一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法及系统，包括：通过在被测综合测试仪和被测终端之间周期性切换开路模式和短路模式，获取在开路模式和短路模式下被测综合测试仪的接收信号；根据接收信号的相位得到接收信号的相位斜率，根据接收信号的采样数和相位斜率对初始相位漂移进行补偿，得到补偿后的接收信号；根据补偿前后的接收信号对被测综合测试仪的线缆损耗进行补偿。通过周期性切换开路模式和短路模式，获取被测综合测试仪的接收机端的接收信号，根据接收信号的相位信息得到非相干性造成的初始相位漂移的相位斜率，并对初始相位漂移进行补偿，从而得到需补偿的线缆损耗，提高线缆损耗计算的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法及系统
本专利技术涉及终端测试
，特别是涉及一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法及系统。
技术介绍
本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
信息，不必然构成在先技术。随着5G通信的研发，5G终端综测仪作为5G终端研发、生产的关键验证手段，其质量的好坏、效率的高低能够间接影响5G终端的开发。为提高产线终端的测试效率，5G终端综合测试仪端口到被测终端之间可以经过工装、线缆等转接，需要将这部分通路损耗进行精确测量，并在测试结果中进行自动修正。当综测仪中的发射机和接收机的振荡器之间不存在相干性时，导致发射机和接收机的起始相位不同于使用矢量网络分析仪校准电缆的情况，因此必须考虑非相干性带来的影响。现有方法中，一般采用矢量网络分析仪测试终端和综合测试仪之间的线缆损耗，进而对综合测试仪和终端之间的线缆损耗进行补偿。但是，这种模式增加了产线测试的复杂化程度；另外，为提高产线终端的测试效率，直接将5G终端综合测试仪端口和被测终端之间进行工装、线缆等转接，对线缆损耗进行测量，然而该种方法当综合测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法，其特征在于，包括：/n通过在被测综合测试仪和被测终端之间周期性切换开路模式和短路模式，获取在开路模式和短路模式下被测综合测试仪的接收信号；/n根据接收信号的相位得到接收信号的相位斜率，根据接收信号的采样数和相位斜率对初始相位漂移进行补偿，得到补偿后的接收信号；/n根据补偿前后的接收信号对被测综合测试仪的线缆损耗进行补偿。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法，其特征在于，包括：
通过在被测综合测试仪和被测终端之间周期性切换开路模式和短路模式，获取在开路模式和短路模式下被测综合测试仪的接收信号；
根据接收信号的相位得到接收信号的相位斜率，根据接收信号的采样数和相位斜率对初始相位漂移进行补偿，得到补偿后的接收信号；
根据补偿前后的接收信号对被测综合测试仪的线缆损耗进行补偿。


2.如权利要求1所述的一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法，其特征在于，在被测综合测试仪和被测终端构成的校准回路中，被测综合测试仪端口接入open转接头和short转接头，以对校准回路构成开路模式和短路模式。


3.如权利要求2所述的一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法，其特征在于，在校准回路中接入电子开关，通过电子开关在开路模式和短路模式之间进行周期性切换。


4.如权利要求1所述的一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法，其特征在于，
被测综合测试仪端口接入open转接头时，接收信号为：



被测综合测试仪端口接入short转接头时，接收信号为：



其中，θτ是相位；A是幅值损耗；a为中间变量；x[n]是发送信号。


5.如权利要求1所述的一种用于综合测试仪的线缆损耗补偿方法，其特征在于，存在固定频差w时，在开路模式和短路模式下，接收信号分别为：






其中，θτ是相位；A...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡正，郭利强，牛大胜，李树芳，董守拯，
申请(专利权)人：中电科仪器仪表有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37