用于光学测距的装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一个用于光学测距的装置、尤其是手持装置具有一个带有光源（１７，１８）的发射单元（１２），用于发射光学测量射线（１３，２０，２２）到目标（１５），并且具有一个与发射单元（１２）的光轴（３８）间隔的接收单元（１４），它具有至少一个带有检测面（６６）的光学检测器（５４），用于接收由目标（１５）返回的光学射线（１６，４９，５０）。按照本发明专利技术建议，所述检测器（５４）的检测面（６６）具有一个光学的近范围元件（６８），其光学有效的表面（７２，７４）在射线偏移方向（６１）上对于变小的目标距离（４８）延长并且扩展或者具有基本恒定的伸长。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种如独立权利要求前序部分所述的用于光学测距的 装置。
技术介绍
早就已知光学测距仪作为这种装置并且在其间也大量地在商业上 销售。这些仪器发射调制的光射线，它对准所期望的目标表面，要获得 该目标与仪器的距离。由定位的目标反射或散射的、返回的光再由仪器 部分地;险测并且用于求得所寻求的距离。这种测距仪的使用范围一般包括几厘米至数百米范围的长度。根据要被测量的距离和目标的反射性能对光源、测量射线质量以及 检测器提出不同的要求。由现有技术已知的光学测距仪在原理上对应于在仪器中必需存在 的发射或接收通道的结构分成两类。一类装置是，发射通道与接收通道间隔地设置，因此各光轴相互平 行、但是相互间隔地延伸。另一类装置是单轴测量装置，其中接收通道 与发射通道同轴地延伸。上述的双轴测量系统的优点是，为了选择返回的测量信号无需费事的辐射分"R，因此例如也可以更好地抑制/人发射通道直接在接收通道中 的光学串扰。另 一方面在双轴测距4义中可能存在缺陷，在短的测量距离范围中由 于视差可能产生检测问题。在此目标在仪器检测器表面上的成像漂移， 它对于大的目标距离还清楚地位于检测器上，随着测量距离变本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光学测距的装置、尤其是手持装置具有一带有光源（１７，１８）的发射单元（１２），用于发射光学测量射线（１３，２０，２２）到目标（１５），并且具有一与发射单元（１２）的光轴（３８）间隔的接收单元（１４），它具有至少一带有检测面（６６）的光学检测器（５４），用于接收由目标（１５）返回的光学射线（１６，４９，５０），其特征在于，所述检测器（５４）的检测面（６６）具有一光学的近范围元件（６８），其光学有效的表面（７２，７４）在射线偏移方向（６１）上对于变小的目标距离（４８）延长并且在与其正交的方向上至少部分地扩展或者具有基本恒定的伸长。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：U斯库特蒂贝茨，B哈斯，J斯蒂尔，P沃尔夫，K伦茨，
申请(专利权)人：罗伯特博世有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]