一种测试治具，用于检测产品，包括底座及设于所述底座上的针座和侧推结构，针座设有探针与第一收容腔，第一收容腔的边缘位置处设有开口，第一收容腔用于收容产品，侧推结构的一端设于开口位置处并用于推动产品，底座上设有电路板且探针的一端与电路板连接，探针的另一端收容于针座中；当将产品放置于第一收容腔内时，通过侧推结构推动所述产品，使产品抵靠于第一收容腔的内壁上，对产品施加一外力，产品压迫针座，使针座相对底座移动，探针的另一端凸伸出至第一收容腔内与产品连接。还涉及采用该测试治具的测试机台，所述测试治具能够更加便捷的调整产品的位置，以便能够正确的对产品进行检测。
【技术实现步骤摘要】
测试治具及测试机台
本专利技术涉及一种治具，尤其涉及一种测试治具及测试机台。
技术介绍
原有的测试治具在将产品置于其上进行检测时，为了能够准确的对产品进行定位以进行测试，在治具的端盖上设置推块和压块。端盖在向治具下压的过程中，推块用于推动产品移动，端盖上的压块用于下压产品。而在压块下压产品时，产品可能因为没有推动的准确位置，而使得压块与产品的接触面也不准确，从而造成产品表面的损伤。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种测试治具及测试机台，旨在对产品进行测试时，避免出现压伤产品表面这一情况。一种测试测试治具，用于检测产品，包括底座，所述测试治具还包括设于所述底座上的针座和侧推结构，所述针座设有探针与第一收容腔，所述第一收容腔的边缘位置处设有开口，所述第一收容腔用于收容所述产品，所述侧推结构的一端设于所述开口位置处并用于推动所述产品，所述底座上设有电路板且所述探针的一端与所述电路板连接，所述探针的另一端收容于所述针座中；当将所述产品放置于所述第一收容腔内时，通过所述侧推结构推动所述产品，使所述产品抵靠于所述第一收容腔的内壁上，对所述产品施加一外力，所述产品压迫所述针座，使所述针座相对所述底座移动，所述探针的另一端凸伸出至所述第一收容腔内与所述产品连接。在至少一个方式中，所述侧推结构包括侧推块及连接于所述侧推块上的侧推气缸，所述侧推块用于推动所述产品，所述侧推气缸用于驱动所述侧推块。在至少一个方式中，所述侧推块上设有侧推部，所述侧推部设于所述开口位置处；当所述侧推结构推动所述产品时，所述侧推部推动所述产品。在至少一个方式中，所述测试治具还包括限位块，所述限位块设于所述底座上且所述限位块设有第二收容腔，所述针座设于所述第二收容腔中。在至少一个方式中，所述限位块在所述开口的对应位置处开设有缺口，所述侧推部置于所述缺口处。在至少一个方式中，所述针座上设有真空吸孔，所述真空吸孔处设有真空吸管；当所述产品被所述侧推结构推动至抵靠在所述第一收容腔的内壁上时，所述真空吸管通过所述真空吸孔对所述产品施加一吸附力，使得所述产品下压所述针座。在至少一个方式中，所述底座上设有收容空间，所述针座和所述侧推结构设于所述收容空间内，所述收容空间的轮廓与所述针座、所述限位块和所述侧推结构相适配。在至少一个方式中，所述针座和所述电路板设于所述底座的相对两端，以使所述探针与所述电路板连接。在至少一个方式中，所述电路板上设有连接器，所述测试治具通过所述连接器与外部结构连接。一种测试机台，包括一测试治具，所述测试治具为上述中任一项所述的测试治具。上述测试治具及测试机台，通过在底座上设置针座和侧推机构，所述针座设有探针与第一收容腔，所述第一收容腔的边缘位置处设有开口，所述侧推结构的一端设于所述开口位置处并用于推动所述产品，所述底座上设有电路板且所述探针的一端与所述电路板连接，所述探针的另一端收容于所述针座中。将产品置于针座中时，通过侧推机构推动产品至准确位置后，对产品施加一外力，使产品下压所述针座，所述针座上的探针凸伸出至所述第一收容腔内与所述产品连接。通过上述的测试治具，能够准确的将产品推动至准确位置，将所述产品下压后，所述针座相对所述底座移动，所述针座上的探针与所述产品连接，从而对产品进行检测，采用该测试治具能够更便捷的检测产品并且不会损坏产品表面。附图说明图1为测试治具的的立体图。图2为图1所示的测试治具的分解图。图3为图1所示的测试治具的俯视图。主要元件符号说明测试治具100底座10收容空间11限位部111电路板12连接器13针座20第一收容腔21拐角211侧壁212探针22真空吸孔23开口24侧推结构30侧推块31侧推部311侧推面312侧推气缸32推杆321第一限位块40第二收容腔41缺口42第二限位块50固定块60产品200具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“顶”、“底”、“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。请参阅图1，一种测试机台(图未标示)，用于对产品200进行测试。进一步地，所述产品200为摄影模块中的单体成品。具体的，所述测试机台包括测试治具100，所述测试机台通过将所述产品200放置于所述测试治具100上，以对所述产品200进行检测。请参阅图1和图2，所述测试治具100包括底座10及设于所述底座10上的针座20和侧推结构30，所述针座20设有探针22与第一收容腔21，所述第一收容腔21的边缘位置处设有开口24，所述第一收容腔21用于收容所述产品200，所述侧推结构30的一端设于所述开口24位置处并用于推动所述产品200，所述底座10上设有电路板12且所述探针22的一端与所述电路板12连接，所述探针22的另一端收容于所述针座20中。当将所述产品200放置于所述第一收容腔21内时，通过所述侧推结构30推动所述产品200，使所述产品200抵靠于所述第一收容腔21的内壁上，对所述产品200施加一外力，所述产品200压迫所述针座20，使所述针座20相对所述底座10移动，所述探针22的另一端凸伸出至所述第一收容腔21内与所述产品200连接。请参阅图2，所述底座10的一端面上开设有收容空间11，所述针座20和所述侧推结构30设于所述收容空间11内且所述收容空间11的内轮廓与所述针座20和所述侧推结构30相适配。所述底座10在设有所述针座20和所述侧推结构30的相对一端设有所述电路板12，所述针座20和所述电路板12设于所述底座10的相对两端，以使所述探针22与所述电路板12连接。当对所述产品200施加一外力时，所述探针22凸伸出至所述第一收容腔21内与所述产品200连接。具体地，所述收容空间11的边缘位置处有限位部111，所述限位部111用于抵持所述侧推结构30并引导所述侧推结构30的推动方向。所述产品200上设有连接部(图未标示)，所述电路板12上设有另一连接部(图未标示)本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测试治具，用于检测产品，包括底座，其特征在于：所述测试治具还包括设于所述底座上的针座和侧推结构，所述针座设有探针与第一收容腔，所述第一收容腔的边缘位置处设有开口，所述第一收容腔用于收容所述产品，所述侧推结构的一端设于所述开口位置处并用于推动所述产品，所述底座上设有电路板且所述探针的一端与所述电路板连接，所述探针的另一端收容于所述针座中；/n当将所述产品放置于所述第一收容腔内时，通过所述侧推结构推动所述产品，使所述产品抵靠于所述第一收容腔的内壁上，对所述产品施加一外力，所述产品压迫所述针座，使所述针座相对所述底座移动，所述探针的另一端凸伸出至所述第一收容腔内与所述产品连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种测试治具，用于检测产品，包括底座，其特征在于：所述测试治具还包括设于所述底座上的针座和侧推结构，所述针座设有探针与第一收容腔，所述第一收容腔的边缘位置处设有开口，所述第一收容腔用于收容所述产品，所述侧推结构的一端设于所述开口位置处并用于推动所述产品，所述底座上设有电路板且所述探针的一端与所述电路板连接，所述探针的另一端收容于所述针座中；
当将所述产品放置于所述第一收容腔内时，通过所述侧推结构推动所述产品，使所述产品抵靠于所述第一收容腔的内壁上，对所述产品施加一外力，所述产品压迫所述针座，使所述针座相对所述底座移动，所述探针的另一端凸伸出至所述第一收容腔内与所述产品连接。
2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述侧推结构包括侧推块及连接于所述侧推块上的侧推气缸，所述侧推块用于推动所述产品，所述侧推气缸用于驱动所述侧推块。
3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于：所述侧推块上设有侧推部，所述侧推部设于所述开口位置处；当所述侧推结构推动所述产品时，所述侧推部推动所述产品。
4.如权利要求3所述的测试治具，其特征在于：所述测试治具还包括限位块，所述限位块...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘阳刚，
申请(专利权)人：三赢科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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