高计数率的闪烁器制造技术

技术编号:2657337 阅读:195 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供能保持BaF↓[2]的高速性和高检测效率,而且适应高计数率的闪烁器,还提供使用了该闪烁器的具有高时间分辨率的放射线检测装置。在BaF↓[2]中掺杂一定量的稀土类元素(Eu),将BaF↓[2]发光的高速成分(0.6~0.8纳秒)残留,同时使长寿命成分(600~620ns)减少。本发明专利技术是一种在BaF↓[2]中掺杂了稀土类元素(Eu)的闪烁器,该闪烁器是掺杂量为0.02~1.0mol%的放射线检测用高计数率闪烁器。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及检测放射线用闪烁器,更详细地,本专利技术涉及时间分 辨率极快的Y射线用闪烁器以及检测装置。
技术介绍
现有的Y射线检测器,特别是在正电子湮没的Y射线(0.511MeV) 的寿命测定(Positron Annihilation Lifetime; PAL)时,目前未必能说 可以得到足够的时间分辨率。在实际使用时,时间分辨率非常重要。 例如,通过提高医疗中的PET (Positron Emission Tomography:正电 子发射断层造影)的时间分辨率,可以提高来自时间信息的正电子的 湮没位置的检测精度,结果是縮短测定时间、降低射线源强度等,从 而降低被检测者的负担。另外,在材料科学中,由于正电子的寿命测 定用于检测晶格缺陷,所以提高时间分辨率与提高检测灵敏度的提高 有关。为了提高这种Y射线检测器的时间分辨率,相对于现有而言衰减 时间更短且具有荧光成分的闪烁晶体是不可缺少的,虽然到目前为止 可以实用的闪烁晶体(scintillator crystal)大多是发光量子收率大、荧 光的衰减时间常数为几百纳秒这样很慢的物质(Nal (T1)、 Csl (Tl)、 Csl 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种放射线检测用高计数率闪烁器,其是在BaF↓[2]中掺杂稀土类元素而形成的,该稀土类元素的掺杂量为0.02~0.2mol%。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:越水正典渋谷宪悟斋藤晴雄浅井圭介本多庸郎
申请(专利权)人:独立行政法人科学技术振兴机构
类型:发明
国别省市:JP[日本]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利