诊断辐射EMI机理的实验台及辐射EMI机理的简易诊断方法技术

本发明专利技术公开了一种诊断辐射ＥＭＩ机理的实验台及简易诊断方法，实验台由工作台、电场探头和磁场探头组、频谱分析仪和计算机构成；电场探头和磁场探头组可以在工作台上方三维移动；电场探头和磁场探头组交替连接频谱分析仪输入端，频谱分析仪的输出端接计算机。诊断步骤：将被测电路平面区域划分为若干辐射干扰单元；确定辐射电／磁场精测频段。辐射干扰单元辐射干扰精测，根据辐射电／磁场精测频段调整频谱分析仪的扫描频段，分别用电／磁场探头依次测量各辐射干扰单元的电平值，计算各辐射干扰单元的辐射电／磁场强度。本发明专利技术实验台结构简单、成本低。本发明专利技术方法能快速简便地检测出电子系统的辐射ＥＭＩ噪声种类，为辐射ＥＭＩ噪声抑制方案提供理论依据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种诊断辐射电磁干扰(EMI)机理的实验台及辐射电磁干扰(EMI)机理的简易诊断方法，属于电磁兼容
技术背景现代电力电子产品正面向微型化、智能化，系统的设计也越来越复杂，加上电力电子设备中开关元件的高速开关产生的系统寄生参数，致使设备遭受传辐射型干扰愈加严重，而且对系统抗电磁干扰能力的要求越来越高。因而，为了节省开发时间，节约开发费用，同时也为产品通过质检部门的检验做好前期准备，对产品进行辐射EMI测试是必不可少的。辐射EMI测试实质上是一种过程测试，而非一个简单的检验测试，应将之贯穿于产品的整个生产、设计过程中。同时，辐射EMI测试平台对于这个过程测试来讲又是必不可少的。可见，为了进行一系列的近场电磁辐射测量，实验平台的搭建是尤为重要的。目前，市场上的扫描系统大都采用阵列探头来探测由于高频电流发生变化而引起的电磁场的变化，从而提供出电磁场在空间分布的视觉图像。然而此类仪器均较为昂贵，中小企业难以承受，从经济角度来讲，有必要设计出价格便宜而又实用的近场辐射测试平台。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题，在于克服现有技术存在的缺陷，提出了一种基于频谱分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
诊断辐射ＥＭＩ机理的实验台，由工作台、电场探头和磁场探头组、频谱分析仪和计算机构成；其特征是：工作台采用绝缘材质，工作台台面设有门字形探头支架，探头支架可沿工作台台面边缘水平行走；门字形探头支架的横梁上设有探头支杆，探头支杆可沿支架横梁水平移动和垂直移动；电场探头和磁场探头组设于探头支杆下端部；电场探头和磁场探头组交替连接频谱分析仪输入端，频谱分析仪的输出端接计算机。

【技术特征摘要】
1、诊断辐射EMI机理的实验台，由工作台、电场探头和磁场探头组、频谱分析仪和计算机构成；其特征是：工作台采用绝缘材质，工作台台面设有门字形探头支架，探头支架可沿工作台台面边缘水平行走；门字形探头支架的横梁上设有探头支杆，探头支杆可沿支架横梁水平移动和垂直移动；电场探头和磁场探头组设于探头支杆下端部；电场探头和磁场探头组交替连接频谱分析仪输入端，频谱分析仪的输出端接计算机。2、一种权利要求1所述的诊断辐射EMI机理的实验台进行诊断辐射EMI机理的简易方法，其步骤是：第一步：将被测电路放置于诊断辐射EMI机理的实验台的工作台台面上；第二步：将被测电路平面区域划分为若干辐射干扰单元nij；第三步：辐射干扰单元nij辐射干扰初测，即：将频谱分析仪的扫描频段调至全频扫描，将电场探头连接至频谱分析仪的输入端，依次对各个辐射干扰单元nij进行测量，找到各辐射干扰单元nij的频谱变化明显的频段，并将这些频段下限值的最小值作为辐射电场精测频段的下限值，将这些频段上限制的...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，褚家美，颜伟，李世锦，罗永超，
申请(专利权)人：南京师范大学，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]