【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检査系统、检查方法、CT装置以及探测装置。
技术介绍
为了解决CT装置扫描速度问题，常规的方法就是使用多排探测器， 从而每次可以同时采集多排数据，例如专利申请W02005/119297。但是由 于探测器成本较高，大幅增加排数显得不那么现实。
技术实现思路
本专利技术中提出检査系统、检査方法、CT装置以及探测装置，其中探测 装置能够在增加探测装置有效探测面积的情况下，有效减少探测器排数， 从而降低了探测装置的成本。根据本专利技术的一方面，本专利技术提出了一种检查系统，该系统包括CT装置，该CT装置包括滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连 接在滑环上的探测装置；以及传送被检查物体的传送装置，其中所述探测 装置包括N排探测器，并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔，其 中N为大于1的整数。所述预定间距可以是5至80腿或者30至50mm。根据本专利技术的另一方面，在滑环每旋转360度的检查区域中，每排探 测器检查该区域的360度/N的扇形部分，同时滑环每旋转360度/N，传送 装置将物体移动的距离为相邻两排探测器的中心距，由此从所述N排探测 器中的传...
【技术保护点】
一种检查系统，该系统包括： ＣＴ装置，该ＣＴ装置包括：滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置；以及 传送被检查物体的传送装置， 其中所述探测装置包括Ｎ排探测器，并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间 隔，其中Ｎ为大于１的整数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张丽，陈志强，胡海峰，李元景，刘以农，孙尚民，张文宇，邢宇翔，
申请(专利权)人：清华大学，同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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