滤光片的截止深度检测方法技术

本发明专利技术涉及一种滤光片的截止深度检测方法，包括光源，光源出射的光束穿过待测滤光片后，由光谱强度检测设备接收并显示初测光谱强度；在待测滤光片与光谱强度检测设备之间放置高浓度的溶液，使光源出射的光束穿过待测滤光片后，透过所述高浓度的溶液，再由光谱强度检测设备接收并显示再测光谱强度；将再测光谱强度与初测光谱强度进行对比，观察是否存在光谱强度有明显差异的特定波长，如果存在光谱强度有明显差异的特定波长，则判定待测滤光片在该特定波长上的透过率存在问题。本发明专利技术采用对比方式，能方便快捷地找出滤光片在哪些特定波长上存在吸收问题，明确了特定波长后，可更有针对性进行分析和改进提高，指导设计制造更完善、高品质的滤光片。

【技术实现步骤摘要】
滤光片的截止深度检测方法
本专利技术属于物理测试中光学性质的测试
，具体涉及一种滤光片的截止深度检测方法。
技术介绍
滤光片是一种常用的光学器件，用来选取所需辐射波段，广泛用于光学设备中，如相机、摄像机等。截止深度是滤光片品质优劣的判定参数之一，滤光片的截止深度OD越大，透过率越小，噪声越小，对应的设计制造难度也更大，要求更高，价格也更贵。关于滤光片截止深度的检测，有如CN103616163A所公开的测试方法；平常的项目实验中，更常使用的是采用滨松光谱仪及其配套软件，使用时，将检测信号传递给安装了该配套软件的终端（通常是计算机），经配套软件计算处理后通过终端展示检测结果值。但在有使用到滤光片的实验项目中，透过滤光片的特性曲线有可能因为滤光片的优劣而表现得不同，比如：某些滤光片需要在特定波长上进行吸收，却存在一定的低漏光性（透过率大）；而通过目前现有的方法检测滤光片的截止深度，不便于发现滤光片因自身结构原因（如设计缺失或制造问题）造成的对某种或某些（非设计通过）特定波长所存在的吸收问题（透过率大），不便于指导设计更完善的滤光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.滤光片的截止深度检测方法，包括光源，光源出射的光束穿过待测滤光片后，由光谱强度检测设备接收并显示初测光谱强度；其特征在于：在待测滤光片与光谱强度检测设备之间放置高浓度的溶液，使光源出射的光束穿过待测滤光片后，透过所述高浓度的溶液，再由光谱强度检测设备接收并显示再测光谱强度；/n将再测光谱强度与初测光谱强度进行对比，观察是否存在光谱强度有明显差异的特定波长，如果存在光谱强度有明显差异的特定波长，则判定待测滤光片在该特定波长上的透过率存在问题。/n

【技术特征摘要】
1.滤光片的截止深度检测方法，包括光源，光源出射的光束穿过待测滤光片后，由光谱强度检测设备接收并显示初测光谱强度；其特征在于：在待测滤光片与光谱强度检测设备之间放置高浓度的溶液，使光源出射的光束穿过待测滤光片后，透过所述高浓度的溶液，再由光谱强度检测设备接收并显示再测光谱强度；
将再测光谱强度与初测光谱强度进行对比，观察是否存在光谱强度有明显差异的特定波长，如果存在光谱强度有明显差异的特定波长，则判定待测滤光片在该特定波长上的透过率存在问题。


2.根据权利要求1所述滤光片的截止深度检测方法，其特征在于：所述光谱强度有明显差异为光谱强度有明显增长。


3.根据权利要求1所述滤光片的截止深度检测方法，其特征在于：所述高浓度的溶液的浓度大于30mg/l，溶液成分包括草酸钠、高锰酸钾、邻苯二甲酸氢钾和/或氨氮溶液。


4.根据权利要求1所述滤光片的截止深度检测方法，其特征在于：所述待测滤光片和高浓度的溶液置于整装检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤斌，汪仁杰，李奉笑，陈庆，周思寒，赵明富，胡新宇，蒋上海，吴德超，钟年丙，龙邹荣，
申请(专利权)人：重庆理工大学，
类型：发明
国别省市：重庆;50