视觉测量系统现场校准装置及校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了视觉测量系统现场校准装置及校准方法，本发明专利技术的校准装置包括空间三维坐标测量系统和立体靶标，立体靶标设置在所述空间三维坐标测量系统的工作范围处内，立体靶标由基板和分别设置在基板两侧的传感器校准靶和系统测量靶。空间三维坐标测量系统可以是经纬仪工业测量系统，可以是激光跟踪仪。传感器校准靶和所述的系统测量靶均由标准球组成。本发明专利技术的校准方法包括将立体靶标在坐标测量机下进行标定，采集立体靶标上传感器校准靶的图像，根据标定时系统测量靶和传感器校准靶之间的坐标变换关系，得到其转换关系等步骤。本发明专利技术能在现场同时实现视觉测量系统中测量元件校准和系统的全局校准，解决了工业现场在线视觉测量系统快速建立所要求的灵活、快速的测量元件校准与系统全局校准问题。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于精密测量的现场校准技术，特别涉及一种计算机视觉测量中的。
技术介绍
视觉测量系统与其它测量装置相同，只有经过校准才可以使用。视觉测量系统校准包括测量元件校准和系统全局校准，其中测量元件校准包括摄象机校准和传感器校准。摄象机校准主要实现摄象机参数的确定；传感器校准是确定传感器中两摄象机之间的位姿关系；系统全局校准是确定系统中所有传感器的坐标系到系统坐标系的变换关系。针对测量系统的不同组成，校准内容可以包括摄象机校准、传感器校准和系统全局校准，也可以包括其中部分内容的校准。现有的测量系统校准方法其测量元件(摄象机和传感器)校准和系统全局校准是分步实现的，校准过程操作复杂，劳动强度大，而且测量元件的校准在非现场完成，校准环境和应用环境不一致。现代工业测量系统要求校准在现场实现，同时具有快速、灵活的特点，而现有的这种分步式校准显然不能满足其要求。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术存在的不足，提供一种视觉测量系统现场校准装置，能够实现测量元件(摄象机和传感器)和系统的同时、快速现场校准。本专利技术所要解决的另一技术问题是，提供一种视觉测量系统现场校准校准方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种视觉测量系统现场校准装置，包括空间三维坐标测量系统和立体靶标，其特征是，所述的立体靶标设置在所述空间三维坐标测量系统的工作范围处内，立体靶标由基板和分别设置在基板两侧的传感器校准靶和系统测量靶。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邾继贵，刘常杰，吴斌，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]