测距法和测距议制造技术

一种测距法和该测距法所使用的测距仪，其中采用了模式彼此相等但频率彼此略有不同的第一和第二伪随机信号。产生将第一伪随机信号与第二伪随机信号相乘得出的第一时间系列模式，将强度用第一伪随机信号调制了的激光照射到目标上，接收来自目标的反射光，然后将所收到的反射光的强度变化变换成电信号。将此电信号作为接收信号与第二伪随机信号相乘得出第二时间系列模式。通过计算第一和第二时间系列模式之间的时差测出至目标的距离。（*该技术在2011年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用激光测定至某一目标的距离的一种激光测距法，并涉及实现该测距法的测距仪。更具体地说，本专利技术涉及用伪随机信号调制过的激光进行的距离测量。这种用激光测定至某一目标的绝对距离的方法业已广泛应用于土木工程和建筑业的距离测量，防止与运动物体碰撞的距离测量，作为遥控机器人的可视信息的距离测量，和检查炼铁过程中所使用的转炉或铸桶中耐火材料的损坏或疲劳程度的距离测量等。激光测距法通常分为三类，即相位比较法，脉冲调制法和伪随机信号调制法。下面概括介绍这三种方法。(1)相位比较法例如，日本专利申请公开昭-62-75363即公开了相位比较法。下面参照附图说明图1说明这种方法。激光振荡器21发出的激光由半反射镜27分配到两个光路中。一个光路上的激光进入声光调制器22中。声光调制器22产生频率因与高频振荡器23发出的高频信号相互作用而频移的衍射光。该衍射光经由反射镜44传送到目标17。探测器43监控着该衍射光，即激光。在目标17上反射的光经由半反射镜28进入外差探测器40中。另一方面，从半反射镜27供到另一光路上的激光通过半反射镜28作为参考光进入外差探测器40中。外差探测器40外差地本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测距法，其特征在于，它包括下列步骤：产生波型彼此相等但频率彼此不同的第一和第二伪随机信号；通过将所述第一和第二伪随机信号彼此相乘而产生第一时间系列模式；用所述第一伪随机信号调制激光强度之后令激光照射到目标上；从所述目标作 为接收信号收到所述反射光之后将反射光强度的变化变换成电信号；将所述是信号与所述第二伪随机信号相乘以产生第二时间系列模式；和计算所述第一与第二时间系列模式之间的时差，由此测定出至所述目标的距离。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：长栋章生，手浩一，小峰勇，
申请(专利权)人：日本钢管株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]