频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪制造技术

高精确度、长距离（几十到几百米）亚毫米量级测量仪器一直是国际上研究的难点和热点。本发明专利技术提出一种利用频率扫描干涉法进行远距离高精度绝对距离测量的系统，属于精密测量技术领域。该距离测量系统主要有无模跳频率扫描外腔半导体激光器、高精度法布里－珀罗腔、参考干涉计、测量干涉计，以及数据采集和控制系统组成。通过激光器的频率扫描利用干涉法可以直接测量相位差，所测的绝对距离和相位差成正比，通过相位解包裹得到完整的相位差，消除了模２π的不确定性，不存在绝对距离测量的不确定性。该系统具有测量精度高、快速、稳定、可靠等优点，适用于空间综合孔径子孔径间的距离测量、小行星编队、测绘、建筑以及军事等领域。

【技术实现步骤摘要】

高精确度、长距离(几十到几百米)亚亳米量级测量仪器一直是国际上研 究的难点和热点。本专利技术提出一种利用频率扫描干涉法进行高精度远距离测量 的绝对距离测量系统，属于精密测量
可以用于中长距离精密距离测 量方面，尤其适用于空间综合孔径子孔径间距离测定及定位，小卫星编队、测 绘、建筑以及军事等领域。2.
技术介绍
近年来，国内外对空间的研究越来越重视，包括多卫星飞行中编队、引力 波探测、X-射线望远镜和空间综合孔径子望远镜排列及定位等，因此，精密的测量和控制系统作为科学测量的重要组成部分显得尤为重要。对于空间综合孔 径干涉成像，通过干涉测量获取行星更高的角分辨率，而干涉测量要求各个子 孔径间具有精确的位置关系和稳定的距离。为了得到清晰的图像，各个子望远 镜接收到星体发出的光所经过的光程应该一致，所以，必须有精密的测量系统 来监视各个系统之间的距离、角度和速度，这就要求在几十到上百米范围测距 的精度需达到几十微米，甚至更低。本专利技术主要面向远距离高精度绝对距离测 量领域的应用。为了达到如此高的测量精度，只能釆用激光测距法。传统的激光测距方法 有飞行时间法、幅度调制法、单波长干本文档来自技高网...

【技术保护点】
频率扫描干涉法高精度绝对距离测量系统，其特征在于：利用频率扫描外差干涉实现绝对距离测量，系统稳定、测量精度高，可以实现长距离测量，在上百米的范围内测量精度可达微米量级。该距离测量系统主要有无模跳频率扫描外腔半导体激光器、高精度法布里－珀罗腔、参考干涉计、测量干涉计和数据采集和控制系统组成。频率扫描的同时进行相位解包裹，得到完整的相位差，消除了距离测量中的不确定性问题。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张绪国，江月松，王长伟，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[]