像元级ADC焦平面读出电路及其校正方法技术

本发明专利技术用于焦平面读出电路设计，具体为像元级ADC焦平面读出电路及其校正方法；所述读出电路包括光电探测器、电流控制振荡器、计数器、静态随机存取存储器、移位寄存器和数据总线，光电探测器的输出端连接电流控制振荡器的输入端；电流控制振荡器的输出端连接计数器的输入端；计数器的另一个输入端连接静态随机存取存储器的输出端，且计数器的输出端连接到移位寄存器的输入端上；静态随机存取存储器的另一个输出端连接电流控制振荡器的反馈输入端；静态随机存取存储器的输入端连接移位寄存器的另一个输出端；移位寄存器上连接有数据总线并输出转换后的电流信号大小；本发明专利技术实现方式简单，不需要额外运算资源，不增加系统功耗；且利于实时处理。

【技术实现步骤摘要】
像元级ADC焦平面读出电路及其校正方法
本专利技术用于焦平面读出电路设计，具体为读出电路提供像元非均匀性校正方法。
技术介绍
由于材料和工艺非均匀性的影响，焦平面像元与像元之间对光信号的响应不可避免存在非均匀性，即相同的光通量输入对应不同的数码输出，导致最终图像存在空间噪声，影响图像的成像质量；因此，对焦平面图像进行非均匀性校正(nonuniformitycorrection，简称NUC)具有重要意义。在传统的焦平面读出电路(Readoutintegratedcircuit，简称ROIC)技术中，由探测器产生的光电流信号在电容器(电子阱)中累积转换为电压信号，然后对该电压信号进行ADC转换实现数字化读出，图像的非均匀性校正在数字域中实现。典型的两点NUC校正需要对每一个像元的数码进行零位加减和增益乘法运算，随着图像面阵的扩大和帧频提升，NUC运算量急剧增加，导致系统功耗增加，效能下降。
技术实现思路
本专利技术主要针对数字算法级的NUC占用运算资源多的缺点，提出了一种像元级ADC焦平面读出电路及其校正方法；基于像元级本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种像元级ADC焦平面读出电路，其特征在于，所述像元级ADC焦平面读出电路包括光电探测器、电流控制振荡器、计数器、静态随机存取存储器、移位寄存器以及数据总线，所述光电探测器的输出端连接电流控制振荡器的输入端；所述电流控制振荡器的输出端连接计数器的一个输入端；所述计数器的另一个输入端连接静态随机存取存储器的一个输出端，且所述计数器的输出端连接到所述移位寄存器的输入端上；所述静态随机存取存储器的另一个输出端连接电流控制振荡器的反馈输入端；所述静态随机存取存储器的输入端连接移位寄存器的另一个输出端；所述移位寄存器上连接有数据总线并输出转换后的电流信号大小。/n

【技术特征摘要】
1.一种像元级ADC焦平面读出电路，其特征在于，所述像元级ADC焦平面读出电路包括光电探测器、电流控制振荡器、计数器、静态随机存取存储器、移位寄存器以及数据总线，所述光电探测器的输出端连接电流控制振荡器的输入端；所述电流控制振荡器的输出端连接计数器的一个输入端；所述计数器的另一个输入端连接静态随机存取存储器的一个输出端，且所述计数器的输出端连接到所述移位寄存器的输入端上；所述静态随机存取存储器的另一个输出端连接电流控制振荡器的反馈输入端；所述静态随机存取存储器的输入端连接移位寄存器的另一个输出端；所述移位寄存器上连接有数据总线并输出转换后的电流信号大小。


2.根据权利要求1所述的一种像元级ADC焦平面读出电路，其特征在于，所述静态随机存取存储器中8～12bits字节用于存储零位补偿信息，并连接至所述计数器的另一个输入端上；2～4bits字节用于存储增益补偿信息，并连接至所述电流控制振荡器的反馈输入端上。


3.根据权利要求1所述的一种像元级ADC焦平面读出电路，其特征在于，所述电流控制振荡器包括多个并联电容；其中部分电容与开关连接，构成电容值可控的电容；所述静态随机存取存储器的另一个输出端连接所述电流控制振荡器中的这些带有开关的部分电容。


4.根据权利要求1所述的一种像元级ADC焦...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄文刚，曾岩，高炜琪，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十四研究所，
类型：发明
国别省市：重庆;50