空间信息检测设备制造技术

提供了一种设备，该设备使用强度调制光以基于从目标空间反射的光的光强度来检测空间信息。该设备设有定时同步电路，用于使得来自发光元件的强度调制光的相位与操作接收该强度调制光的光接收元件的定时同步。光接收元件操作用于能够针对该强度调制光的一个周期中的多个相位区间中的每个相位区间来检测接收光的强度。定时同步电路用于将确定光接收元件的操作的周期性变化与和发光元件驱动电路的输出相关的周期性变化进行比较，以保持这两个周期性变化之间的恒定的相位差。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种空间信息检测i殳备，该设备基于向目标空间投射的强 度调制光与位于目标空间中的物体所反射的强度调制光之间的关系、使用 强度调制光iM^测空间信息，例如距该物体的距离以及该物体的反射率。
技术介绍
日本专利申请公开No. 2004-45304公开了一种通过使用强度调制光 来测量距位于目标空间中的物体的距离的技术。当使用正弦波形的强度调制光时，从物体反射的光仍为正弦波形，其具有to巨物体的距离而变化的相位差。因此，可以基于发射的强度调制光与反射的强度调制光之间的相 位差来测量距被照射的目标空间中的物体的距离。基于针对多个相位区间中的每个相位区间的接收强度调制光的强度 测量，可以根据相位区间的位置与接收光强度之间的关系来获得相位差。 例如，可以将接收光强度Ir表示为lr-n'l (t-d) +le:，其中l(t)表示作为时间t的函数的投射光强度，n是由于距物体的距离或者物体处的反射系 数而导致的光衰减因子，Ie是环境(干扰)光的强度，d是与距物体的距 离L相对应的延迟时间，并^^示为d-2L/c。上述表达式具有三个未知数衰减因子n、延迟时间d、以及环境光 的强度Ie，这三本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种空间信息检测设备，包括：　发光元件（１００），被配置用于向目标空间发射强度调制光；　发光信号发生电路（１０），被配置用于产生发光定时信号（Ｅ１），所述发光定时信号确定了所述发光元件的发光定时；　发光元件驱动电路（３０），被配置用于响应于所述发光定时信号而输出发光元件驱动信号（Ｅ２），以便从所述发光元件产生所述强度调制光；　光接收元件（２００），被配置用于接收从所述目标空间中的物体反射的所述强度调制光；　信息输出电路（３００），被配置用于针对多个相位区间（Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２和Ｐ３）中的每个相位区间来提取在所述光接收元件处接收的光的光强度，基于所述提取的光强度的变化来确定来自所述发光元件的所述强...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊原稔，桥本裕介，坂本慎司，高田裕司，
申请(专利权)人：松下电工株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]