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小型数字化比相测量装置制造方法及图纸

技术编号:2645283 阅读:200 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种小型数字化比相测量装置,它包括DDS分频处理模块,DDS分频处理模块处理的被测信号和参考时钟信号连接到相位差采集器,相位差采集器信号连接到微处理器,微处理器比相后信号输入到积分电路及A/D模块。本装置采用片内集成有A/D模块的LPC930系列单片机,以及现行比较成熟的DDS技术构建数字化比相测量装置。LPC930系列单片机是8位MCU,6倍于普通80C51单片机处理速度,而目前比较成熟的数字化DDS频率信合成处理技术使得输出信号与输入信号具有良好的信噪比。在满足比相测量精度的基础上,拓宽了被测信号的频率测量范围,并使整个测量装置得以小型数字化,在性能及价格上满足实际测量的需求。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种小型数字化比相测量装置,它包括DDS分频处理模块,其特征是,DDS分频处理模块处理的被测信号和参考时钟信号连接到相位差采集器,相位差采集器信号连接到微处理器,微处理器比相后信号输入到积分电路及A/D模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:雷海东候群钱同惠张霞操长茂李建民李明涛叶锋漆为民王中明
申请(专利权)人:江汉大学
类型:实用新型
国别省市:83[中国|武汉]

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