一种石墨烯晶体结构质量评价方法技术

本发明专利技术公开了一种石墨烯晶体结构质量评价方法，本发明专利技术中的评价方法先对石墨烯薄膜进行掺杂，使其载流子浓度超过N；然后每隔1～5min对掺杂石墨烯薄膜进行一次范德堡‑霍尔测量，获得载流子浓度随时间的变化规律以及载流子迁移率与载流子浓度的关系，并绘制成曲线图；再从曲线图上找到载流子浓度为N时对应的载流子迁移率，通过对比相同载流子浓度为N下的载流子迁移率，即可判断石墨烯晶体结构质量的好坏。采用本发明专利技术中的方法，可以测定某一确定载流子浓度下的载流子迁移率，从而对实际获得数值而不是根据经验公式推导的数值直接进行比较，使石墨烯晶体结构的质量评价更加准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种石墨烯晶体结构质量评价方法
本专利技术属于石墨烯结构
，具体涉及一种石墨烯晶体结构质量评价方法。
技术介绍
石墨烯是一种由碳原子以sp2杂化轨道组成六角型呈蜂巢晶格的二维碳纳米材料，具有极高的机械强度、超高的载流子迁移率等优异性能，在诸多领域都有广阔的应用前景。石墨烯优异的性能依赖于其结构的完美性，缺陷的存在会极大的影响其性能。石墨烯的晶体结构可以通过显微学(如透射电子显微学、扫描隧穿显微学)等方法直接观察，也可以通过光谱或者能谱学(如拉曼光谱学、X射线光电子能谱学)等间接表征。但是这些方法只能从微观尺度进行研究(微米至毫米级别)，无法有效用于大面积宏观样品的评价。另一种方法是通过对石墨烯性能的测量来间接评价其晶体结构质量。例如，通过对石墨烯导电性能的测量来评价石墨烯晶体结构质量。目前较为常用的方法是通过制备石墨烯场效应晶体管或者霍尔棒器件来获得石墨烯的载流子迁移率，进而评价石墨烯晶体结构质量(迁移率越高，表明缺陷越少)。然而，器件的迁移率不仅和石墨烯材料本身的晶体结构相关，还极大的受到器件所用基底、器件制备工艺、以及测量环境本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种石墨烯晶体结构质量评价方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：对石墨烯薄膜进行掺杂，使其载流子浓度超过N；/nS2：每隔1～5min对掺杂石墨烯薄膜进行一次范德堡-霍尔测量，获得载流子浓度随时间的变化规律以及载流子迁移率与载流子浓度的关系，并绘制成曲线图；/nS3：从曲线图上找到载流子浓度为N时对应的载流子迁移率，通过对比相同载流子浓度为N下的载流子迁移率，即可判断石墨烯晶体结构质量的好坏。/n

【技术特征摘要】
1.一种石墨烯晶体结构质量评价方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：对石墨烯薄膜进行掺杂，使其载流子浓度超过N；
S2：每隔1～5min对掺杂石墨烯薄膜进行一次范德堡-霍尔测量，获得载流子浓度随时间的变化规律以及载流子迁移率与载流子浓度的关系，并绘制成曲线图；
S3：从曲线图上找到载流子浓度为N时对应的载流子迁移率，通过对比相同载流子浓度为N下的载流子迁移率，即可判断石墨烯晶体结构质量的好坏。


2.根据权利要求1所述的石墨烯晶体结构质量评价方法，其特征在于，S1中石墨烯掺杂的方法为用化学试剂的蒸汽对石墨烯薄膜进行熏蒸，熏蒸时间为15～20min；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李雪松，青芳竹，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51