述M/N个继电器控制器分别与所述继电器矩阵的M/N列的所有双通道继电器连接,所述M/N个继电器控制器分别与所述微处理器连接;
所述微处理器,用于通过控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通或关断,所述双通道继电器导通时与试条连接,所述双通道继电器关断时与所述试条断开;
所述采集子系统,用于通过所述N个测量通道对连接的所述试条进行阻抗测量,得到测量数据;
所述微处理器,还用于对所述测量数据进行处理,得到所述试条的阻抗值;
所述分析子系统,用于对所述试条的阻抗值进行分析,得到阻抗分析结果。


2.根据权利要求1所述的试条阻抗测量系统,其特征在于,通过从第1列至第M/N列扫描方式测量试条阻抗,
所述微处理器控制第X个继电器控制器使得第X列的所有双通道继电器导通,使得第X列的试条接入,所述采集子系统通过所述N个测量通道对所述第X列的试条进行阻抗测量,得到所述第X列的试条的测量数据,所述X为不小于1且小于M/N的正整数;
所述微处理器控制第X个继电器控制器使得第X列的所有双通道继电器关闭,并控制第X+1个继电器控制器使得第X+1列的所有双通道继电器导通,使得第X+1列的试条接入,所述采集子系统通过所述N个测量通道对所述第X+1列的试条进行阻抗测量,得到所述第X+1列的试条的测量数据。


3.根据权利要求1所述的试条阻抗测量系统,其特征在于,通过测量目标试条的方式测量试条阻抗,所述目标试条对应第x行和第y列的双通道继电器,所述x为不小于1且不大于N的正整数,所述y为不小于1且不大于M/N的正整数,
所述微处理器控制第y列的继电器控制器使得第y列中第x行的双通道继电器导通,使得所述目标试条接入,所述采集子系统通过第x行的测量通道对所述目标试条进行阻抗测量,得到所述目标试条的测量数据。


4.根据权利要求2或3所述的试条阻抗测量系统,其特征在于,
在所述微处理器控制继电器控制器使得对应的双通道继电器导通之前,所述微处理器,还用于通过是否接收到脉冲信号判断试条是否准备就绪,如果接收到所述脉冲信号,表示所述试条准备就绪;如果未接收到所述脉冲信号,表示所述试条未准备就绪,所述脉冲信号...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄正何海锋
申请(专利权)人:三诺生物传感股份有限公司
类型:新型
国别省市:湖南;43

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