一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法技术

本发明专利技术公开了一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法。本发明专利技术基于三维有限元正演算法建立正演模型，分析阵列侧向测井响应对斜井各向异性地层参数的敏感性，构建阵列侧向测井响应数据库，校正实测曲线并分层；根据区块地层信息选择对应数据库，结合敏感性分析建立反演初值选取图版，快速确定各参数初值，建立反演模型，初始化后模拟阵列侧向测井反演曲线，计算其与校正后实测曲线间的二范数并判断是否满足精度要求，若满足，则确定最优斜井各向异性地层参数，若不满足，则根据储层先验信息约束反演模型，采用正则化Levenberg‑Marquardt算法迭代更新地层参数直至满足精度要求，确定最优斜井各向异性地层参数。本发明专利技术为复杂储层的精细评价奠定了基础。

【技术实现步骤摘要】
一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法
本专利技术涉及石油勘探开发领域，具体涉及一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法。
技术介绍
在斜井钻井过程中，阵列侧向测井因其聚焦能力强、纵向分辨率高，且能够提供多条具有不同探测深度的曲线，极大的丰富了井下地层信息，被广泛应用于油气藏评价。但是，阵列侧向测井受钻井液侵入、地层倾角和各向异性等因素的影响，不同探测深度的视电阻率曲线分离严重，导致视电阻率值无法反映地层真实电阻率，因此准确提取地层真实电阻率已成为储层精细评价需要解决的关键问题之一。截至目前，针对各向异性地层阵列侧向测井资料的快速处理主要存在以下三个问题：1)地层模型复杂，正演难度大；2)反演参数类型多样，雅可比矩阵计算量大；3)反演初值选取困难，结果易陷于局部极小值。因此，需要提出一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，提高各向异性地层阵列侧向测井资料实际处理过程中的速度和精度，为复杂储层的精细评价提供准确的电阻率信息。
技术实现思路
本专利技术旨在解决斜井各向异性地层反演参数众本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，其特征在于，具体包括以下步骤：/n步骤1，基于Visual Studio软件平台，建立斜井各向异性地层正演模型；定义地层倾角θ、侵入深度Di、原状地层水平电阻率R

【技术特征摘要】
1.一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
步骤1，基于VisualStudio软件平台，建立斜井各向异性地层正演模型；定义地层倾角θ、侵入深度Di、原状地层水平电阻率Rth、侵入带水平电阻率Rxoh和各向异性系数λ为斜井各向异性地层参数，通过设置斜井各向异性地层正演模型中的斜井各向异性地层参数和井眼环境参数，基于三维有限元正演算法，利用斜井各向异性地层正演模型进行正演模拟，得到阵列侧向测井正演曲线；根据阵列侧向测井正演曲线，计算曲线分离因子SF，分析阵列侧向测井响应对各斜井各向异性地层参数的敏感性；
步骤2，基于步骤1中建立的斜井各向异性地层正演模型，保持井眼环境参数不变，依次改变地层倾角θ、侵入深度Di、原状地层水平电阻率Rth、原状地层水平电阻率与侵入带水平电阻率的比值Rth/Rxoh和各向异性系数λ的取值，模拟得到不同斜井各向异性地层参数条件下的阵列侧向测井响应，构建阵列侧向测井响应数据库，并将阵列侧向测井响应数据库进一步细分为高侵数据库、低侵数据库和未侵入数据库；
步骤3，利用测井资料处理软件CIFLog对实测阵列侧向测井曲线进行井眼环境校正，得到校正后的阵列侧向测井曲线，并根据曲线拐点对校正后的阵列侧向测井曲线进行分层；
步骤4，获取区块地层信息，判断地层侵入类型，选择与地层侵入类型相匹配的阵列侧向测井响应数据库；
步骤5，结合步骤1中斜井各向异性地层参数的敏感性分析和步骤4中所匹配的阵列侧向测井响应数据库，针对斜井各向异性地层参数，建立反演初值选取图版，确定各斜井各向异性地层参数的反演初值；
步骤6：基于步骤1建立的斜井各向异性地层正演模型，建立斜井各向异性地层反演模型，结合步骤5中获取的各斜井各向异性地层参数的反演初值，对斜井各向异性地层反演模型进行初始化；
步骤7，将步骤3中校正后的阵列侧向测井曲线代入步骤5初始化后的斜井各向异性地层反演模型中进行反演，模拟得到阵列侧向测井反演曲线；根据校正后的阵列侧向测井曲线和反演模拟得到的阵列侧向测井反演曲线，计算校正后的阵列侧向测井曲线视电阻率值与反演阵列侧向测井视电阻率值的二范数；判断该二范数是否满足小于10-6的精度要求，若满足，则确定各斜井各向异性地层参数的反演初值为最优斜井各向异性地层参数，执行步骤10，若不满足，则执行步骤8；
步骤8，根据储层先验信息，确定斜井各向异性地层反演模型中的斜井各向异性地层参数的取值范围，对斜井各向异性地层反演模型施加约束；
步骤9，基于正则化Levenberg-Marquardt算法对斜井各向异性地层反演模型中的斜井各向异性地层参数进行迭代更新，确定最优斜井各向异性地层参数；
步骤10，输出确定的最优斜井各向异性地层参数。


2.如权利要求1所述的一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，其特征在于，所述步骤1中，阵列侧向测井响应对各斜井各向异性地层参数的敏感性分析过程如下：
将阵列侧向测井正演曲线按照探测深度由浅到深的顺序依次命名为RLA1、RLA2、RLA3、RLA4和RLA5，根据阵列侧向测井正演曲线，计算曲线分离因子SF，公式如下所示：



式中，i表示阵列侧向测井正演曲线编号，i的取值范围为2～5；RRLAi表示阵列侧向测井正演曲线RLAi的视电阻率值，单位为Ω·m；
改变斜井各向异性地层参数中各参数的大小，模拟得到不同斜井各向异性地层参数条件下的阵列侧向测井正演曲线，分析各斜井各向异性地层参数对曲线分离因子SF的影响，确定阵列侧向测井响应对各斜井各向异性地层参数的敏感性。


3.如权利要求1所述的一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，其特征在于，所述步骤2中，根据原状地层水平电阻率与侵入带水平电阻率的比值Rth/Rxoh，对阵列侧向测井响应数据库进行细分，若原状地层水平电阻率与侵入带水平电阻率的比值Rth/Rxoh＞1，则为高侵数据库；若原状地层水平电阻率与侵入带水平电阻率的比值Rth/Rxoh＜1，则为低侵数据库；原状地层水平电阻率与侵入带水平电阻率的比值Rth/Rxoh＝1，则为未侵入数据库中。


4.如权利要求1所述的一种斜井各向异性地层阵列侧向测井资料快速处理方法，其特征在于，所述步骤3...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴易智，范宜仁，李潮流，王磊，巫振观，邢涛，袁超，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：山东;37