光电测距装置制造方法及图纸

技术编号:2655383 阅读:178 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种光电测距装置,包含:一个产生高频调制信号的频率调制器,一个发出测量光到一个被测物体上的发射器,该测量光经该高频调制信号频率调制,一个接收从被测物体反射回来的反射测量光并产生相应高频反射测量信号的雪崩光电二极管,一个产生一个高频混合信号的信号发生装置,和雪崩光电二极管相连,该高频混合信号被输入到雪崩光电二极管,并与高频反射测量信号在雪崩光电二极管中混合产生一个低频测量信号,该低频测量信号包含一可用于确定被测距离的相位信息,该光电测距装置,无需采用额外的内参考光路以及机械转换装置即可消除因雪崩光电二极管而产生的相位漂移所产生的测量误差,从而大大简化了测距装置的结构。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光电测距装置,尤其是一种使用雪崩光电二极管作为测量光接收 元件的光电测距装置。
技术介绍
光电测距装置,比如一种激光相位测距仪,由于其测量精度高而被广泛应用于建筑、 室内装潢等领域。其测量的一般原理是发射器发射出测量调制光束到被测物体上,光电 接收器接收到被被测物体反射回的测量调制光束,由测量调制光发射和接收时的相位差确 定测距仪到被测物体之间的距离。通常,在此过程中使用一个雪崩光电二极管作为接收反 射回的测量调制光束的接收器件。附图说明图1示出了一种基于相位测距原理的光电测距装置的电路原理框图。PLL锁相环电路 11'产生具有相同频率和相位的混频信号和初始频率信号。初始频率信号和MCU微处理器 12'中产生的低频信号在正交调制器13'中形成一个频率调制信号并从中输出,该频率调 制信号经功率放大器14'放大后输出到激光发射器15'上对其进行频率调制,发射器15' 发出测量调制光束到被测物体16'上。雪崩光电二极管17'接收由被测物体16'反射回的 测量调制光束,同时还作为一个直接混频器。在雪崩光电二极管16'中混频信号和反射回 的测量调制光束混频,其输出信号经互阻放大本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电测距装置,包含:    一个产生一个高频调制信号的频率调制器,    一个发出测量光到一个被测物体上的发射器,该测量光经所述高频调制信号频率调制,    一个接收从被测物体反射回来的反射测量光并产生相应高频反射测量信号的雪崩光电二极管,    一个产生一个高频混合信号的信号发生装置,和所述雪崩光电二极管相连,所述高频混合信号被输入到所述雪崩光电二极管,并与所述高频反射测量信号在雪崩光电二极管中混合产生一个低频测量信号,所述低频测量信号包含一可用于确定被测距离的相位信息,以及    一和所述雪崩光电二极管相连、确定被测距离的信号处理装置,    其特征在于:所述频率调制器连接在所述雪崩光...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨德中
申请(专利权)人:南京德朔实业有限公司
类型:实用新型
国别省市:84[中国|南京]

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