【技术实现步骤摘要】
一种闪烁体余辉精确测量装置及方法
本专利技术涉及闪烁体余辉性能测量技术，具体涉及一种闪烁体余辉精确测量装置及方法。
技术介绍
闪烁体在高能物理、石油勘探、工业检测以及医学中发挥着重要作用，它将高能射线或高能粒子的能量转化为紫外或可见光，是闪烁探测器的重要组成部分，决定了闪烁探测器的时间性能。将无机闪烁体与光电倍增管、硅光二极管或雪崩二极管耦合制成的晶体闪烁计数器，是核物理、高能物理和核医学中的一个极其重要的探测仪器。闪烁体的余辉是闪烁体的一个重要性能，例如在安检系统中余辉问题会影响成像的质量，降低图像的空间分辨率，在图像中引入模糊退化。因此，对闪烁体余辉性能进行精确测量具有重要的意义。公开号为CN107861146A、申请号为201711428826.8的专利技术专利，公开了一种闪烁体的余辉测试装置。该装置中采用转动体实现对X射线的通断，具体通过射线发生器和待测闪烁体之间带有通孔的物体旋转来实现。公开号为CN110609314A、申请号为201911042918.1的专利技术专利，也公开了一种闪烁体的余辉测试装置，该...
【技术保护点】
1.一种闪烁体余辉精确测量装置，其特征在于：包括X射线屏蔽壳体(10)、X射线发生机构、测试屏蔽壳体(20)、探测器(15)、时间处理单元(22)和计算机(19)；/n所述X射线发生机构包括设置在X射线屏蔽壳体(10)内的光源(2)、真空壳体(7)、输入窗(4)、光电阴极(5)、聚焦极(6)和阳极靶(8)以及设置在X射线屏蔽壳体(10)外的光源控制电路(1)，光源控制电路(1)用于控制光源(2)通断以及向时间处理单元(22)发送起始信号；/n所述真空壳体(7)为一端开口的筒状结构，输入窗(4)设置在真空壳体(7)的开口处，形成真空腔体；/n所述输入窗(4)、光电阴极(5)、...
【技术特征摘要】
1.一种闪烁体余辉精确测量装置，其特征在于：包括X射线屏蔽壳体(10)、X射线发生机构、测试屏蔽壳体(20)、探测器(15)、时间处理单元(22)和计算机(19)；
所述X射线发生机构包括设置在X射线屏蔽壳体(10)内的光源(2)、真空壳体(7)、输入窗(4)、光电阴极(5)、聚焦极(6)和阳极靶(8)以及设置在X射线屏蔽壳体(10)外的光源控制电路(1)，光源控制电路(1)用于控制光源(2)通断以及向时间处理单元(22)发送起始信号；
所述真空壳体(7)为一端开口的筒状结构，输入窗(4)设置在真空壳体(7)的开口处，形成真空腔体；
所述输入窗(4)、光电阴极(5)、聚焦极(6)、阳极靶(8)沿光源(2)的出射方向依次设置，且光电阴极(5)设置在输入窗(4)的内表面，阳极靶(8)的末端伸出真空壳体(7)，阳极靶(8)的靶面倾角小于45°；
所述光源(2)的外侧设有隔离密封套筒(3)，隔离密封套筒(3)的一端与X射线屏蔽壳体(10)内壁连接，另一端与输入窗(4)连接；
所述真空壳体(7)侧壁和X射线屏蔽壳体(10)之间设置有供X射线穿过的X射线输出窗口(11)；
所述X射线屏蔽壳体(10)内壁、隔离密封套筒(3)侧壁、真空壳体(7)外壁、X射线输出窗口(11)侧壁之间形成的腔体内充有绝缘散热介质；
所述X射线屏蔽壳体(10)和测试屏蔽壳体(20)之间设有用于屏蔽杂散光及防止X射线泄露的准直屏蔽件(12)；
所述探测器(15)设置在测试屏蔽壳体(20)内，用于获取测试屏蔽壳体(20)内待测闪烁体(14)经阳极靶(8)出射的X射线照射后发出的荧光信息；所述探测器(15)用于向时间处理单元(22)发送终止信号，时间处理单元(22)用于对起始信号和终止信号进行处理，获得待测闪烁体(14)的余辉时间信息；所述探测器(15)用于处理到达探测器(15)的光子位置信息，获得待测闪烁体(14)余辉的强度信息；
所述计算机(19)与时间处理单元(22)的输出和探测器(15)的输出连接。
2.根据权利要求1所述闪烁体余辉精确测量装置，其特征在于：所述时间处理单元(22)包括时间测量模块(17)和多道分析仪(18)；
所述时间测量模块(17)用于将起始信号和终止信号转化为数字信号并传输至多道分析仪(18)，多道分析仪(18)用于对数字信号进行处理，获得待测闪烁体(14)的余辉时间信息并发送至计算机(19)。
3.根据权利要求2所述闪烁体余辉精确测量装置，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘永安，盛立志，强鹏飞，苏桐，刘哲，田进寿，赵宝升，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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