修正测距异常的距离图像生成装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供修正测距异常的距离图像生成装置。该距离图像生成装置具备：投光部，其将参照光向被摄体投影；受光部，其具有二维排列的多个像素；光学系统，其将来自被摄体的光引导到受光部；影响度计算单元，其根据多个像素中的关注像素及其周边像素的受光量来计算关注像素以及周边像素中的光学现象的影响度；受影响度计算单元，其根据影响度来计算关注像素受周边像素影响的受影响度；以及距离图像生成单元，其根据受影响度来生成到被摄体的距离图像。

【技术实现步骤摘要】
修正测距异常的距离图像生成装置
本专利技术涉及一种距离图像生成装置，特别涉及一种修正测距异常的距离图像生成装置。
技术介绍
作为测量到物体的距离的距离图像生成装置，已知根据光的飞行时间来输出距离的TOF(timeofflight飞行时间)摄像机。TOF摄像机大多采用以下的相位差方式，其将以预定周期进行了强度调制的参照光照射到对象空间，根据参考光和来自对象空间的反射光之间的相位差，输出对象空间的测距值。相位差是根据反射光的受光量来求出的。在这样的TOF摄像机中，有时会在摄像机内部(透镜、摄像元件的硅层等)引起各种光学现象而产生测距异常。例如，在拍摄白色材料、递归反射材料等强反射材料的情况下，在摄像机内部散射的光可能使测距值失真到本来应该接收的像素的周围像素。这种测距异常不仅限于强反射材料，在将透镜朝向强光源例如太阳的情况下可能发生的闪烁、鬼影等光学现象也会引起发生。另外，由于作为透镜特性的像差的影响，周边像素的测距值有时也会发生异常。图10A和图10B表示由强反射材料引起的测距异常的一个例子。图10A表示TOF摄像机30拍摄圆柱部本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种距离图像生成装置，其特征在于，/n该距离图像生成装置具备：/n投光部，其向被摄体投射参照光；/n受光部，其具有二维排列的多个像素；/n光学系统，其将来自上述被摄体的光引导到上述受光部；/n影响度计算单元，其根据上述多个像素中的关注像素及其周边像素的受光量来计算上述关注像素以及上述周边像素中的光学现象的影响度；/n受影响度计算单元，其根据上述影响度来计算上述关注像素受上述周边像素影响的受影响度；以及/n距离图像生成单元，其根据上述受影响度来生成上述被摄体的距离图像。/n

【技术特征摘要】
20190530 JP 2019-1016021.一种距离图像生成装置，其特征在于，
该距离图像生成装置具备：
投光部，其向被摄体投射参照光；
受光部，其具有二维排列的多个像素；
光学系统，其将来自上述被摄体的光引导到上述受光部；
影响度计算单元，其根据上述多个像素中的关注像素及其周边像素的受光量来计算上述关注像素以及上述周边像素中的光学现象的影响度；
受影响度计算单元，其根据上述影响度来计算上述关注像素受上述周边像素影响的受影响度；以及
距离图像生成单元，其根据上述受影响度来生成上述被摄体的距离图像。


2.根据权利要求1所述的距离图像生成装置，其特征在于，
上述受影响度计算单元针对在相对于上述参照光相位不同的多个摄像定时所拍摄的多个相位图像，生成基于上述受影响度的受影响度图像，上述距离图像生成单元根据上述相位图像与上述受影响度图像之间的差分图像来生成上述距离图像。


3.根据权利要求1或2所述的距离图像生成装...

【专利技术属性】
技术研发人员：高桥祐辉，渡边淳，中村稔，
申请(专利权)人：发那科株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP