一种测量高度的方法和电子设备技术

本发明专利技术实施例提供了一种应用于电子设备的高度测量的方法。其中，电子设备至少包括第一主体、第二主体以及连接第一主体和第二主体的第一连接轴，第一主体和第二主体围绕第一连接轴可旋转。用户将待测物体置于所述第一主体上，旋转所述第二主体以测量该待测物体的高度。所述方法包括：电子设备检测待测物体是否与第二主体接触；电子设备识别第一主体和第二主体的夹角；在待测物体与第二主体接触时，电子设备识别待测物体与第二主体的触点到第一连接轴的距离；电子设备根据上述夹角和上述距离计算待测物体的高度；电子设备输出该待测物体的高度。

【技术实现步骤摘要】
一种测量高度的方法和电子设备
本专利技术实施例涉及电子
，尤其涉及一种测量高度的方法和电子设备。
技术介绍
随着电子技术的不断发展，手机等电子设备具备的功能越来越多、体验越来越丰富。比如，用户可以通过手机测量物体的尺寸。现有技术中，一种长度测量的实现方案为：如图1所示，电子设备的在显示屏上显示虚拟的测量直尺101。用户可以通过该直尺101测量物体102的高度。用户将直尺101的“0”刻度对准测量目标的起点，读取测量目标终点对应的数值，以实现对高度的测量。示例性的，如图1所示，测量目标的高度为8.5厘米。现有技术中的长度测量方法，测量操作比较繁琐。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种测量高度的方法和电子设备，方便用户测量物体的高度。第一方面，本申请实施例提供一种应用于电子设备的高度测量方法。其中，该电子设备包括至少包括第一主体、第二主体以及连接所述第一主体和所述第二主体的第一连接轴，所述第一主体和所述第二主体围绕所述第一连接轴可旋转。一种可能的高度测量方法，将待测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种应用于电子设备的测量高度方法，其特征在于，/n所述电子设备至少包括第一主体、第二主体以及连接所述第一主体和所述第二主体的第一连接轴，所述第一主体和所述第二主体围绕所述第一连接轴可旋转；/n当待测物体置于所述第一主体上时，所述方法包括：/n所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第二主体接触；/n所述电子设备识别所述第一主体和所述第二主体的夹角；/n在所述待测物体与所述第二主体接触时，所述电子设备识别所述待测物体与所述第二主体的触点到所述第一连接轴的距离；/n所述电子设备根据所述夹角和所述距离得到所述待测物体的高度/n所述电子设备输出所述待测物体的高度。/n

【技术特征摘要】
1.一种应用于电子设备的测量高度方法，其特征在于，
所述电子设备至少包括第一主体、第二主体以及连接所述第一主体和所述第二主体的第一连接轴，所述第一主体和所述第二主体围绕所述第一连接轴可旋转；
当待测物体置于所述第一主体上时，所述方法包括：
所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第二主体接触；
所述电子设备识别所述第一主体和所述第二主体的夹角；
在所述待测物体与所述第二主体接触时，所述电子设备识别所述待测物体与所述第二主体的触点到所述第一连接轴的距离；
所述电子设备根据所述夹角和所述距离得到所述待测物体的高度
所述电子设备输出所述待测物体的高度。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备根据所述夹角和所述距离得到所述待测物体的高度，包括：
所述电子设备采用公式h＝L1×sinɑ，计算得到所述待测物体的高度h；
其中，L1是所述距离，ɑ是所述第一主体和所述第二主体的夹角。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述电子设备识别所述第一主体和所述第二主体的夹角，包括：
响应于所述电子设备检测所述待测物体与所述第二主体接触，所述电子设备识别所述第一主体和所述第二主体的夹角。


4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，
所述电子设备还包括压力传感器；
所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第二主体接触包括：
所述电子设备通过所述压力传感器检测所述待测物体是否与所述第二主体接触。


5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，在所述电子设备检测是否接触所述待测物体之前，所述方法还包括：
电子设备接收第一输入
响应于所述第一输入，所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第二主体接触。


6.一种应用于电子设备的测量高度方法，其特征在于，
所述电子设备至少包括第一主体、第二主体以及连接所述第一主体和所述第二主体的第一连接轴，所述第一主体和所述第二主体围绕所述第一连接轴可旋转；
所述方法包括：
所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第一主体接触；
所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第二主体接触；
所述电子设备检测所述第一主体和所述第二主体的夹角；
在所述待测物体与所述第一主体接触时，所述电子设备识别所述待测物体与所述第一主体的第一触点到所述第一连接轴的第一距离；
在所述待测物体与所述第二主体接触时，所述电子设备识别所述待测物体与所述第二主体的第二触点到所述第一连接轴的第二距离；
所述电子设备根据所述夹角、所述第一距离以及所述第二距离得到所述待测物体的高度。


7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述电子设备根据所述夹角、所述第一距离以及所述第二距离得到所述待测物体的高度，包括：
所述电子设备采用公式h2＝L22+L32-2L2L3cosɑ，计算得到所述待测物体的高度h；
其中，L2是所述第一距离，L3是所述第二距离，ɑ是所述第一主体和所述第二主体的夹角。


8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述电子设备识别所述第一主体和所述第二主体的夹角，包括：
响应于所述电子设备检测所述待测物体与所述第二主体接触且所述待测物体与所述第一主体接触，所述电子设备识别所述第一主体和所述第二主体的夹角。


9.根据权利要求6-8所述的方法，其特征在于，
所述电子设备还包括压力传感器；
所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第一主体接触包括：
所述电子设备通过所述压力传感器检测所述待测物体是否与所述第一主体接触；
所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第二主体接触包括：
所述电子设备通过所述压力传感器检测所述待测物体是否与所述第二主体接触。


10.根据权利要求6-9任一项所述的方法，其特征在于，在所述电子设备检测是否接触所述待测物体之前，所述方法还包括：
电子设备接收第一输入；
响应于所述第一输入，所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第二主体接触；或/和响应于所述第一输入，所述电子设备检测所述待测物体是否与所述第一主体接触。


11.一种测量高度的电子设备，其特征在于，包括：
第一主体、第二主体以及连接所述第一主体和所述第二主体的第一连接轴，所述第一主体和所述第二主体围绕所述第一连接轴可旋转；
处理器；
存储器...

【专利技术属性】
技术研发人员：卞苏成，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44