一种测试方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种测试方法，包括：被测设备（ＤＵＴ）获取来自自动测试设备（ＡＴＥ）的测试程序，根据所述测试程序进行初始化；所述ＤＵＴ接收测试信号，根据所述测试信号进行测试，并输出测试结果；所述ＡＴＥ读取所述测试结果，并根据所述测试结果确定所述ＤＵＴ是否符合要求。本发明专利技术同时公开了一种测试系统。应用本发明专利技术所述的方法和系统，能降低测试成本和提高故障覆盖率，且易于实现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子技术，特别涉及一种芯片测试方法和系统。
技术介绍
低成本、小面积、高频高速以及生产周期短等特点使得系统级封装(SIP，System in a Packet)的需求量日益增大，逐渐成为一种主流的产品封装形式。这里所提到的SIP，是指将多种功能芯片集成在一个封装内，从而实现一个基本完整的功能。为了保证产品质量，需要对封装后的SIP进行测试。目前，各厂家的测试方式基本都是保密的，已知的测试方式主要有以下两种：将SIP内的各芯片分离测试以及只进行连接性和漏电流的测试。但这两种测试方式在实际应用中均会存在一定的问题，比如：对于第一种测试方式，会增加极其复杂的射频(RF，Radio Frequency)测试(SIP内通常包括一个用于处理射频信号的芯片，该芯片的测试对于测试设备以及测试环境等的要求非常高，实现过程非常复杂)，难于实现，而且会增加封装引脚(pin)数，从而增加封装成本；对于第二种测试方式，虽然不会存在上述问题，但由于故障覆盖率过低，所以很容易将坏片提供给客户。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种测试方法，能够降低成本和提高故障覆盖率，且易于实现。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试方法，其特征在于，该方法包括：　被测设备ＤＵＴ获取来自自动测试设备ＡＴＥ的测试程序，根据所述测试程序进行初始化；　所述ＤＵＴ接收测试信号，根据所述测试信号进行测试，并输出测试结果；　所述ＡＴＥ读取所述测试结果，并根 据所述测试结果确定所述ＤＵＴ是否符合要求。

【技术特征摘要】
1、一种测试方法，其特征在于，该方法包括：被测设备DUT获取来自自动测试设备ATE的测试程序，根据所述测试程序进行初始化；所述DUT接收测试信号，根据所述测试信号进行测试，并输出测试结果；所述ATE读取所述测试结果，并根据所述测试结果确定所述DUT是否符合要求。2、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述DUT获取来自ATE的测试程序包括：所述ATE将所述测试程序以施加模式force pattern发送到所述DUT的端口上；当所述DUT上电后，读取所述端口上的测试程序。3、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述DUT接收测试信号包括：当所述DUT的上电时间达到第一预定时间后，所述ATE向射频源RFSource发送一触发信号；所述RF Source接收到所述触发信号后，向所述DUT发送包括4个以上时隙的RF信号；或者，当所述DUT的上电时间达到第一预定时间后，所述ATE向所述DUT发送包括4个以上时隙的RF信号。4、根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试信号进行测试，并输出测试结果包括：所述DUT将接收到的RF信号进行下变频和模/数转换处理，并根据处理后的信号进行同步，如果同步成功，则进一步对所述处理后的信号进行解码和纠错处理，并输出同步以及纠错结果。5、根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述输出同步以及纠错结果包括：通过输出预定的高电平、低电平或波形，来表示所述同步以及纠错结果。6、根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述DUT为系统级封装SIP时，所述通过输出预定的高电平、低电平或波形，来表示所述同步以及纠错结果包括：当同步成功后，所述DUT将自身的P3_1引脚由高电平转换为低电平；当所述解码和纠错过程完成后，所述DUT查询自身的纠错寄存器中记录的纠错次数是否为0，如果是，则将自身的P3_4引脚由高电平转换为低电平。7、根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述ATE读取测试结果，并根据所述测试结果确定所述DUT是否符合要求包括：当所述DUT的上电时间达到第二预定时间后，所述ATE读取所述DUT的P3_1和P3_4引脚上的电平值，如果均为低电平，则确定所述DUT符合要求，否则，确定所述DUT不符合要求。8、根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第一预定时间为110ms，所述第二预定时间为340ms。9、根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，当所述测试程序中携带有循环冗余校验码CRC时，所述DUT根据所述测试程序进行初始化之前，进一步包括：根据所述CRC对所述测试程序进行校验，以确定所述测试程序是否正确获取，如果是，则根据所述测试程序进行初始化。10、根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，当所述测试程序中携带有关于所述DUT中的存储器的内建自测程序BIST时，所述根据所述测试信号进行测试包括：根据所述BIST，测试所述存储器是否符合要求。11、一种测试系统，其特征在于，包括：被测设备DUT和自动测试设备ATE；所述DUT，用于获取来自所述ATE的测试程序，根据所述测试程序进行初始化，并根据接收到的测试信号进行测试，输出测试结果；所述ATE，用于为所述DUT提供测试程序，并读取所述DUT输出的测试结果，根据所述测试结果确定所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘永元，苏占峰，王西强，杨浴光，张辉，张炎，
申请(专利权)人：北京创毅视讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]