本实用新型专利技术提供了一种低压伺服掉电检测电路，包括待检测电源和开关电路，所述开关电路包括开关控制输入侧和开关控制受控侧，所述开关控制输入侧连接于所述待检测电源以在待检测电源正常时导通开关电路，待检测电源断开时关断开关电路，所述开关控制受控侧的两端分别一端连接于电源端，另一端通过下拉电阻连接于接地端，且所述下拉电阻远离接地端的一端连接于MCU芯片以在开关电路导通时向MCU芯片输出高电平，开关电路断开时向MCU芯片输出低电平。本实用新型专利技术能够适于用于直流供电的低压伺服电源掉电检测，且具有电路结构简单，成本低等优点；＝。
【技术实现步骤摘要】
低压伺服掉电检测电路
本技术属于掉电检测
，尤其是涉及一种低压伺服掉电检测电路。
技术介绍
目前针对交流电的掉电检测电路已存在，例如如图1所示的掉电检测电路，但是目前低压伺服的需求越来越多，而低压伺服的供电是直流电，如图1所示这样的交流电掉电检测电路并不适用于直流电的掉电检测。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述问题，提供一种低压伺服掉电检测电路。为达到上述目的，本技术采用了下列技术方案：一种低压伺服掉电检测电路，包括待检测电源和开关电路，所述开关电路包括开关控制输入侧和开关控制受控侧，所述开关控制输入侧连接于所述待检测电源以在待检测电源正常时导通开关电路，待检测电源断开时关断开关电路，所述开关控制受控侧的两端分别一端连接于电源端，另一端通过下拉电阻连接于接地端，且所述下拉电阻远离接地端的一端连接于MCU芯片以在开关电路导通时向MCU芯片输出高电平，开关电路断开时向MCU芯片输出低电平。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述开关电路包括第一三极管和第二三极管，所述第一三极管的基极为开关控制输入侧，其连接于所述待检测电源，第一三极管的被控侧连接于所述第二三极管的基极以在第一三极管被导通时驱动第二三极管，所述第二三极管的被控侧为所述开关控制受控侧。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述第一三极管为NPN三极管，第一三极管的被控侧包括集电极和发射极，第一三极管的集电极通过上拉电阻连接于电源端，发射极连接于接地端，第二三极管的基极连接在上拉电阻远离所述电源端的一端。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述第二三极管为PNP三极管，第二三极管的被控侧包括集电极和发射极，第二三极管的发射极连接于电源端，集电极通过下拉电阻连接于接地端，所述MCU芯片连接在下拉电阻与集电极的公共端处。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述MCU芯片为任意具有GPIO接口的DSP处理器。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述电源端为3.3V直流供电电源。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述开关电路还包括有掉电检测时间调节电路。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述掉电时间调节电路包括串联在第一三极管的集电极与上拉电阻之间的分压电阻，所述第一三极管的基极和待检测电源之间串联有可调电阻，且可调电阻的调节端连接于第一三极管的基极，可调电阻的两端分别连接于待检测电源和第一三极管的发射极。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述掉电检测时间调节电路还包括串联在可调电阻与待检测电源之间的稳压电路。在上述的低压伺服掉电检测电路中，所述稳压电路包括稳压二极管，所述稳压二极管的阴极连接于所述待检测电源，阳极连接于所述可调电阻。本技术的优点在于，能够适于用于直流供电的低压伺服电源掉电检测，且具有电路结构简单，成本低等优点；能够通过可调电阻和稳压二极管调节掉电检测的时间，满足更多场合的不同掉电检测时间需求。附图说明图1是现有技术用于交流电掉电检测的掉电检测电路；图2是本技术用于直流电的低压伺服掉电检测电路。附图标记：第一三极管Q1；第二三极管Q2；上拉电阻R1；下拉电阻R3；分压电阻R2；可调电阻R4；稳压二极管D1。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本技术做进一步详细的说明。如图2所示，本实施例公开了一种低压伺服掉电检测电路，包括待检测电源和开关电路，这里以24V的待检测电源为例，开关电路包括开关控制输入侧和开关控制受控侧，开关控制输入侧连接于待检测电源以在待检测电源正常时导通开关电路的开关控制受控侧，待检测电源断开时关断开关电路的开关控制受控侧，开关控制受控侧的两端分别一端连接于电源端，电源端取3.3V直流供电电源，另一端通过下拉电阻R3连接于接地端，且下拉电阻R3远离接地端的一端连接于MCU芯片以在开关电路导通时向MCU芯片输出高电平，开关电路断开时向MCU芯片输出低电平。这里的MCU芯片可以为任意具有GPIO接口的DSP处理器。具体地，开关电路包括第一三极管Q1和第二三极管Q2，第一三极管Q1的基极为开关控制输入侧，其连接于待检测电源，第一三极管Q1的被控侧连接于第二三极管Q2的基极以在第一三极管Q1被导通时驱动第二三极管Q2，第二三极管Q2的被控侧为开关控制受控侧。其中，第一三极管Q1为NPN三极管，第一三极管Q1的被控侧包括集电极和发射极，第一三极管Q1的集电极通过上拉电阻R1连接于电源端，发射极连接于接地端，第二三极管Q2的基极连接在上拉电阻R1远离电源端的一端；第二三极管Q2为PNP三极管，第二三极管Q2的被控侧同样包括集电极和发射极，第二三极管Q2的发射极连接于电源端，集电极通过下拉电阻R3连接于接地端，MCU芯片连接在下拉电阻R3与集电极的公共端处。优选地，开关电路还包括有掉电检测时间调节电路。具体地，掉电时间调节电路包括串联在第一三极管Q1的集电极与上拉电阻R1之间的分压电阻R2，第一三极管Q1的基极和待检测电源之间串联有可调电阻R4，且可调电阻R4的调节端连接于第一三极管Q1的基极，可调电阻R4的两端分别连接于待检测电源和第一三极管Q1的发射极。进一步地，掉电检测时间调节电路还包括串联在可调电阻R4与待检测电源之间的稳压电路。且这里的稳压电路为稳压二极管D1，稳压二极管D1的阴极连接于待检测电源，阳极连接于可调电阻R4。本实施例掉电检测电路在待检测电源正常时，图2中AB间压降会使第一三极管Q1打开，同时第二三极管Q2也打开，这个时候MCU芯片相应的端口会接收到信号“1”；当24V待检测电源断开时，24V电压下降，导致AB之间的压降过低，进而导致第一三极管Q1关断，从而使得第二三极管Q2也关断，这时候，MCU芯片相应端口接收到的信号变为“0”。经过稳压二极管D1(例如12V稳压二极管)将分压电阻R2与可调电阻R4之间的电压控制在12V，掉电检测的时间可以通过调整可调电阻R4和稳压二极管D1的稳压电压进行控制。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术精神作举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。尽管本文较多地使用了第一三极管Q1；第二三极管Q2；上拉电阻R1；下拉电阻R3；分压电阻R2；可调电阻R4；稳压二极管D1等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本技术的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本技术精神相违背的。本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种低压伺服掉电检测电路，其特征在于，包括待检测电源和开关电路，所述开关电路包括开关控制输入侧和开关控制受控侧，所述开关控制输入侧连接于所述待检测电源以在待检测电源正常时导通开关电路，待检测电源断开时关断开关电路，所述开关控制受控侧的两端分别一端连接于电源端，另一端通过下拉电阻连接于接地端，且所述下拉电阻远离接地端的一端连接于MCU芯片以在开关电路导通时向MCU芯片输出高电平，开关电路断开时向MCU芯片输出低电平。/n
【技术特征摘要】
1.一种低压伺服掉电检测电路，其特征在于，包括待检测电源和开关电路，所述开关电路包括开关控制输入侧和开关控制受控侧，所述开关控制输入侧连接于所述待检测电源以在待检测电源正常时导通开关电路，待检测电源断开时关断开关电路，所述开关控制受控侧的两端分别一端连接于电源端，另一端通过下拉电阻连接于接地端，且所述下拉电阻远离接地端的一端连接于MCU芯片以在开关电路导通时向MCU芯片输出高电平，开关电路断开时向MCU芯片输出低电平。
2.根据权利要求1所述的低压伺服掉电检测电路，其特征在于，所述开关电路包括第一三极管和第二三极管，所述第一三极管的基极为开关控制输入侧，其连接于所述待检测电源，第一三极管的被控侧连接于所述第二三极管的基极以在第一三极管被导通时驱动第二三极管，所述第二三极管的被控侧为所述开关控制受控侧。
3.根据权利要求2所述的低压伺服掉电检测电路，其特征在于，所述第一三极管为NPN三极管，第一三极管的被控侧包括集电极和发射极，第一三极管的集电极通过上拉电阻连接于电源端，发射极连接于接地端，第二三极管的基极连接在上拉电阻远离所述电源端的一端。
4.根据权利要求3所述的低压伺服掉电检测电路，其特征在于，所述第二三极管为PNP三极管，第二三极管的被控侧包括集电极...
【专利技术属性】
技术研发人员：王刚志，陈凯强，
申请(专利权)人：杭州之山智控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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