【技术实现步骤摘要】
荧光光谱仪的样品盘定位装置
本技术涉及光谱仪
,尤其涉及荧光光谱仪的样品盘定位装置。
技术介绍
荧光光谱仪又称荧光分光光度计,其中包括X射线荧光光谱仪,它是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测,可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性,以及荧光的淬灭方面的信息。现有技术中公开了申请号为201820565900.4,名称为全反射X荧光光谱仪的样品盘定位装置,该专利文献中样品盘定位和光谱仪采用分体式设计,安装时将样品盘本体的一侧卡入定位板上的卡槽中,旋转第二旋钮,使样品盘本体的另一侧卡入另一定位板的卡槽中,旋紧第二旋钮,增加两防滑垫之间的紧凑度,从而使样品盘本体在横向方向上被夹紧,通过调节第一旋钮,使蜗轮蜗杆的蜗杆向上顶压样品盘本体底面,使样品盘本体的底面受到向上的托举力。该定位装置结构每次使用前均需要对样品盘定位进行安装定位,并且定位操作比较麻烦,一定程度上会影响样品的检测工作,基于此,提出本技术。
技术实现思路
本技术旨 ...
【技术保护点】
1.荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:包括探测器和样品盘本体;/n所述探测器通过支架固定于工作台面上;/n所述工作台面上安装有定位台,所述样品盘本体活动安装在所述定位台上并可沿所述定位台的长度方向滑动;/n所述定位台上位于所述样品盘本体的两侧活动安装有用于夹持所述样品盘本体的定位块,两个所述定位块通过丝杆副传动可同步相对或相背移动。/n
【技术特征摘要】
1.荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:包括探测器和样品盘本体;
所述探测器通过支架固定于工作台面上;
所述工作台面上安装有定位台,所述样品盘本体活动安装在所述定位台上并可沿所述定位台的长度方向滑动;
所述定位台上位于所述样品盘本体的两侧活动安装有用于夹持所述样品盘本体的定位块,两个所述定位块通过丝杆副传动可同步相对或相背移动。
2.根据权利要求1所述的荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述定位台为上部具有开口的腔体结构,所述定位台内沿其长度方向设置有丝杆,所述丝杆的两端贯穿所述定位台并延伸至其外部,所述丝杆与所述定位台的连接处安装有轴承,所述丝杆通过所述轴承与所述定位台转动连接,所述丝杆的任一端部安装有调节螺栓。
3.根据权利要求2所述的荧光光谱仪的样品盘定位装置,其特征在于:所述定位块的横截面为T型,所述定位块的底部嵌入在所述定位台的腔...
【专利技术属性】
技术研发人员:金民,
申请(专利权)人:南京彤乐仪器设备有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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