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检查系统、CT装置以及探测装置制造方法及图纸

技术编号:2660588 阅读:255 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术提供了一种检查系统,该系统包括:CT装置,该CT装置包括:滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置;以及传送被检查物体的传送装置,其中所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述探测器之间具有预定的间隔,其中N为大于1的整数。采用本实用新型专利技术的检查系统,实现了CT装置的高速扫描成像,使CT装置和用于获得二维图像的扫描成像装置同时使用成为可能,从而弥补了互相之间的不足。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及检查系统、CT装置以及探测装置
技术介绍
为了解决CT装置扫描速度问题,常规的方法就是使用多排探测器, 从而每次可以同时采集多排数据,例如专利申请W02005/119297。但是由 于探测器成本较高,大幅增加排数显得不那么现实。
技术实现思路
本技术中提出检查系统、CT装置以及探测装置,其中探测装置能 够在增加探测装置有效探测面积的情况下,有效减少探测器排数,从而降 低了探测装置的成本。根据本技术的一方面,本技术提出了一种检査系统,该系统 包括CT装置,该CT装置包括滑环、与滑环连接的射线源、与射线源 相对并连接在滑环上的探测装置;以及传送被检查物体的传送装置,其中 所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述检测器之间具有预定的 间隔,其中N为大于1的整数。所述预定间距可以是5至80mm或者30至50腿。根据本技术的另一方面,在滑环每旋转360度的检查区域中,每 排探测器检查该区域的360度/N的扇形部分,同时滑环每旋转360度/N, 传送装置将物体移动的距离为相邻两排探测器的中心距,由此从所述N排 探测器中的传送装置移动方向的上游侧的第一排探测器开始依次到最后 一排探测器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查系统,其特征在于该系统包括:    CT装置,该CT装置包括:滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置;以及    传送被检查物体的传送装置,    其中所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔,其中N为大于1的整数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张丽陈志强胡海峰李元景刘以农孙尚民张文宇邢宇翔
申请(专利权)人:清华大学同方威视技术股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]

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