一种测试装置制造方法及图纸

技术编号:26563473 阅读:15 留言:0更新日期:2020-12-01 19:26
本实用新型专利技术涉及光伏组件制备技术领域,尤其涉及一种测试装置。该测试装置用于叠瓦电池片的测试,测试装置包括多个上探针排及多个下探针排,多个上探针排包括测试上探针排和支撑上探针排,测试上探针排能够与叠瓦电池片的正电极接触并导通,支撑上探针排能够与叠瓦电池片的正面绝缘接触;多个下探针排与上探针排一一对应且相对设置,下探针排包括测试下探针排和支撑下探针排,测试下探针排能够与叠瓦电池片的背电极接触并导通,支撑下探针排能够与叠瓦电池片的背电场绝缘接触。下探针排与上探针排相对设置,从而避免叠瓦电池片隐裂或碎片;测试下探针排与背电极导通,支撑上探针排和支撑下探针排均与叠瓦电池片绝缘接触,从而提高测试准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置
本技术涉及光伏组件制备
,尤其涉及一种测试装置。
技术介绍
近年来,新型光伏组件封装技术不断涌现,双玻双面、半片、多主栅(MBB)、叠瓦等技术已经实现产业化。其中叠瓦组件平均功率可增加20W以上,明显领先于其他新型封装技术。叠瓦组件所使用的电池片的金属化图形是经过特殊设计,使得正面电极和背面电极相互错开,并未正对设置。为了避免电池片隐裂、碎片,叠瓦电池片测试时也延用传统的上下探针对称测试的方法。该方法在测试叠瓦电池片时,上探针与叠瓦电池片的正电极接触,下探针因需要与上探针正对设置,使得下探针与叠瓦电池片的背电场接触。测试时叠瓦电池片产生的电流经正电极和背电场汇流导出,而叠瓦电池片在实际使用中背面产生电流是经背电极汇流导出的,这导致测试时电流的导出路径与实际电流导出路径不一致,造成电池片电性能测试不准确,制作成组件后出现局部小片发黑的现象。因此,亟需一种测试装置以解决上述问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种测试装置,能够避免叠瓦电池片隐裂、碎片,且能够提高测试准确度。为达此目的,本技术采用以下技术方案:一种测试装置,用于叠瓦电池片的测试,所述测试装置包括:多个上探针排,多个所述上探针排包括测试上探针排和支撑上探针排,所述测试上探针排能够与所述叠瓦电池片的正电极接触并导通,所述支撑上探针排能够与所述叠瓦电池片的正面绝缘接触;及多个下探针排,多个所述下探针排与所述上探针排一一对应且相对设置,所述下探针排包括测试下探针排和支撑下探针排,所述测试下探针排能够与所述叠瓦电池片的背电极接触并导通,所述支撑下探针排能够与所述叠瓦电池片的背电场绝缘接触。其中,所述测试上探针排和所述测试下探针排均包括多个测试探针,所述测试探针的与所述叠瓦电池片接触的表面设置有多个接触凸点。其中,所述接触凸点沿垂直于所述正电极且平行于所述叠瓦电池片的的方向延伸。其中,多个所述接触凸点沿多个所述测试探针的排列方向分布。其中,所述支撑上探针排和所述支撑下探针排均包括多个支撑探针,所述支撑探针的与所述叠瓦电池片接触的表面为平面。其中,所述支撑探针的外表面设置有绝缘层。其中,所述绝缘层为绝缘胶带。其中,所述上探针排和所述下探针排均包括双探针排和/或单探针排;所述单探针排包括一排支撑探针或一排测试探针;所述双探针排包括:两排所述支撑探针;两排所述测试探针;或一排所述测试探针和一排所述支撑探针。其中,所述测试装置还包括:上安装架,多个所述上探针排可拆卸安装于所述上安装架上,且相邻的两个所述上探针排之间的距离可调;及下安装架,多个所述下探针排可拆卸安装于所述下安装架上,且相邻的两个所述下探针排之间的距离可调。其中,所述测试装置还包括:驱动机构,所述驱动机构的输出端与所述上安装架和/或下安装架连接,以驱动所述上安装架和所述下安装架相互靠近或远离。有益效果:本技术中,多个上探针排和多个下探针排一一对应且相对设置,使得上探针排和下探针排在与叠瓦电池片接触时,能够保证叠瓦电池片受力均匀,从而避免叠瓦电池片隐裂或碎片;多个下探针排中的测试下探针排与背电极接触并导通,使得测试时叠瓦电池片产生的电流能够经背电极汇流导出,与叠瓦电池片实际使用时电流导出方向相同,支撑上探针排和支撑下探针排均与叠瓦电池片绝缘接触,从而提高测试准确度,避免叠瓦电池片支撑组件后出现局部小片发黑的现象。附图说明图1是本技术实施例一提供的叠瓦电池片的俯视图;图2是本技术实施例一提供的叠瓦电池片的仰视图;图3是本技术实施例一提供的叠瓦电池片的剖视图;图4是本技术实施例一提供的测试装置与图1中叠瓦电池片配合时结构示意图;图5是本技术实施例一提供的双探针排的仰视图;图6是本技术实施例一提供的一种单探针排的仰视图;图7是本技术实施例一提供的另一种单探针排的仰视图;图8是本技术实施例一提供的双探针排的结构示意图;图9是本技术实施例二提供的叠瓦电池片的俯视图;图10是本技术实施例二提供的叠瓦电池片的仰视图;图11是本技术实施例二提供的一种双探针排的仰视图;图12是本技术实施例二提供的另一种双探针排的仰视图。其中:1、探针架;21、支撑探针;22、测试探针;31、正电极;32、背电极;33、背电场。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例,实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中,术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置。除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触,也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。实施例一本实施例提供了一种测试装置,可以用于叠瓦电池片的测试。测试装置包括测试组件、多个上探针排和多个下探针排,多个上探针排和多个下探针排一一对应,且相对设置,上探针排和下探针排均与测试组件电连接,以便将叠瓦电池片上的电流导入测试组件内,进而进行测试。测试叠瓦电池片时,上探针排与下探针排分别位于叠瓦电池片的正面和背面,且均与叠瓦电池片接触,使得叠瓦电池片受到的力更均匀,避免叠瓦电池片受到因上探针排和下探针排错开产生的剪切力,从而避免叠瓦电池片隐裂或碎片。...

【技术保护点】
1.一种测试装置,用于叠瓦电池片的测试,其特征在于,所述测试装置包括:/n多个上探针排,多个所述上探针排包括测试上探针排和支撑上探针排,所述测试上探针排能够与所述叠瓦电池片的正电极(31)接触并导通,所述支撑上探针排能够与所述叠瓦电池片的正面绝缘接触;及/n多个下探针排,多个所述下探针排与所述上探针排一一对应且相对设置,所述下探针排包括测试下探针排和支撑下探针排,所述测试下探针排能够与所述叠瓦电池片的背电极(32)接触并导通,所述支撑下探针排能够与所述叠瓦电池片的背电场(33)绝缘接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试装置,用于叠瓦电池片的测试,其特征在于,所述测试装置包括:
多个上探针排,多个所述上探针排包括测试上探针排和支撑上探针排,所述测试上探针排能够与所述叠瓦电池片的正电极(31)接触并导通,所述支撑上探针排能够与所述叠瓦电池片的正面绝缘接触;及
多个下探针排,多个所述下探针排与所述上探针排一一对应且相对设置,所述下探针排包括测试下探针排和支撑下探针排,所述测试下探针排能够与所述叠瓦电池片的背电极(32)接触并导通,所述支撑下探针排能够与所述叠瓦电池片的背电场(33)绝缘接触。


2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试上探针排和所述测试下探针排均包括多个测试探针(22),所述测试探针(22)的与所述叠瓦电池片接触的表面设置有多个接触凸点。


3.如权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述接触凸点沿垂直于所述正电极(31)且平行于所述叠瓦电池片的方向延伸。


4.如权利要求2所述的测试装置,其特征在于,多个所述接触凸点沿多个所述测试探针(22)的排列方向分布。


5.如权利要求1-4中任一项所述的测试装置,其特征在于,所述支撑上探针排和所述支撑下探针排均包括多个支撑探针(21),所述支撑探针...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴坚张楚风
申请(专利权)人:嘉兴阿特斯光伏技术有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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