【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于稳定由用来测量辐射、优选电离辐射的闪烁探测器通过在探测器中至少部分吸收的辐射而产生的并且依赖于探测器的工作温度的信号的方法，以及涉及一种用于测量辐射、优选电离辐射的探测器。在现有技术中已知了相应的方法和探测器。闪烁探测器中的闪烁器吸收要测量的辐射，其中在闪烁器中产生激发状态。这种激发状态在发射光的情况下以衰变时间τ衰变，其中光量是衡量吸收的入射辐射的能量的尺度。该光被导向光电阴极，该光电阴极依赖于在那里吸收的光量发射电子，所述电子通常由光电倍增管增强。光电倍增管的输出信号因此是衡量吸收的辐射总能量的尺度。已知，闪烁器的光输出依赖于其温度，使得正比于测量能量的输出信号也依赖于闪烁器的温度。由于常常不能在恒定的已知温度下运行闪烁探测器，因此由于温度波动显著损害了探测器的测量准确度。按照已知的现有技术，通过在测量之前或之后实施的校准达到目的，其中所谓的校准源、也就是具有已知辐射能量的辐射源被用于校准。可替代地或者附加地也可以根据在已测量频谱中存在的已知能量的已知线实现校准。这有这样的缺点，在校准时刻和测量时刻之间出现的温度波动导致附加的测量精...
【技术保护点】
用于稳定由用来测量辐射、优选电离辐射的闪烁探测器通过在探测器中至少部分吸收的辐射而产生的、并且依赖于探测器运行温度的信号的方法，其中从通过要测量的辐射本身产生的信号的信号形状中确定依赖于温度的校准系数Ｋ。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：J斯坦，G鲍施，
申请(专利权)人：ICX射线有限责任公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]
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